【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及视觉测量，尤其涉及一种变电器线圈尺寸确定方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
1、在智能化产业发展中，越来越多的产品正在从人工检测往自动化检测发展，而基于视觉的测量方案是目前检测行业中较为成熟的。对于非平面物体的检测，通常采用三维成像技术，比如飞行时间法(tof)、立体视觉、结构光以及数字条纹投影技术。
2、现有技术中在线圈卷料过程中对线圈进行尺寸测量主要是通过人工采用软尺手动进行测量的方式。由于是在生产过程中，人工采用软尺进行测量的方式效率较低且困难，同时无法直接使用结构光相机直接对线圈进行整体三维成像进行测量分析。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种变电器线圈尺寸确定方法、装置、设备及存储介质，考虑了测量偏差，提高了整体测量精度同时保证了测量效率。
2、根据本专利技术的一方面，提供了一种变电器线圈尺寸确定方法，该方法包括：
3、确定线激光相机的采集参数，基于采集参数对变电器线圈进行检测，以获取点云数据，其中，采集参数包括目标频率和采集范围；
4、对点云数据进行预处理以生成标准数据；
5、根据标准数据确定变电器线圈的尺寸信息。
6、可选的，确定线激光相机的采集参数，包括：获取变电器线圈中心轴的目标旋转速度；获取预设的采集频率清单，其中，采集频率清单中包括各旋转速度与频率的对应关系；通过采集频率清单对目标旋转速度进行匹配，以获取与目标旋转速度对应的目标频率；获取相机标定参数，根据相机标定参数
7、可选的，对点云数据进行预处理以生成标准数据，包括：将点云数据输入预先设置的软件算法；基于软件算法将点云数据转换成类椭圆体形态，以生成标准数据。
8、可选的，根据标准数据确定变电器线圈的尺寸信息，包括：获取标定距离，并从标准数据中确定相邻波峰值和相邻波谷值，其中，标定距离为线激光相机到变电器线圈中心轴的距离；将标定距离和相邻波峰值代入第一指定算法以确定短轴像素值；将标定距离和相邻波谷值代入第二指定算法以确定长轴像素值；根据短轴像素值和长轴像素值确定变电器线圈的尺寸信息。
9、可选的，根据短轴像素值和长轴像素值确定变电器线圈的尺寸信息，包括：获取变电器线圈的线圈芯尺寸；将线圈芯尺寸、短轴像素值和长轴像素值代入第三指定算法以确定像素当量；确定偏差参数，其中，偏差参数包括偏差角度和突变偏差值；根据像素当量、偏差参数、标定距离、相邻波峰值和相邻波谷值确定尺寸信息。
10、可选的，确定偏差参数，包括：通过指定位置的拍摄装置获取旋转中心数据；当相邻两个旋转中心数据的差值大于预设阈值时，将旋转中心数据作为突变数据；确定突变数据对应的突变偏差值；确定类椭圆体形态对应的实际中心轴，并获取线激光相机的拍摄方向；将拍摄方向和实际中心轴的夹角作为偏差角度。
11、可选的，根据像素当量、偏差参数、标定距离、相邻波峰值和相邻波谷值确定尺寸信息，包括：将像素当量、偏差参数、标定距离和相邻波峰值代入第四指定算法以确定短轴实际值；将像素当量、偏差参数、标定距离和相邻波谷值代入第五指定算法以确定长轴实际值；将短轴实际值和长轴实际值作为尺寸信息。
12、根据本专利技术的另一方面，提供了一种变电器线圈尺寸确定装置，该装置包括：
13、点云数据获取模块，用于确定线激光相机的采集参数，基于采集参数对变电器线圈进行检测，以获取点云数据，其中，采集参数包括目标频率和采集范围；
14、点云数据预处理模块，用于对点云数据进行预处理以生成标准数据；
15、线圈尺寸信息确定模块，用于根据标准数据确定变电器线圈的尺寸信息。
16、根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
17、至少一个处理器；以及
18、与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
19、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的一种变电器线圈尺寸确定方法。
20、根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的一种变电器线圈尺寸确定方法。
21、本专利技术实施例的技术方案，通过确定线激光相机的采集参数，包括目标频率和采集范围，基于采集参数对线圈最外圈边界表面进行检测，即可获取点云数据，然后对点云数据进行预处理，以将点云数据转换成类椭圆体形态，进而生成标准数据，最后将标准数据代入指定算法，同时结合偏差参数，即可确定出变电器线圈的尺寸，避免了偏差影响的同时提高了整体测量精度，并且相机的安装位置不会对生产过程产生影响，减少了人工工作量，提高了测量效率。
22、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
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1.一种变电器线圈尺寸确定方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定线激光相机的采集参数，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述点云数据进行预处理以生成标准数据，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述标准数据确定所述变电器线圈的尺寸信息，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述短轴像素值和所述长轴像素值确定所述变电器线圈的尺寸信息，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述确定偏差参数，包括：
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述像素当量、所述偏差参数、所述标定距离、所述相邻波峰值和所述相邻波谷值确定所述尺寸信息，包括：
8.一种变电器线圈尺寸确定装置，其特征在于，包括：
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
10.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7
...【技术特征摘要】
1.一种变电器线圈尺寸确定方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定线激光相机的采集参数，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述点云数据进行预处理以生成标准数据，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述标准数据确定所述变电器线圈的尺寸信息，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述短轴像素值和所述长轴像素值确定所述变电器线圈的尺寸信息，包括：
6....
【专利技术属性】
技术研发人员：孙蔡霞，何铭仪，许江华，卢天华，倪军，
申请(专利权)人：杭州安脉盛智能技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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