【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学测量，涉及波前复原方法，尤其涉及基于量子弱测量的波前复原方法。
技术介绍
1、波前传感技术是现代光学测量的主要手段之一，通过对波前的测量，可被用于生物观测、自适应光学、激光调控、表面检测等领域，每个领域的被测波前类型各不相同，但形状自由和大相位梯度、大口径的波前的测量往往是领域重点、也是难点。
2、波前传感已经发展出了很多方法，包括剪切干涉仪、哈特曼波前传感器以及金字塔棱镜波前传感器等。专利申请号为98112210.8的申请文件公开了一种哈特曼波前传感器，由于较好的光效率利用率，抗噪能力强等优点被广泛使用。该方案利用微阵列透镜将入射波前分为不同的子孔径，在这些阵列透镜的焦面测量光束的质心偏移量得到波前的局部斜率，从而复原待测波前。但哈特曼波前传感技术存在两个内禀缺点：(1)测量口径受到了微透镜的数量的限制，想提高测量范围在微透镜口径不变的情况下只能通过增加阵列透镜的数量；(2)分辨率受到透镜口径的影响，要实现高分辨率的测量需要减小微透镜的口径大小，而一个实际的微透镜难以达到毫米甚至微米级。
3、...
【技术保护点】
1.一种基于量子弱测量的波前复原方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的基于量子弱测量的波前复原方法，其特征在于，步骤S1中，基于量子弱测量的光强测量装置具体包括沿依次设置的激光器、针孔滤波器、第一透镜、待测物体、第一偏振片、双折射晶体、第二偏振片、第二透镜和光探测器。
3.根据权利要求2所述的基于量子弱测量的波前复原方法，其特征在于，所述针孔滤波器包括第三透镜和针孔元件。
4.根据权利要求2所述的基于量子弱测量的波前复原方法，其特征在于，所述光探测器为光电耦合器CCD或CMOS。
5.根据权利要求1所...
【技术特征摘要】
1.一种基于量子弱测量的波前复原方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的基于量子弱测量的波前复原方法，其特征在于，步骤s1中，基于量子弱测量的光强测量装置具体包括沿依次设置的激光器、针孔滤波器、第一透镜、待测物体、第一偏振片、双折射晶体、第二偏振片、第二透镜和光探测器。
3.根据权利要求2所述的基于量子弱测量的波前复原方法，其特征在于，所述针孔滤波器包括第三透镜和针孔元件。
...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。