一种用于精确定位分析钙钛矿薄膜缺陷的装置制造方法及图纸

技术编号:41111994 阅读:24 留言:0更新日期:2024-04-25 14:04
本技术提出了一种用于精确定位分析钙钛矿薄膜缺陷的装置,包括机台,所述机台上平行设置有两组第一模组,两组所述第一模组上横跨设置有第二模组,所述第二模组的滑块上连接有显微镜,所述显微镜镜头向下设置,所述显微镜一侧设置有激光器,所述激光器的激光头向下,所述激光器与所述显微镜之间距离小于1厘米,根据现有检测设备检测出的缺陷,通过坐标连动系统上的坐标位置,激光光源精确移动到缺陷所在的区域位置后,通过显微镜放大缺陷,在缺陷四周通过激光烧蚀形成相应的形状,并裁切成小块,通过SEM、TRPL、XRD等其他分析辅助设备进一步分析,可进行更微观层面的分析研究,对大面积钙钛矿电池组件的效率提升具有很重要的作用。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光伏产品检测领域,尤其涉及用于精确定位分析钙钛矿薄膜缺陷的装置


技术介绍

1、目前,越来越多的钙钛矿太阳能研究者和企业致力于将钙钛矿太阳能电池产业化推广应用。钙钛矿太阳能电池实验室尺寸大小规格的电池的光电转换效率已经达到25.7%,超过了多晶硅电池的实验室效率,离单晶硅的实验室效率26.5%相差不大。这给钙钛矿研究工作者很大的信心将这一类电池推向产业化。

2、在制作大面积的钙钛矿组件时,不仅需要保持钙钛矿薄膜和其他不同功能层的质量和均一性,同时还需要通过划线的方式把组件分成若干个子电池串联而成,在膜层制备的过程中不可避免的会出现由于局部的不均匀和刻线形成的短路点等不同种类的缺陷问题,这种现象在大面积钙钛矿电池组件中更加明显。这种膜层不均匀性和短路点的缺陷问题可通过el/pl或者红外成像等一些检测手段观察到,但是要想通过其他技术手段(sem、3d轮廓仪、光学显微镜等)对缺陷的形成进行更微观尺度的分析面临着一些困难。现阶段而言,根据缺陷在el/pl图像上的位置来判断在组件上的实际位置,定位精度不够,主要表现为:>

3、el/p本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于精确定位分析钙钛矿薄膜缺陷的装置,其特征在于,包括机台,所述机台上平行设置有两组第一模组,两组所述第一模组上横跨设置有第二模组,所述第二模组的滑块上连接有显微镜,所述显微镜镜头向下设置,所述显微镜一侧设置有激光器,所述激光器的激光头向下,所述激光器与所述显微镜之间距离小于1厘米。

2.根据权利要求1所述的用于精确定位分析钙钛矿薄膜缺陷的装置,其特征在于,所述显微镜上设置有安装板,所述安装板锁紧于滑块上。

3.根据权利要求1所述的用于精确定位分析钙钛矿薄膜缺陷的装置,其特征在于,所述激光器为绿光点光源。

4.根据权利要求2所述的用于精确定位分...

【技术特征摘要】

1.一种用于精确定位分析钙钛矿薄膜缺陷的装置,其特征在于,包括机台,所述机台上平行设置有两组第一模组,两组所述第一模组上横跨设置有第二模组,所述第二模组的滑块上连接有显微镜,所述显微镜镜头向下设置,所述显微镜一侧设置有激光器,所述激光器的激光头向下,所述激光器与所述显微镜之间距离小于1厘米。

2.根据权利要求1所述的用于精确定位分析钙钛矿薄膜缺陷的装置,其特征在于,所述显微镜上设置有安装板,所述安装板锁紧于滑块上。

3.根据权利要求1所述的用于精确定位分析钙钛矿薄膜缺陷的装置,其特征在于,所述激光器为绿光点光源。

4.根据权利要求2所述的用于精确定位分析钙钛矿薄膜缺陷的装置,其特征在于,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄志锋周超成张海銮陈伟中田清勇范斌
申请(专利权)人:昆山协鑫光电材料有限公司
类型:新型
国别省市:

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