【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于图像检测，具体涉及一种基于红外高光谱分析的绝缘子材料污垢程度检测方法。
技术介绍
1、绝缘子用量大、种类多，广泛应用于输电线路、发电站、变电所，是电力系统重要组成部分。由于绝缘子直接暴露在空气中工作，表面不可避免会沉积污垢物。随着绝缘子表面污垢程度加重，或遇到空气湿度大的不利天气，绝缘子的绝缘性能会大大降低，在正常运行电压下也容易发生闪络事故。
2、因为积污问题是不可能解决的，只可以通过检测复合绝缘子材料性质及表面污垢程度来制定合理的清扫方案来避免事故的发生。为了满足检测和评估的迫切需求，国内外研究并尝试了等效盐密法、表面污染层法、紫外成像法和红外成像法，但在实际应用中均具有一定的局限性，等效盐密法与表面污染层法在检测时需要操作过程繁琐，易引入人工误差。紫外成像法和红外成像法以非接触式检测的优势，被广泛应用到预防污闪工作中，但在特殊情况下具有较大误差。
技术实现思路
1、鉴于以上存在的问题，本专利技术提供一种基于红外高光谱分析的绝缘子材料污垢程度检测方法。
...【技术保护点】
1.一种基于红外高光谱分析的绝缘子材料污垢程度检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的基于红外高光谱分析的绝缘子材料污垢程度检测方法，其特征在于，所述采集绝缘子材料红外高光谱图像包括：
3.如权利要求1所述的基于红外高光谱分析的绝缘子材料污垢程度检测方法，其特征在于，所述基于黑白图像校正技术对绝缘子红外高光谱图像进行包括去噪和分割的预处理包括：
4.如权利要求1所述的基于红外高光谱分析的绝缘子材料污垢程度检测方法，其特征在于，所述基于多元散射校正技术剔除所述高光谱图像中误差较大的波谱曲线包括：
5.如...
【技术特征摘要】
1.一种基于红外高光谱分析的绝缘子材料污垢程度检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的基于红外高光谱分析的绝缘子材料污垢程度检测方法，其特征在于，所述采集绝缘子材料红外高光谱图像包括：
3.如权利要求1所述的基于红外高光谱分析的绝缘子材料污垢程度检测方法，其特征在于，所述基于黑白图像校正技术对绝缘子红外高光...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙彦龙，陈鑫，胡鑫华，
申请(专利权)人：杭州当虹科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。