半导体元件测试装置制造方法及图纸

本技术公开一种半导体元件测试装置，其移动块设置有两个，在其中一个移动块的顶部固定安装有拉力计，另一个移动块的顶部安装有一测试块，待测二极管的引脚分别与拉力计、测试块的夹紧件连接，底板设置在一放置台的顶端，底板的下表面设置有若干个安装柱，且安装柱的周向侧壁上设置有凹槽，在放置台的上表面开设有若干个供安装柱嵌入安装的安装槽，且在此安装槽相对的两个内壁上分别开设有一容置槽，在此容置槽的内部设置有一与凹槽对应配合的凸块，凸块与容置槽内壁之间设置有一弹簧。本技术半导体元件测试装置在实现拉力测试的基础上，便于对检测机构整体进行快速拆卸、安装，提高了检修、维护的便捷性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测试装置，尤其涉及一种半导体元件测试装置。

技术介绍

1、二极管、三极管是最常用的半导体元件，其最大的特性就是单向导电，二极管、三极管的作用有整流电路，检波电路，稳压电路，各种调制电路，二极管因此也被广泛应用于各种电子设备中，外观类似圆柱体，包括主体和引脚，二极管、三极管制作完成后需要测试主体和引脚之间的焊接拉力是否满足要求。一般，二极管、三极管引脚拉力测试的步骤如下：先在半导体元件两端连接夹紧工装，再把一端的夹紧工装固定，另一端的夹紧工装连接测力计。

2、在现有的使用过程中，其拉力测试机构在一段时间的工作后需要对其进行检修维护，但是，半导体元件拉力测试设备的底板与放置台一般为固定连接，无法将测试机构拆卸，导致检修过程困难。

技术实现思路

1、本技术的目的是提供一种半导体元件测试装置，该半导体元件测试装置在实现拉力测试的基础上，便于对检测机构整体进行快速拆卸、安装，提高了检修、维护的便捷性。

2、为达到上述目的，本技术采用的技术方案是：一种半导体元件测试装置，包括：底板，在所本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体元件测试装置，包括：底板（1），在所述底板（1）的顶部固定安装有一拉力测试机构（2），其特征在于：所述拉力测试机构（2）进一步包括拉力计（10）、移动块（11），所述移动块（11）设置有两个，在其中一个移动块（11）的顶部固定安装有所述拉力计（10），另一个移动块（11）的顶部安装有一测试块（14），待测二极管的引脚分别与拉力计（10）、测试块（14）的夹紧件（15）连接；

2.根据权利要求1所述的半导体元件测试装置，其特征在于：在所述底板（1）的顶部两端分别设置有一安装板（13），且两个安装板（13）之间转动连接有一双向丝杠（12），位于此双向丝杠（12）的两...

【技术特征摘要】

1.一种半导体元件测试装置，包括：底板（1），在所述底板（1）的顶部固定安装有一拉力测试机构（2），其特征在于：所述拉力测试机构（2）进一步包括拉力计（10）、移动块（11），所述移动块（11）设置有两个，在其中一个移动块（11）的顶部固定安装有所述拉力计（10），另一个移动块（11）的顶部安装有一测试块（14），待测二极管的引脚分别与拉力计（10）、测试块（14）的夹紧件（15）连接；

2.根据权利要求1所述的半导体元件测试装置，其特征在于：在所述底板（1）的顶部两端分别设置有一安装板（13），且两个安装板（13）之间转动连接有一双向丝杠（12），位于此双向丝杠（1...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱显羣，钱淼，王韦勋，
申请(专利权)人：苏州锝耀电子有限公司，
类型：新型
国别省市：