【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电容测量，尤其涉及一种电容测量装置的控制方法、控制器及测量设备。
技术介绍
1、随着电子产业的不断发展，各种各样的电子设备越来越多，电子设备中几乎都有贴片电容。贴片电容具有去耦、储能、滤波等作用，应用广泛，在电子设备中不可或缺。
2、多数企业在采购贴片电容之后，一般会进行入库检测，以确定入库品为合格品，不合格的产品进行退换或者标记次品，以保证在生产电子设备时应用的贴片电容为合格品。
3、然而，现有入库检测大多是通过人工测试筛选，耗时长、成本高且检测效率低，增加了次品入库的概率。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了一种电容测量装置的控制方法、控制器及测量设备，以解决现有贴片电容在入库时通过人工检测，导致耗时长、检测效率低的问题。
2、第一方面，本申请实施例提供了一种电容测量装置的控制方法，电容测量装置包括第一测试模块、第二测试模块、第一托盘和第二托盘；第一测试模块，输入端用于接收测试托盘，输出端分别与第一托盘和第二测试模块的输入端连接；第二测试模块的输出端分别与第一托盘和第二托盘连接；其中，测试托盘中放有预设数量的贴片电容；
3、控制方法包括：
4、控制第一测试模块对测试托盘中的所有贴片电容进行第一次容量测试，并将第一类电容输送至第一托盘，且将第二类电容输送至第二测试模块，第一类电容为判定为正品的贴片电容，第二类电容为判定为疑似次品的电容；其中，将标准容量补偿值作为第一次容量测试的补偿容量；
5、控制
6、在一种可能的实现方式中，控制第一测试模块对测试托盘中的所有贴片电容进行第一次容量测试，包括：
7、测试当前环境温度下各个贴片电容的第一容量；
8、根据当前环境温度下对应的标准容量补偿值对各个贴片电容的第一容量进行容量补偿，确定各个贴片电容在标准环境温度下的第二容量；
9、根据各个贴片电容的第二容量将各个贴片电容划分为第一类电容或者第二类电容。
10、在一种可能的实现方式中，第一测试模块中预存有各个贴片电容的标准容量，根据各个贴片电容的第二容量将各个贴片电容划分为第一类电容或者第二类电容，包括：
11、对于每个贴片电容，计算该贴片电容第二容量和该贴片电容标准容量的第一差值绝对值；
12、若该第一差值绝对值小于或者等于第一预设差值，则判定该贴片容为第一类电容；
13、若该第一差值绝对值大于第一预设差值，则判定该贴片电容为第二类电容。
14、在一种可能的实现方式中，控制第二测试模块对所有的第二类电容进行第二次容量测试，包括：
15、从第二类电容中所有的贴片电容选择一个作为目标贴片电容；
16、测量当前环境温度下目标贴片电容的第二容量；
17、将当前环境温度变化至标准环境温度，并测量标准环境温度下目标贴片电容的第三容量；
18、计算第三容量和第二容量的差值，作为第二类电容中所有贴片电容的实际容量补偿值；
19、根据实际容量补偿值对第二类电容中其他贴片电容进行容量补偿，并确定第二类电容中所有贴片电容在标准环境温度下的第三容量；
20、根据各个贴片电容的第三容量将各个贴片电容划分为第一类电容或者第三类电容。
21、在一种可能的实现方式中，第二测试模块中预存有各个贴片电容的标准容量，根据各个贴片电容的第三容量将各个贴片电容划分为第一类电容或者第三类电容，包括：
22、对于第二类电容中的每个贴片电容，计算该贴片电容第三容量和该贴片电容标准容量的第二差值绝对值；
23、若该第二差值绝对值小于或者等于第二预设差值，则判定该贴片容为第一类电容；
24、若该第二差值绝对值大于第二预设差值，则判定该贴片电容为第三类电容。
25、在一种可能的实现方式中，在控制第一测试模块对测试托盘中的所有贴片电容进行第一次容量测试之前，控制方法还包括：
26、在收到检测信号时，确定检测信号的信号类型，信号类型包括第一检测信号和第二检测信号；
27、在检测信号为第一检测信号时，判定测试托盘中的贴片电容为小容量电容，小容量电容为容量小于预设容量的电容；
28、在检测信号为第二检测信号时，判定测试托盘中的贴片电容为大容量电容，大容量电容为容量大于或者等于预设容量的电容。
29、第二方面，本申请实施例提供了一种电容测量装置的控制装置，电容测量装置包括第一测试模块、第二测试模块、第一托盘和第二托盘；第一测试模块，输入端用于接收测试托盘，输出端分别与第一托盘和第二测试模块的输入端连接；第二测试模块的输出端分别与第一托盘和第二托盘连接；其中，测试托盘中放有预设数量的贴片电容；
30、控制装置，包括：
31、第一控制模块，用于控制第一测试模块对测试托盘中的所有贴片电容进行第一次容量测试，并将第一类电容输送至第一托盘，且将第二类电容输送至第二测试模块，第一类电容为判定为正品的贴片电容，第二类电容为判定为疑似次品的电容；其中，将标准容量补偿值作为第一次容量测试的补偿容量；
32、第二控制模块，用于控制第二测试模块对所有的第二类电容进行第二次容量测试，并将第一类电容输送至第一托盘，且将第三类电容输送至第二托盘，第三类电容为判定为次品的电容；其中，将各个第二类电容的实际容量补偿值作为第二次容量测试的补偿容量。
33、第三方面，本申请实施例提供了一种控制器，包括存储器和处理器，存储器中存储有可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现如上第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式电容测量装置的控制方法的步骤。
34、第四方面，本申请实施例提供了一种测量设备，包括如上第三方面的控制器。
35、第五方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式电容测量装置的控制方法的步骤。
36、本申请提供一种电容测量装置的控制方法、控制器及测量设备，通过控制第一测试模块对待测试的贴片电容进行一次筛选，将合格品放入第一托盘，将疑似次品输送至第二测试模块进行二次自动筛选。整个过程无需人工手动测试，可以极大提高贴片电容的入库检测效率，且降低次品入库的概率。
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1.一种电容测量装置的控制方法，其特征在于，所述电容测量装置包括第一测试模块、第二测试模块、第一托盘和第二托盘；所述第一测试模块，输入端用于接收测试托盘，输出端分别与第一托盘和第二测试模块的输入端连接；所述第二测试模块的输出端分别与所述第一托盘和所述第二托盘连接；其中，所述测试托盘中放有预设数量的贴片电容；
2.根据权利要求1所述的电容测量装置的控制方法，其特征在于，所述控制所述第一测试模块对测试托盘中的所有贴片电容进行第一次容量测试，包括：
3.根据权利要求2所述的电容测量装置的控制方法，其特征在于，所述第一测试模块中预存有各个贴片电容的标准容量，所述根据各个贴片电容的第二容量将各个贴片电容划分为第一类电容或者第二类电容，包括：
4.根据权利要求1所述的电容测量装置的控制方法，其特征在于，所述控制所述第二测试模块对所有的第二类电容进行第二次容量测试，包括：
5.根据权利要求1所述的电容测量装置的控制方法，其特征在于，所述第二测试模块中预存有各个贴片电容的标准容量，所述根据各个贴片电容的第三容量将各个贴片电容划分为第一类电容或者第三
6.根据权利要求1至5任一项所述的电容测量装置的控制方法，在控制所述第一测试模块对测试托盘中的所有贴片电容进行第一次容量测试之前，所述控制方法还包括：
7.一种电容测量装置的控制装置，其特征在于，所述电容测量装置包括第一测试模块、第二测试模块、第一托盘和第二托盘；所述第一测试模块，输入端用于接收测试托盘，输出端分别与第一托盘和第二测试模块的输入端连接；所述第二测试模块的输出端分别与所述第一托盘和所述第二托盘连接；其中，所述测试托盘中放有预设数量的贴片电容；
8.一种控制器，包括存储器和处理器，存储器中存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上的权利要求1至6中任一项所述电容测量装置的控制方法的步骤。
9.一种测量设备，其特征在于，包括如权利要求8所述的控制器。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如上的权利要求1至6中任一项所述电容测量装置的控制方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种电容测量装置的控制方法，其特征在于，所述电容测量装置包括第一测试模块、第二测试模块、第一托盘和第二托盘；所述第一测试模块，输入端用于接收测试托盘，输出端分别与第一托盘和第二测试模块的输入端连接；所述第二测试模块的输出端分别与所述第一托盘和所述第二托盘连接；其中，所述测试托盘中放有预设数量的贴片电容；
2.根据权利要求1所述的电容测量装置的控制方法，其特征在于，所述控制所述第一测试模块对测试托盘中的所有贴片电容进行第一次容量测试，包括：
3.根据权利要求2所述的电容测量装置的控制方法，其特征在于，所述第一测试模块中预存有各个贴片电容的标准容量，所述根据各个贴片电容的第二容量将各个贴片电容划分为第一类电容或者第二类电容，包括：
4.根据权利要求1所述的电容测量装置的控制方法，其特征在于，所述控制所述第二测试模块对所有的第二类电容进行第二次容量测试，包括：
5.根据权利要求1所述的电容测量装置的控制方法，其特征在于，所述第二测试模块中预存有各个贴片电容的标准容量，所述根据各个贴片电容的第三容量将各个贴片电容划分为第一类...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨亚函，高峰，王晓燕，韩朝辉，
申请(专利权)人：邯郸市奥能电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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