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本申请适用于电子元器件技术领域,提供一种电路板元器件缺陷检测方法、装置、终端及存储介质,其中方法包括:获取第一电路板图像,所述第一电路板图像对应于待检测电路板,所述待检测电路板中包含多个待检测元器件;对所述第一电路板图像进行内容提取,得到第...该专利属于人工智能与数字经济广东省实验室(深圳)所有,仅供学习研究参考,未经过人工智能与数字经济广东省实验室(深圳)授权不得商用。
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本申请适用于电子元器件技术领域,提供一种电路板元器件缺陷检测方法、装置、终端及存储介质,其中方法包括:获取第一电路板图像,所述第一电路板图像对应于待检测电路板,所述待检测电路板中包含多个待检测元器件;对所述第一电路板图像进行内容提取,得到第...