【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光学相关,特别涉及一种消偏振分光片及光学显示设备及光学测量设备。
技术介绍
1、分光片广泛应用于光电仪器、激光系统、光电显示系统和光存储等领域,通常情况下偏振分光片常常倾斜使用,把入射光分束成反射光和透过的折射光两部分。当光线斜入射到光学薄膜时,会产生偏振效应,使得反射光中s偏振为主,折射光中p偏振为主,人们常利用这种特性来设计和制造偏振分光器等光学偏振器件。但在另一些光学系统应用中又希望能够消除偏振效应。因此存在一种消偏振分光片,能够尽量地消除偏振效应,尽可能地使反射光及折射光保持入射光的偏振态,以用于光学测量、成像等领域上,在现有技术中,消偏振分光片的偏振效应还是比较大,会导致存在较大的测量误差,其次,s偏光、p偏光分离大,使得出光效率低,光线的透过率低,导致成像不清晰。
技术实现思路
1、本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本技术提出一种消偏振分光片,能够提高分光片的消偏振效果、提高出光效率及光线透过率。
2、根据本技术的第一方面实施例的消偏振
...【技术保护点】
1.消偏振分光片,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的消偏振分光片,其特征在于,所述反射膜层(210)为金属银涂层(211)。
3.根据权利要求1所述的消偏振分光片,其特征在于,所述消偏振膜层组(220)包括三个涂层,自上往下依次为所述五氧化二钽涂层(221)、所述二氧化硅涂层(222)及所述五氧化二钽涂层(221),或者自上往下依次为所述二氧化硅涂层(222)、所述五氧化二钽涂层(221)及所述二氧化硅涂层(222)。
4.根据权利要求2所述的消偏振分光片,其特征在于,所述消偏振分光膜层组的厚度为350nm。
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【技术特征摘要】
1.消偏振分光片,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的消偏振分光片,其特征在于,所述反射膜层(210)为金属银涂层(211)。
3.根据权利要求1所述的消偏振分光片,其特征在于,所述消偏振膜层组(220)包括三个涂层,自上往下依次为所述五氧化二钽涂层(221)、所述二氧化硅涂层(222)及所述五氧化二钽涂层(221),或者自上往下依次为所述二氧化硅涂层(222)、所述五氧化二钽涂层(221)及所述二氧化硅涂层(222)。
4.根据权利要求2所述的消偏振分光片,其特征在于,所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:闪雷雷,朱小康,
申请(专利权)人:大鼎光学薄膜中山有限公司,
类型:新型
国别省市:
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