【技术实现步骤摘要】
本申请涉及变形测量,尤其涉及小视场下非接触式变形测量。
技术介绍
1、一直以来,对固体材料的变形情况进行准确测量都是相对困难的任务。在工程领域中,常用位移与应变来描述材料的变形情况。传统的接触式应变测量方法,如应变片、引伸计、传感器等,通过在变形过程中接触被测试样从而得到精确的应变值。然而,这种看似可靠的应变测量方法存在着明显的弊端:操作繁杂、易受环境因素的影响、无法测量范围性的位移变化等等;种种问题导致传统的变形测量方法无法满足在日渐复杂的测试环境中工程所需的测量要求。近40年来,随着机器视觉及各相关学科的发展,更贴合实际的应用环境、性能更优越的非接触式应变测量方法逐渐进入大众的视野。数字图像相关法(digitalimage correlation,dic)是一种经典的非接触式变形测量方法,凭借着操作简便、适应性强、计算迅速、测量准确、抗干扰能力强等优势已然成为固体材料变形测量方法当中的重要一员。时至今日,dic已经作为一种十分有效的光学测量手段,广泛应用于材料性能测试、生物组织力学性能研究等领域。
2、dic又称数字散斑
...【技术保护点】
1.一种小视场下基于2D-DIC的平面细长区域全场变形测量方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的一种小视场下基于2D-DIC的平面细长区域全场变形测量方法,其特征在于,步骤2中的所述拼接,具体包括:
3.根据权利要求1所述的一种小视场下基于2D-DIC的平面细长区域全场变形测量方法,其特征在于,步骤2中的所述融合,包括:
4.根据权利要求1所述的一种小视场下基于2D-DIC的平面细长区域全场变形测量方法,其特征在于,步骤4中的预实验,具体包括:在保持测试试样以及静态载荷不变的前提下,计算出试样同一变形状态之间的全
...【技术特征摘要】
1.一种小视场下基于2d-dic的平面细长区域全场变形测量方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的一种小视场下基于2d-dic的平面细长区域全场变形测量方法,其特征在于,步骤2中的所述拼接,具体包括:
3.根据权利要求1所述的一种小视场下基于2d-dic的平面细长区域全场变形测量方法,其特征在于,步骤2中的所述融合,包括:
4.根据权利要求1所述的一种小视场下基于2d-dic的平面细长区域全场变形测量方法,其特征在于,步骤4中的预实验,具体包括:在保持测试试样以及静态载荷不变的前提下,计算出试样同一变形状态之间的全场位移u、v,这两组位移场具体为硬件设备、实验操作以及算法对dic测量结果产生的静态误差。
5.根据权利要求1所述的一种小视场下基于2d-dic的平面细长区域全场变形测量方法,其特征在于,步骤5中的所...
【专利技术属性】
技术研发人员:高山,陈泰铮,毛承泷,王桐,陈立伟,崔颖,王超,姜晶,牛夷,
申请(专利权)人:哈尔滨工程大学,
类型:发明
国别省市:
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