一种基于辐射传热角系数的水冷屏参数确定方法技术

技术编号:40913681 阅读:15 留言:0更新日期:2024-04-18 14:41
本发明专利技术公开了一种基于辐射传热角系数的水冷屏参数确定方法,属于水冷屏设计技术领域。该方法包括确定当前单晶硅棒圆柱面对水冷屏内表面的角系数;根据单晶硅棒与水冷屏的结构参数对所述角系数进行校正,得到单晶硅棒对水冷屏的辐射传热角系数;根据所述辐射传热角系数确定水冷屏的参数。本发明专利技术可获得不同形状的水冷屏与单晶硅棒之间的辐射传热角系数,进而为水冷屏的选取和设计提供科学依据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及水冷屏设计,更具体的说是涉及一种基于辐射传热角系数的水冷屏参数确定方法


技术介绍

1、在太阳能光伏发电领域,单晶硅太阳能电池因具备高效率、低衰减、长寿命,和热稳定性好等优点被广泛使用,但单晶硅电池的生产成本普遍高于多晶硅,为了降本增效,单晶硅逐渐向大尺寸化发展;

2、然而,大尺寸晶棒会释放大量潜热,导致导热热阻增加,径向温差变大,固-液界面形变增加,以及影响热应力的分布,从而使晶体变晶生长的风险增大。

3、目前,工业直拉单晶炉广泛采用水冷屏强化晶体传热,但水冷屏的规格参数多是依据经验选取,而无法保证水冷屏具有最优的辐射传热系数,或通过数值模拟不同形状的水冷屏对晶体生长的影响进行选取,从而花费大量实验时间与材耗;

4、针对上述问题,本专利技术基于辐射传热角系数提出一种水冷屏参数确定方法。


技术实现思路

1、有鉴于此,本专利技术提供了一种基于辐射传热角系数的水冷屏参数确定方法,用于减少水冷屏设计或选取的盲目性以及对生产经验的依赖性。

<p>2、为了实现上述本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于辐射传热角系数的水冷屏参数确定方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种基于辐射传热角系数的水冷屏参数确定方法,其特征在于,所述单晶硅棒的结构参数包括单晶硅棒的高度和半径,所述水冷屏的结构参数包括水冷屏的高度,内表面半径和外表面半径。

3.根据权利要求2所述的一种基于辐射传热角系数的水冷屏参数确定方法,其特征在于,当单晶硅棒高度低于水冷屏时,按如下公式确定单晶硅棒圆柱面对水冷屏内表面的角系数:

4.根据权利要求3所述的一种基于辐射传热角系数的水冷屏参数确定方法,其特征在于,当单晶硅棒高度低于水冷屏时,按如下公式对所述角系数进行校...

【技术特征摘要】

1.一种基于辐射传热角系数的水冷屏参数确定方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种基于辐射传热角系数的水冷屏参数确定方法,其特征在于,所述单晶硅棒的结构参数包括单晶硅棒的高度和半径,所述水冷屏的结构参数包括水冷屏的高度,内表面半径和外表面半径。

3.根据权利要求2所述的一种基于辐射传热角系数的水冷屏参数确定方法,其特征在于,当单晶硅棒高度低于水冷屏时,按如下公式确定单晶硅棒圆柱面对水冷屏内表面的角系数:

4.根据权利要求3所述的一种基于辐射传热角系数的水冷屏参数确定方法,其特征在于,当单晶硅棒高度低于水冷屏时,按如下公式对所述角系数进行校正,

5.根据权利要求2所述的一种基...

【专利技术属性】
技术研发人员:任永生王正省马文会李若璞吕国强雷云魏奎先李绍元万小涵张亚坤曾毅刘国炎余秉玺
申请(专利权)人:昆明理工大学
类型:发明
国别省市:

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