【技术实现步骤摘要】
本申请属于电子元器件，尤其涉及一种电路板元器件缺陷检测方法、装置、终端及存储介质。
技术介绍
1、电路板(printed circuit board，pcb)是当今科技时代电子设备中不可或缺的部件。为保证电子设备能够稳定运行，需要对电路板的质量进行检测，即检测电路板是否存在缺陷，其中包括检测电路板中的元器件是否存在缺陷。
2、目前，常用自动化光学检测(automated optical inspection，aoi)技术对电路板元器件进行缺陷检测。aoi技术的实现需要大量负样本数据的支持，但是负样本数据的采集周期长，使得缺陷检测的检测准确率和检测效率大大降低。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了一种电路板元器件缺陷检测方法、装置、终端及存储介质，以解决现有技术中由于负样本数据的采集周期长，使得缺陷检测的检测准确率和检测效率大大降低的问题。
2、本申请实施例的第一方面提供了一种电路板元器件缺陷检测方法，包括：
3、获取第一电路板图像，所述第一电路板图像对应于待检测电路板，所述待检测电路板中包含多个待检测元器件；
4、对所述第一电路板图像进行内容提取，得到第一元器件信息；
5、确定与所述待检测电路板的相似度满足要求的参照电路板中的第二元器件信息；
6、基于所述第一元器件信息及所述第二元器件信息对所述待检测元器件进行缺陷检测，得到检测结果。
7、本申请实施例的第二方面提供了一种电路板元器件缺陷检测装置，
8、获取模块，用于获取第一电路板图像，所述第一电路板图像对应于待检测电路板，所述待检测电路板中包含多个待检测元器件；
9、信息提取模块，用于对所述第一电路板图像进行内容提取，得到第一元器件信息；
10、确定模块，用于确定与所述待检测电路板的相似度满足要求的参照电路板中的第二元器件信息；
11、检测模块，用于基于所述第一元器件信息及所述第二元器件信息对所述待检测元器件进行缺陷检测，得到检测结果。
12、本申请实施例的第三方面提供了一种终端，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述方法的步骤。
13、本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述方法的步骤。
14、本申请的第五方面提供了一种计算机程序产品，当所述计算机程序产品在终端上运行时，使得所述终端执行上述第一方面所述方法的步骤。
15、由上可见，本申请首先获取待检测电路板对应的第一电路板图像，待检测电路板中包含多个待检测元器件，第一电路板图像中也对应有多个待检测元器件的图像，然后对第一电路板图像进行内容提取，得到与多个待检测元器件对应的第一元器件信息。确定出与待检测电路板相似的参照电路板，参照电路板为待检测电路板可以参考对照的无缺陷电路板。获取参照电路板对应的第二元器件信息，基于第一元器件信息及第二元器件信息实现对待检测元器件的缺陷检测，得到检测结果。本申请不再使用负样本数据进行缺陷检测，而是选取与待检测电路板相似的无缺陷的参照电路板进行缺陷检测，即利用正样本进行缺陷检测，不再采集负样本数据，负样本数据采集周期长的问题迎刃而解。同时，在检测时，不是直接通过电路板进行比对，而是具体到各个元器件来进行缺陷检测，检测的准确率和效率也更高。
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1.一种电路板元器件缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述第一电路板图像进行内容提取，得到第一元器件信息，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定与所述待检测电路板的相似度满足要求的参照电路板中的第二元器件信息，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述电路板信息相似度计算结果，若所述第二电路板信息中包含多个与所述第一电路板信息的相似度最大且相似度值相同的目标电路板信息，则从多个所述目标电路板信息中确定指定电路板信息，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一元器件信息和所述第二元器件信息中均包含多个元器件信息，多个所述元器件信息指示的元器件类别有多种，所述基于所述第一元器件信息及所述第二元器件信息对所述待检测元器件进行缺陷检测，得到检测结果，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述将多个所述元器件信息相似度分别与各自类别对应的元器件信息相似度阈值进行比较，得到多个比较结果之后，还包括：
7.根
8.一种电路板元器件缺陷检测装置，其特征在于，包括：
9.一种终端，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种电路板元器件缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述第一电路板图像进行内容提取，得到第一元器件信息，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定与所述待检测电路板的相似度满足要求的参照电路板中的第二元器件信息，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述电路板信息相似度计算结果，若所述第二电路板信息中包含多个与所述第一电路板信息的相似度最大且相似度值相同的目标电路板信息，则从多个所述目标电路板信息中确定指定电路板信息，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一元器件信息和所述第二元器件信息中均包含多个元器件信息，多个所述元器件信息指示的元器件类别有多种，所述基于所述第一元器件信息及所述第...
【专利技术属性】
技术研发人员：花霖，于非，尹东富，蔡昊杰，韩笑，
申请(专利权)人：人工智能与数字经济广东省实验室深圳，
类型：发明
国别省市：
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