物理验证分布式方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种物理验证分布式方法，包括：筛选出版图中的稀疏层，并将剩余的层定义为非稀疏层；对非稀疏层进行切分，得到多个分割块；检查每一层的约束规则，当约束规则为切分后的分割块的局部规则，则为该分割块增加临界保护区域，当约束规则为切分后的分割块的全局规则，在主机端建立各多边形的全局的连接关系，将分割后相互连通的分割块中的多边形赋予相同的唯一标识，再将该相同的唯一标识传递给分割块对应的客户端；各客户端执行相应的任务，并更新DP信息。本发明专利技术具有更好的线性度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路的，尤其涉及一种适用于物理验证的、基于版图面积划分以提高物理验证效率的分布式并行计算处理方法。

技术介绍

1、随着芯片规模的成倍增长，物理验证的计算量呈现出了成倍甚至指数式增长的趋势。一方面输入版图的数据量在大规模增长，仅28nm工艺下1平方毫米芯片包含的标准化几何图形(也称为多边形)的数目就已经超过2000万个。这导致了整个芯片数据大小能达到几百个g甚至上t级别。另一方面，设计规则的数目与复杂度也在随着工艺节点的更新而大幅提高。随着工艺节点的更新，设计规则的数目以约1.4倍的增速逐渐增加。达到28nm工艺节点时，设计规则的数目已经超过3000条，单条设计规则可达上百行，最终工厂的设计规则手册约有650页。这些增长都对验证工具的时间线性度提出了很高的要求。

2、传统基于单机模式完成开发的物理验证工具，所有的数据都只能在单个计算机上进行计算。但是单机性能有限，对于超大规模的设计，单机模式在内存与速度上都存在较大缺陷。首先，单机内存有限，超大规模集成电路所涉及的大量数据很容易达到其内存限制。其次，单机处理能力有限，就算采用当前本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种物理验证分布式方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的物理验证分布式方法，其特征在于，所述稀疏层通过以下步骤筛选得出：

3.如权利要求1所述的物理验证分布式方法，其特征在于，当非稀疏层的面积小于等于预设面积，则进行一维切分；否则进行二维切分，所述二维切分包括水平方向上的切分份数numX和竖直方向上的切分份数numY，所述二维切分得到的分割块的数量为numX*numY。

4.如权利要求3所述的物理验证分布式方法，其特征在于，所述二维切分采用以下切分方法当中的任意一种：

5.如权利要求4所述的物理验证分布式方法，其特征在于，根据...

【技术特征摘要】

1.一种物理验证分布式方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的物理验证分布式方法，其特征在于，所述稀疏层通过以下步骤筛选得出：

3.如权利要求1所述的物理验证分布式方法，其特征在于，当非稀疏层的面积小于等于预设面积，则进行一维切分；否则进行二维切分，所述二维切分包括水平方向上的切分份数numx和竖直方向上的切分份数numy，所述二维切分得到的分割块的数量为numx*numy。

4.如权利要求3所述的物理验证分布式方法，其特征在于，所述二维切分采用以下切分方法当中的任意一种：

5.如权利要求4所述的物理验证分布式方法，其特征在于，根据总顶点数numvertex、单机工作量singleworkload以及hvratio计算numx与numy，然后结合bbox按照面积进行均匀划分包括：

6.如权利要求4所述的物理验证分布式方法，其特征在于，根据总顶点数numvertex、单机...

【专利技术属性】
技术研发人员：周栩烽，谢鸿梅，李柏，陈杰，
申请(专利权)人：深圳国微芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：