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本发明公开了一种基于红外高光谱分析的绝缘子材料污垢程度检测方法，包括以下步骤：采集绝缘子材料红外高光谱图像，基于黑白图像校正技术对绝缘子红外高光谱图像进行包括去噪和分割的预处理；基于多元散射校正技术剔除所述高光谱图像中误差较大的波谱曲线，利...
该专利属于杭州当虹科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州当虹科技股份有限公司授权不得商用。

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