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小视场下基于2D‑DIC的平面细长区域全场变形测量方法和装置，属于变形测量技术领域，解决变形测量精度低、成本较高以及系统复杂问题。本发明的方法包括：在视场受限的环境中使用虚拟相机阵列采集平面细长区域的全景图像；通过双反射镜平面外运动补偿、系...
该专利属于哈尔滨工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨工程大学授权不得商用。

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