【技术实现步骤摘要】
本申请涉及样本检测领域，特别是涉及多样本标定方法、多样本调度取样方法、电子设备及介质。
技术介绍
1、生物样品处理领域例如医疗检测领域大量使用了样本取样技术，传统取样方式是固定多样本位样本仓配合直线三维臂吸样，通过三维臂将取样针运转，覆盖多固定位，按三维坐标系运动，完成所有样本的吸样功能。
2、通过样本架将样本容器纵向依次传递到固定吸样点，先将样本架转移到固定吸样通道上，样本架纵向依次递进，将一个样本架的多个管位即装载位分别经过固定吸样点，满足对每个装载位上的样本容器吸样。
3、以上吸样方式，都有一个或多个吸样位，但由于出厂仪器台间有物料差异，装配差异，每个吸样位运行行程不同，因此首次运行之前需要进行标定；运行一段时间后也要检查。常规标定是有多少位置就进行多少个位置标定，实现多个吸样工位的准确吸样。亦即传统方式是有多少吸样工位点就进行多少位置标定，以实现不同仪器多个吸样工位的准确吸样。
4、但是需要生产调试、出厂装机、现场客户维护时，都需要耗费很长时间进行大量位置的标定调试，占用工时成本较高。
技术实现思路
1、基于此，有必要提供一种多样本标定方法、多样本调度取样方法、电子设备及介质。
2、在一个实施例中，一种多样本标定方法，其包括步骤：
3、采用样本传递机构作为第一标定工位，用于标识x轴位置；
4、采用旋转二维采样结构作为第二标定工位，用于标识旋转角度；
5、根据所述水平位置标定样本架上第j装载位
6、根据所述第j装载位的x轴位置参数xj与旋转角度参数θj，计算得到所述样本架上其余装载位的x轴位置参数与旋转角度参数。
7、上述多样本标定方法，仅通过两个标定工位对样本架上一个装载位进行一次标定，即可根据样本架上各装载位的位置关系，计算得出对样本架上所有装载位的位置，从而无需对每一吸样工位点逐一进行位置标定，因此极大地提升了标定效率，降低了多样本标定的工时成本，可根据计算得到的这些位置实现样本取放。
8、在其中一个实施例中，所述多样本标定方法还包括步骤：根据所述水平位置标定所述样本架上第n装载位的x轴位置参数xn，根据所述旋转角度标定所述第n装载位的旋转角度参数θn；其中，所述第n装载位与所述第j装载位相异；
9、所述根据所述第j装载位的x轴位置参数xj与旋转角度参数θj，计算得到所述样本架上其余装载位的x轴位置参数与旋转角度参数的步骤包括：根据所述第j装载位的x轴位置参数xj与旋转角度参数θj，以及所述第n装载位的x轴位置参数xn与旋转角度参数θn，计算得到所述样本架上其余所述装载位的x轴位置参数与旋转角度参数。
10、在其中一个实施例中，所述根据所述第j装载位的x轴位置参数xj与旋转角度参数θj，以及所述第n装载位的x轴位置参数xn与旋转角度参数θn，计算得到所述样本架上其余所述装载位的x轴位置参数与旋转角度参数的步骤包括：根据所述第j装载位的x轴位置参数xj与旋转角度参数θj，以及所述第n装载位的x轴位置参数xn与旋转角度参数θn，计算得到所述旋转二维采样结构的旋转半径r以及旋转轨迹圆心的位置坐标（x0，y0）；根据所述第j装载位的x轴位置参数xj与旋转角度参数θj，以及所述旋转二维采样结构的旋转半径r以及旋转轨迹圆心的位置坐标（x0，y0），计算得到所述样本架上其余所述装载位的x轴位置参数与旋转角度参数。
11、在其中一个实施例中，所述第j装载位为最邻近所述样本架的任一端部位置的装载位。
12、在其中一个实施例中，根据所述水平位置标定样本架上第一装载位的x轴位置参数x1，根据所述旋转角度标定所述第一装载位的旋转角度参数θ1；
13、根据所述第一装载位的x轴位置参数x1与旋转角度参数θ1，以及所述第n装载位的x轴位置参数xn与旋转角度参数θn，计算得到所述样本架上其余装载位的x轴位置参数与旋转角度参数。
14、在其中一个实施例中，所述第n装载位为最邻近所述样本架的另一端部位置的装载位；或者，所述第n装载位为处于所述样本架的中部位置的装载位。
15、在其中一个实施例中，根据所述第j装载位的x轴位置参数xj与旋转角度参数θj，以及所述旋转二维采样结构的旋转半径r以及旋转轨迹圆心的位置坐标（x0，y0），计算得到所述样本架上其余所述装载位的x轴位置参数与旋转角度参数。
16、在其中一个实施例中，所述多样本标定方法还包括步骤：根据所述样本架的结构参数，确定所述样本架上各所述装载位的y轴位置参数。
17、在其中一个实施例中，所述多样本标定方法还包括步骤：根据所述样本架的结构参数，确定所述样本架上各所述装载位的y轴位置参数；
18、并且，所述第j装载位为最邻近所述样本架的第一端部位置的装载位，具有第一装载位坐标（x1，y1）；
19、所述第n装载位为最邻近所述样本架的第二端部位置的装载位，具有第n装载位坐标（xn，yn）；
20、所述第j装载位至所述第n装载位的总旋转角度θt为θn－θ1；
21、计算得到所述旋转二维采样结构的旋转半径r，以及所述旋转二维采样结构的旋转轨迹圆心的位置坐标（x0，y0）；
22、采用下式（1）计算所述样本架上其余所述装载位的x轴位置参数：
23、
24、采用下式（2）计算所述样本架上其余所述装载位的旋转角度参数：
25、
26、其中，1＜i＜n，且i为自然数；k1至k6为常数。
27、在其中一个实施例中，一种多样本调度取样方法，其包括任一实施例所述多样本标定方法，还包括步骤：
28、根据样本架上各装载位的x轴位置参数与旋转角度参数，调整样本传递机构的位置及/或旋转二维采样结构的位置；
29、通过所述旋转二维采样结构上的取样设备，对所述样本架上各所述装载位所装载的样本容器，进行采样。
30、在其中一个实施例中，一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现任一实施例所述多样本标定方法或所述多样本调度取样方法的步骤。
31、在其中一个实施例中，一种计算机可读存储介质，其存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现任一实施例所述多样本标定方法或所述多样本调度取样方法的步骤。
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1.一种多样本标定方法，其特征在于，包括步骤：
2.根据权利要求1所述多样本标定方法，其特征在于，还包括步骤：根据所述水平位置标定所述样本架上第n装载位的X轴位置参数xn，根据所述旋转角度标定所述第n装载位的旋转角度参数θn；其中，所述第n装载位与所述第j装载位相异；
3.根据权利要求2所述多样本标定方法，其特征在于，所述根据所述第j装载位的X轴位置参数xj与旋转角度参数θj，以及所述第n装载位的X轴位置参数xn与旋转角度参数θn，计算得到所述样本架上其余所述装载位的X轴位置参数与旋转角度参数的步骤包括：根据所述第j装载位的X轴位置参数xj与旋转角度参数θj，以及所述第n装载位的X轴位置参数xn与旋转角度参数θn，计算得到所述旋转二维采样结构的旋转半径r以及旋转轨迹圆心的位置坐标（x0，y0）；根据所述第j装载位的X轴位置参数xj与旋转角度参数θj，以及所述旋转二维采样结构的旋转半径r以及旋转轨迹圆心的位置坐标（x0，y0），计算得到所述样本架上其余所述装载位的X轴位置参数与旋转角度参数。
4.根据权利要求2所述多样本标定方法，其特征在于，所述
5.根据权利要求1所述多样本标定方法，其特征在于，所述第j装载位为最邻近所述样本架的任一端部位置的装载位；或者，
6.根据权利要求1至5中任一项所述多样本标定方法，其特征在于，还包括步骤：根据所述样本架的结构参数，确定所述样本架上各所述装载位的Y轴位置参数。
7.根据权利要求2所述多样本标定方法，其特征在于，还包括步骤：根据所述样本架的结构参数，确定所述样本架上各所述装载位的Y轴位置参数；
8.一种多样本调度取样方法，其特征在于，包括如权利要求1至7中任一项所述多样本标定方法，还包括步骤：
9.一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任一项所述多样本标定方法或如权利要求8所述多样本调度取样方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述多样本标定方法或如权利要求8所述多样本调度取样方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种多样本标定方法，其特征在于，包括步骤：
2.根据权利要求1所述多样本标定方法，其特征在于，还包括步骤：根据所述水平位置标定所述样本架上第n装载位的x轴位置参数xn，根据所述旋转角度标定所述第n装载位的旋转角度参数θn；其中，所述第n装载位与所述第j装载位相异；
3.根据权利要求2所述多样本标定方法，其特征在于，所述根据所述第j装载位的x轴位置参数xj与旋转角度参数θj，以及所述第n装载位的x轴位置参数xn与旋转角度参数θn，计算得到所述样本架上其余所述装载位的x轴位置参数与旋转角度参数的步骤包括：根据所述第j装载位的x轴位置参数xj与旋转角度参数θj，以及所述第n装载位的x轴位置参数xn与旋转角度参数θn，计算得到所述旋转二维采样结构的旋转半径r以及旋转轨迹圆心的位置坐标（x0，y0）；根据所述第j装载位的x轴位置参数xj与旋转角度参数θj，以及所述旋转二维采样结构的旋转半径r以及旋转轨迹圆心的位置坐标（x0，y0），计算得到所述样本架上其余所述装载位的x轴位置参数与旋转角度参数。
4.根据权利要求2所述多样本标定方法，其特征在于，所述第n装载...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏文涛，唐浩，唐建波，刘峰，何健，张颖慧，姚多马，崔北辰，刘先成，王贵学，马菊芬，
申请(专利权)人：重庆普门创生物技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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