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本发明公开了一种电子元件测试装置及方法，属于电子元件测试技术领域，包括机架，机架的上方配置有上料台和传送带，上料台用于将待测元件转移至传送带，传送带配置有检测区，检测区配置有检测器和装夹组件，装夹组件包括定位槽体，定位槽体的一侧配置有检测口...
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