一种电子元件测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电子元件测试装置及方法，属于电子元件测试技术领域，包括机架，机架的上方配置有上料台和传送带，上料台用于将待测元件转移至传送带，传送带配置有检测区，检测区配置有检测器和装夹组件，装夹组件包括定位槽体，定位槽体的一侧配置有检测口，检测口与检测器相对设置；定位槽体的另一侧配置有活动推杆，活动推杆的活动末端与检测口相对设置；活动推杆往返运作能够实现对待测元件的固定和释放；活动推杆的活动末端配置有缓冲件，用于与待测元件抵接。本发明专利技术通过活动推杆与缓冲件的配合实现对待测元件的稳固装夹，并且能够自动调整夹持力，避免对待测元件的损伤。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于电子元件测试领域，具体涉及一种电子元件测试装置及方法。

技术介绍

1、电子元件是组成电子产品的基础，随着电子装置日渐轻薄短小，集成电路芯片的速度及复杂性相对越来越高，为了集成电路的性能考虑，一般需要对电子元件进行性能测试来保证其运行正常。

2、公开号为us20040090221a1的专利技术申请涉及一种用于测试电子元件的装置，包括：测试头，以及使待测元件与测试头接触的装置，使待测元件与测试头接触的装置包括至少两个定位单元，用于与通用测试头共同作用。采用该专利技术的装置测试电子元件，定位单元的加载和卸载不再需要构成确定测试测量最小周期时间的关键处理路径的一部分。因此，可以更好地利用具有外围设备的测试头相对昂贵的生产能力，并且定位单元可采用相对较轻的形式，从而提高最大定位速度并降低成本。

3、授权号为ep1066535b1的专利技术专利涉及一种用于测试安装在诸如引线框架的载体上的电子元件的测试设备，包括：用于提供用于测试的载体的传送路径、用于接合和移动所提供的载体的机械手、用于与载体的测试触点和/或安装在载体上的至少一个部本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电子元件测试装置，包括机架（10），所述机架（10）的上方配置有上料台（11）和传送带（12），所述上料台（11）用于将待测元件（15）转移至所述传送带（12），其特征在于，

2.根据权利要求1所述的一种电子元件测试装置，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的一种电子元件测试装置，其特征在于，

4.根据权利要求1所述的一种电子元件测试装置，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的一种电子元件测试装置，其特征在于，

6.根据权利要求5所述的一种电子元件测试装置，其特征在于，

7.根据权利要求5所述的一种电子元件测...

【技术特征摘要】

1.一种电子元件测试装置，包括机架（10），所述机架（10）的上方配置有上料台（11）和传送带（12），所述上料台（11）用于将待测元件（15）转移至所述传送带（12），其特征在于，

2.根据权利要求1所述的一种电子元件测试装置，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的一种电子元件测试装置，其特征在于，

4.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨欣泽，
申请(专利权)人：思悟天智能北京教育科技有限公司，
类型：发明
国别省市：