【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及太赫兹谱，尤其是涉及一种反射式角分辨太赫兹发射谱测量装置及方法。
技术介绍
1、太赫兹波段处于微波和红外之间，覆盖了许多低能激发态的能量尺度，在超快动力学领域应用广泛。另外由于其低能量，生物友好性，以及强穿透能力，在成像、传感、安全等领域的应用十分出色。在飞秒激光激发下，一些材料能够释放太赫兹波辐射，对这种太赫兹波性质的研究可以用于研究物质的一些特性，例如超快光电流、非线性光电响应等，除此以外一些物质具有可以被激发出很强的太赫兹辐射，可以用作太赫兹源。而要对这些辐射出的太赫兹进行研究的工具，即是太赫兹发射谱仪。
2、目前基于飞秒激光的太赫兹发射测量装置是基于光学方法，需要将飞秒激光器输出的光脉冲分为两束，分别用于激发被测样品产生太赫兹和探测太赫兹信号。由于探测原理的限制，在测量中，这两束光的光程需要被严格控制。该实验装置的测量方式通常有反射式和透射式，两种测量方式的选择取决于材料本身的太赫兹透射率。在研究一些透射率较低的材料，反射式太赫兹发射实验装置是必要的选择。
3、在反射式太赫兹发射信号测量时，...
【技术保护点】
1.一种反射式角分辨太赫兹发射谱测量装置，包括架体，其特征在于：架体内设置有平面反射镜和离轴抛物面镜一，离轴抛物面镜一纵向前侧设置有位移台一，位移台一右侧设置有斩波器，斩波器纵向前侧设置有半透半反镜，离轴抛物面镜一左侧设置有样品架和离轴抛物面镜组，离轴抛物面镜组设置在样品架后侧，离轴抛物镜面组左侧设置有回反射镜，离轴抛物镜面组后侧设置有探测晶体，探测晶体右侧依次设置有波片、沃拉斯顿棱镜和平衡探测器。
2.根据权利要求1所述的一种反射式角分辨太赫兹发射谱测量装置，其特征在于：离轴抛物面镜组设置有两个，分别为离轴抛物面镜二和离轴抛物面镜三，离轴抛物面镜二和离轴...
【技术特征摘要】
1.一种反射式角分辨太赫兹发射谱测量装置，包括架体，其特征在于：架体内设置有平面反射镜和离轴抛物面镜一，离轴抛物面镜一纵向前侧设置有位移台一，位移台一右侧设置有斩波器，斩波器纵向前侧设置有半透半反镜，离轴抛物面镜一左侧设置有样品架和离轴抛物面镜组，离轴抛物面镜组设置在样品架后侧，离轴抛物镜面组左侧设置有回反射镜，离轴抛物镜面组后侧设置有探测晶体，探测晶体右侧依次设置有波片、沃拉斯顿棱镜和平衡探测器。
2.根据权利要求1所述的一种反射式角分辨太赫兹发射谱测量装置，其特征在于：离轴抛物面镜组设置有两个，分别为离轴抛物面镜二和离轴抛物面镜三，离轴抛物面镜二和离轴抛物面镜三平行相对设置。
3.根据权利要求2所述的一种反射式角分辨太赫兹发射谱测量装置，其特征在于：样品架设置在离轴抛物面镜一和离轴抛物面镜二焦点处，样本架下方设置有旋转位移台。
4.根据权利要求3所述的一种反射式角分辨太赫兹发射谱测量装置，其特征在于：平面反射镜设置有六个，分别为平面反射镜一、平面反射镜二、平面反射镜三、平面反射镜四、平面反射镜五和平面反射镜六。
5.根据权利要求4所述的一种反射式角分辨太赫兹发射谱测量装置，其特征在于：平面反射镜一设置在半透半反...
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