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本技术公开一种半导体元件测试装置，其移动块设置有两个，在其中一个移动块的顶部固定安装有拉力计，另一个移动块的顶部安装有一测试块，待测二极管的引脚分别与拉力计、测试块的夹紧件连接，底板设置在一放置台的顶端，底板的下表面设置有若干个安装柱，且安...
该专利属于苏州锝耀电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州锝耀电子有限公司授权不得商用。

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