【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电路检测，尤其涉及一种y电容检测方法、终端、检测系统及介质。
技术介绍
1、y电容，是指电容的一端连接到电力线路，另一端连接到地线(地球)，形成类似于英文字母“y”的电路配置。电动汽车上的y电容有2种存在形式：一种是人为主动设计的安规电容，布置于正/负极与电平台之间，用于改善部件及整车的emc性能，一般成对出现；另外一种存在形式是部件及整车由于自身结构特性被动形成的寄生电容，包括线缆与接地屏蔽层之间形成的杂散电容以及部件金属壳体之间形成的结构电容，造成非预期的影响。
2、无论是寄生电容还是电路板上的安规y电容，都会在电路中产生一定的漏电流，对电路安全造成影响，因此需要对电路整体的等效y电容进行检测。现有的检测方法，通常只考虑了电路本身的特性，未考虑实际电路使用过程中，电路中元件老化、工况变化等因素造成的影响，导致对等效y电容的检测不准确。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术提供了一种y电容检测方法、终端、检测系统及介质，旨在解决现有技术中对等效y电容的检测不准确的问题。
2、本专利技术实施例的第一方面提供了一种y电容检测方法，包括：
3、根据待测电路的健康状况、预设工况的运行参数以及老化特性，确定待测电路在预设工况下的电路调整参数；
4、根据电路调整参数，调整预先建立的等效电路模型；等效电路模型根据寄生参数确定；
5、确定调整后的等效电路模型在预设工况下的等效y电容，得到y电容检测结果。
6、
7、计算模块，用于根据待测电路的健康状况、预设工况的运行参数以及老化特性，确定待测电路在预设工况下的电路调整参数；
8、调整模块，用于根据电路调整参数，调整预先建立的等效电路模型；等效电路模型根据寄生参数确定；
9、检测模块，用于确定调整后的等效电路模型在预设工况下的等效y电容，得到y电容检测结果。
10、本专利技术实施例的第三方面提供了一种终端，包括存储器、处理器以及存储在存储器中并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现如上第一方面的y电容检测方法的步骤。
11、本专利技术实施例的第四方面提供了一种检测系统，包括：阻抗分析仪以及如上第三方面的终端。
12、本专利技术实施例的第五方面提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上第一方面的y电容检测方法的步骤。
13、本专利技术实施例提供的y电容检测方法、终端、检测系统及介质，根据待测电路的健康状况、预设工况的运行参数以及老化特性，确定待测电路在预设工况下的电路调整参数；根据电路调整参数，调整预先建立的等效电路模型；等效电路模型根据寄生参数确定；确定调整后的等效电路模型在预设工况下的等效y电容，得到y电容检测结果。通过考虑待测电路的健康状况、预设工况的运行参数以及老化特性，制定相应的电路调整参数，对等效电路模型进行调整，从而提高等效电路模型对实际电路的描述准确性，以提高y电容检测的准确度。
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1.一种Y电容检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的Y电容检测方法，其特征在于，每个寄生参数对应一个电路调整参数；根据待测电路的健康状况、预设工况的运行参数以及老化特性，确定待测电路在预设工况下的电路调整参数，包括：
3.根据权利要求2所述的Y电容检测方法，其特征在于，根据所述电路调整参数，调整等效电路模型，包括：
4.根据权利要求3所述的Y电容检测方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的Y电容检测方法，其特征在于，所述根据待测电路的健康状况、预设工况的运行参数以及老化特性，确定待测电路在预设工况下的电路调整参数，包括：
6.根据权利要求5所述的Y电容检测方法，其特征在于，每个寄生参数对应一个电路调整参数；根据所述标准值、待测电路的健康状况、预设工况的运行参数以及老化特性，确定待测电路在预设工况下的电路调整参数，包括：
7.根据权利要求1-6任一项所述的Y电容检测方法，其特征在于，在得到Y电容检测结果之后，所述方法还包括：
8.一种终端，包括存储器、处理
9.一种检测系统，其特征在于，包括：阻抗分析仪以及如上权利要求8所述的终端。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上的权利要求1至7中任一项所述Y电容检测方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种y电容检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的y电容检测方法，其特征在于，每个寄生参数对应一个电路调整参数；根据待测电路的健康状况、预设工况的运行参数以及老化特性，确定待测电路在预设工况下的电路调整参数，包括：
3.根据权利要求2所述的y电容检测方法，其特征在于，根据所述电路调整参数，调整等效电路模型，包括：
4.根据权利要求3所述的y电容检测方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的y电容检测方法，其特征在于，所述根据待测电路的健康状况、预设工况的运行参数以及老化特性，确定待测电路在预设工况下的电路调整参数，包括：
6.根据权利要求5所述的y电容检测方法，其特征在于，每个寄生参数对应一个电路调整参...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨亚函，高峰，王晓燕，韩朝辉，
申请(专利权)人：邯郸市奥能电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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