【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及岩石物理领域，尤其涉及一种致密储层孔隙结构表征方法、装置、电子设备以及存储介质。
技术介绍
1、致密储层孔隙结构表征是指从二维到三维将定性和定量的孔隙结构数据进行融合，并探求致密储层微观孔隙结构与宏观物理性质之间的关系，以利用系统全面的描述表征致密储层复杂孔隙结构，以用于有效评估致密储层的开发潜力和减小勘探风险。
2、目前，目前孔隙结构特征表征通常通过将岩石样品制备成系列薄片或标准尺寸岩心，然后通过精密仪器观察薄片或岩心以获得定性、定量信息实现，但单一表征技术的有效研究尺度与信息反映有局限性，无法对致密储层整体孔隙结构进行评价；且由于对不同孔隙结构表现出的地球物理响应特征及其机理的关注较少，能结合地球物理参数表征孔隙结构特征。因此，致密储层孔隙结构的表征存在局限性。
技术实现思路
1、为了解决上述问题，本专利技术提供了一种致密储层孔隙结构表征方法、装置、电子设备以及存储介质，可以降低致密储层孔隙结构的表征存在的局限性。
2、第一方面，本专利技术提供了一种致密储层孔隙结构表征方法，包括：
3、采集致密储层样品，对所述致密储层样品进行边缘去除处理，得到边缘去除样品，对所述边缘去除样品进行等距分割处理，得到等距分割样品；
4、构建所述等距分割样品的储层压力条件，根据所述储层压力条件，测量所述等距分割样品的样品孔隙度；
5、检测所述等距分割样品的孔隙类型，并对所述等距分割样品进行无损扫描，得到所述等距分割样品的灰度频
6、根据所述储层压力条件，计算所述等距分割样品的横纵波速度与波形图像，利用所述横纵波速度提取所述等距分割样品的弹性参数，利用所述波形图像提取所述等距分割样品的衰减属性；
7、构建所述弹性参数与所述衰减属性之间的交会图像，根据所述交会图像与所述样品孔隙度，识别所述等距分割样品的敏感属性，并构建所述敏感属性与所述孔隙结构参数之间的关系模型，利用所述关系模型对所述致密储层样品进行孔隙结构表征处理，得到所述致密储层样品的孔隙结构表征结果。
8、在第一方面的一种可能实现方式中，所述对所述致密储层样品进行边缘去除处理，得到边缘去除样品，包括：
9、构建所述致密储层样品的切割样式；
10、测量所述致密储层样品的样品规格；
11、根据所述样品规格，利用所述切割样式对所述致密储层样品进行边缘去除，得到所述边缘去除样品。
12、在第一方面的一种可能实现方式中，所述构建所述等距分割样品的储层压力条件，包括：
13、查询所述等距分割样品的环境来源；
14、识别所述环境来源的环境类型；
15、根据所述环境类型，利用下述公式计算所述等距分割样品的储层压力条件：
16、pp＝0.0098ρphp
17、其中，pp表示所述等距分割样品的储层压力条件，ρp表示不同的环境类型对应的储层压力当量密度，hp表示所述等距分割样品在环境来源中所处的地底深度。
18、在第一方面的一种可能实现方式中，所述对所述等距分割样品进行无损扫描，得到所述等距分割样品的灰度频率分布，包括：
19、利用纳米级x射线ct扫描仪中的椭球聚焦镜聚集所述纳米级x射线ct扫描仪中的x射线光束；
20、构建所述x射线光束的空心光锥；
21、根据所述空心光锥，对所述等距分割样品进行纳米级-微米级转换，得到转换样品；
22、利用x射线探测器采集所述转换样品的灰度图像；
23、查询所述灰度图像的灰度次数，并根据所述灰度次数，利用下述公式计算所述灰度图像的灰度频率：
24、
25、其中，p表示所述灰度图像的灰度频率，c表示所述灰度图像中所有灰度级的数量，ci表示所述灰度图像中第i个灰度级的对应的灰度值的出现次数即所述灰度次数；
26、根据所述灰度频率，确定所述等距分割样品的灰度频率分布。
27、在第一方面的一种可能实现方式中，所述根据所述储层压力条件，计算所述等距分割样品的横纵波速度与波形图像，包括：
28、根据所述储层压力条件，利用超声探头测量所述等距分割样品的纵波时间与横波时间，并测量所述超声波探头的基础时间；
29、根据所述纵波时间、所述横波时间与所述基础时间，利用下述公式计算所述等距分割样品的横纵波速度：
30、vo＝l/(to-t0)
31、vs＝l/(ts-t0)
32、v＝(vo,vs)
33、其中，v表示所述等距分割样品的横纵波速度，vp表示所述横纵波速度中的纵波波速，vs表示所述横纵波速度中的横波波速，t0表示所述基础时间，tp表示所述纵波时间，ts表示所述横波时间，l表示所述等距分割样品的尺寸；
34、利用所述超声探头对应的声波仪器确定所述等距分割样品的波形图像。
35、在第一方面的一种可能实现方式中，所述利用所述横纵波速度提取所述等距分割样品的弹性参数，包括：
36、根据所述横纵波速度，利用下述公式计算所述等距分割样品的弹性参数：
37、
38、
39、
40、
41、
42、q＝{ed,γd,kd,λd,μd}
43、其中，q表示所述弹性参数，ed表示弹性参数中的杨氏模量，μd表示弹性参数中的剪切模量，λd表示弹性参数中的拉梅系数，γd表示弹性参数中的泊松系数，ρ表示所述等距分割样品的密度，vp表示所述横纵波速度中的纵波波速，vs表示所述横纵波速度中的横波波速，d表示所述等距分割样品，kd表示体积模量。
44、在第一方面的一种可能实现方式中，所述构建所述敏感属性与所述孔隙结构参数之间的关系模型，包括：
45、根据所述孔隙结构参数，利用下述公式构建所述敏感属性的第一多元回归模型：
46、y＝β0+β1x1+β2x2+…+βkxk+ε
47、其中，y＝β0+β1x1+β2x2+…+βkxk+ε表示所述敏感属性的多元回归模型，y表示所述敏感属性，β0、β1、β2、βk、ε表示常数参量，x1、x2、xk表示所述孔隙结构参数中的多个参数；
48、根据所述敏感属性，构建所述孔隙结构参数的第二多元回归模型；
49、识别所述第一多元回归模型与所述第二多元回归模型中的自因关系与实体关系；
50、根据所述自因关系与所述实体关系，构建所述敏感属性与所述孔隙结构参数之间的关系模型。
51、第二方面，本专利技术提供了一种致密储层孔隙结构表征装置，所述装置包括：
52、边缘样品分割模块，用于采集致密储层样品，对所述致密储层样品进行边缘去除处理，得到边缘去除样品，对所述边缘去除样品进行等距分割处理，得本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种致密储层孔隙结构表征方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述致密储层样品进行边缘去除处理，得到边缘去除样品，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述构建所述等距分割样品的储层压力条件，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述等距分割样品进行无损扫描，得到所述等距分割样品的灰度频率分布，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述储层压力条件，计算所述等距分割样品的横纵波速度与波形图像，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述横纵波速度提取所述等距分割样品的弹性参数，包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述构建所述敏感属性与所述孔隙结构参数之间的关系模型，包括：
8.一种致密储层孔隙结构表征装置，其特征在于，所述装置包括：
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
10.一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述
...【技术特征摘要】
1.一种致密储层孔隙结构表征方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述致密储层样品进行边缘去除处理，得到边缘去除样品，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述构建所述等距分割样品的储层压力条件，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述等距分割样品进行无损扫描，得到所述等距分割样品的灰度频率分布，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述储层压力条件，计算所述等距分割样品的横纵波速度与波形图像...
【专利技术属性】
技术研发人员：李呈呈，张克非，李敏，马霄一，白俊，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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