【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测试工装，尤其涉及一种推拉式功率半导体器件测试工装。
技术介绍
1、动静态测试在本文指的是igbt在出厂及使用者进行检验或来料筛选及后期维护维修过程中用于检验igbt好坏及性能的一种常见方法，动静态测试分为动态测试和静态测试，每种测试里面又分有多个参数，每个参数不管在国际上还是在国内基本都有标准，按照标准对器件的各个电极施加规定的电流电压，然后在规定的电极上检测电流、电压、时间、损耗等参数，从而判断igbt器件的好坏。
2、经检索发现，公开号为cn111398771a的申请公开了一种可推拉功率半导体器件测试工装，包括工装外壳、气动伸缩机构、定位锁紧机构、适配器、测试板、第一载物板、第二载物板以及侧板；第一载物板设置在侧板内侧并与侧板滑动连接，适配器包括适配板、固定装配在适配板后端的香蕉插头、固定装配在适配板上的探针；适配板滑动连接在第二载物板上，探针与香蕉插头电连接。该申请解决了现有测试工装在使用时并不便捷，且适配器和测器件的更换都较为不便，造成测试工装的整体操作感较差的问题；
3、但是上述专利仍然存在一些不足：该申请将测试板放在载物板上，然后通过水平方向前后推拉动作，将测试板送入或从工装外壳取出，但是在送入时，需要将测试板上的被测器件电极正对探针才可进行测试，目前需要多次调整才能保证对齐，较为费力。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种推拉式功率半导体器件测试工装，解决以下技术问题：现有的测试工作在被测器件电极与探针对齐时较为费力。
...【技术保护点】
1.一种推拉式功率半导体器件测试工装，包括两个固定在工装外壳内壁上的侧板（1），其特征在于：两个所述侧板（1）分别固定在工装外壳的两侧内壁上，两个侧板（1）相靠近的侧壁上均滑动连接有载物板（2），两个所述侧板（1）相靠近的侧壁上沿长度方向开设有滑槽（5），所述滑槽（5）内滑动连接有滑块（6），所述滑块（6）与载物板（2）固定连接，所述滑块（6）的一侧连接有第一弹簧（9）。
2.根据权利要求1所述的一种推拉式功率半导体器件测试工装，其特征在于，所述滑块（6）远离第一弹簧（9）的侧壁上固定有支撑导向杆（7），所述支撑导向杆（7）的一端贯穿滑槽（5）的侧壁延伸至侧板（1）的外部，所述载物板（2）的一侧固定有L型连接块（4），且所述L型连接块（4）与支撑导向杆（7）固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种推拉式功率半导体器件测试工装，其特征在于，两个所述载物板（2）之间固定有锁定板（3）。
4.根据权利要求1所述的一种推拉式功率半导体器件测试工装，其特征在于，所述滑槽（5）的顶壁和底壁上均开设有卡接槽（8），所述滑块（6）上开设有通孔（601），所述通
5.根据权利要求4所述的一种推拉式功率半导体器件测试工装，其特征在于，所述卡接槽（8）的截面为弧形结构，两个所述卡接块（603）相远离的一端均为半球形结构。
...【技术特征摘要】
1.一种推拉式功率半导体器件测试工装，包括两个固定在工装外壳内壁上的侧板（1），其特征在于：两个所述侧板（1）分别固定在工装外壳的两侧内壁上，两个侧板（1）相靠近的侧壁上均滑动连接有载物板（2），两个所述侧板（1）相靠近的侧壁上沿长度方向开设有滑槽（5），所述滑槽（5）内滑动连接有滑块（6），所述滑块（6）与载物板（2）固定连接，所述滑块（6）的一侧连接有第一弹簧（9）。
2.根据权利要求1所述的一种推拉式功率半导体器件测试工装，其特征在于，所述滑块（6）远离第一弹簧（9）的侧壁上固定有支撑导向杆（7），所述支撑导向杆（7）的一端贯穿滑槽（5）的侧壁延伸至侧板（1）的外部，所述载物板（2）的一侧固定有l型连接块（...
【专利技术属性】
技术研发人员：周斌，董建方，张爱华，
申请(专利权)人：河南悦芯集成电路有限公司，
类型：新型
国别省市：
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