【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于机械测量领域，具体的，涉及一种曲面外形对缝阶差测量工具及测量方法。
技术介绍
1、（1）目前存在的测量曲面之间对缝阶差的方法主要是通过塞尺或光学仪器测量；（2）塞尺只能定性测量，无法准确得到曲面间的对缝阶差间隙，且测量效率低下，若产品对对缝阶差有明确数值要求，通过塞尺测量无法保证产品合格；（3）光学测量仪器精度高，但测量难度大，且测量时需要专用工具辅助支撑，实用性差，一般在产品最后一道检验工序时使用，若产品曲面间对缝阶差不符合要求，返工仍然没有有效的方法保证对缝阶差，反复返工工程量巨大，严重影响生产制造周期。
技术实现思路
1、针对上述现有技术，本专利技术的目的在于克服现有技术中的不足，适应现实需要，从而提供一种可以更高精度更便捷的测量出曲面之间的阶差的曲面外形对缝阶差测量工具及测量方法。
2、为了实现上述目的，本专利技术采用的技术方案为：
3、一种曲面外形对缝阶差测量工具，包括基准板，转动盘、测量装置、数显设备和紧固件，基准板设有两块，呈上下分布，两块基准板通过紧固件固定，转动盘设有两个，两个转动盘均为圆形，两个转动盘均嵌在基准板内，并可自由水平转动，两个转动盘在基准板上呈左右对称分布，且之间留有间隙，数显设备设有两个，均通过紧固件分别固定于两个转动盘上，测量装置设有六个，每个转动盘上均固定有三个测量装置，六个测量装置均与曲面接触，数显设备用于测量和显示曲面阶差值，基准板与两曲面间缝隙垂直。
4、进一步，两个转动盘上的测量装置和数
5、进一步，测量装置包括测量杆和测量杆套筒，测量杆下端固定于转动盘内并穿过转动盘套入测量杆套筒中，测量杆可在测量杆套筒内上下滑动，测量杆与测量杆套筒间采用间隙配合，套筒为测量杆的滑动提供一定的摩擦阻力，每三个测量杆在每个转动盘内均按内接正三角形均匀分布，且左右两个转动盘上的测量杆间最小间距为4mm，测量杆上端露出上端的基准板端面，测量杆套筒位于转动盘下端，且测量杆套筒下端露出下端的基准板端面。
6、进一步，测量杆与测量杆套筒间还套有阻力橡胶套。
7、进一步，数显设备包括数显芯片、数显屏、电池、底盖和数显屏控制按钮，数显芯片嵌入转动盘内，用于测量曲面阶差值并显示在数显屏上，数显屏位于转动盘中心，用于显示测量的数值，电池安装于转动盘另一面内，并通过底盖与螺钉固定，电池用于为数显设备提供电源，数显屏控制按钮位于数显屏一侧，用于控制电源的开关和数值的调零, 数显芯片、数显屏、电池和数显屏控制按钮之间均为电连接。
8、进一步，数显芯片工作原理仿照数显游标卡尺芯片原理，利用容栅传感器，测量动定栅之间的电容量变化，每个芯片内设三个定栅，测量杆作为动栅，数显芯片可记录三个动栅与三个定栅产生的测量值并取均值显示在数显屏上。
9、进一步，数显屏控制按钮包括电源键和调零键，电源键用于控制电源的开或者关，调零键用于将数显屏上的数值归零。
10、进一步，紧固件为螺钉。
11、一种曲面外形对缝阶差的测量方法，该方法通过使用如上述所述的曲面外形对缝阶差测量工具实现，具体包括以下步骤：
12、步骤一、调零
13、①.将上述测量工具放在校准平面上，同时按压六个测量杆以及基准板，松手后，按调零键使两数显屏显示归零；
14、步骤二、测量阶差
15、①.将该测量工具横跨摆放在两个待测曲面上，保持基准板与两曲面间缝隙垂直；
16、②.按压顺差方向第一个曲面上的三个测量杆，在该三个测量杆所位于的数显屏上得到第一个曲面的平均高度h1，维持该数显屏上的数字不变，按压顺差方向第二个曲面上的三个测量杆，得到第二个曲面的平均高度h2，则此次测量过程得到的曲面阶差为△h=h2-h1；
17、③.将两转动盘转动任意角度，每次转动后重复步骤一和步骤二，得到多个阶差测量值，剔除显著不合理数据，取5-10个阶差测量值的平均值，作为最终阶差测量数据，其公式为：
18、△h=（△h1+△h2+……△h5+△hn）/n，
19、其中，5≤n≤10。
20、进一步，每次测量时每个转动盘上的三个测量杆均落在曲面上。
21、本专利技术是一种用于曲面之间对缝阶差测量的测量工具及测量方法，适用于飞机这类多曲面装配产品的外形阶差测量。
22、本专利技术的有益效果为：本专利技术的测量工具结构简单，操作便捷，采用取三点高度平均值来代替平面高度，并取多次测量平均值减少测量误差，用多点数据表征曲面高度，使阶差测量值更准确，同时数显芯片读数更准确，精确度0.01mm，减少人工读数的误差，在数显游标卡尺的数显芯片基础上提出一种新的测量方法，同时测量三个方向的数据，测量效率更高。测量方法步骤简单易行，测量数值可靠，为生产装配过程中的阶差测量提供了一种可行方法。
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1.一种曲面外形对缝阶差测量工具，其特征在于：包括基准板，转动盘、测量装置、数显设备和紧固件，基准板设有两块，呈上下分布，两块基准板通过紧固件固定，转动盘设有两个，两个转动盘均为圆形，两个转动盘均嵌在基准板内，并可自由水平转动，两个转动盘在基准板上呈左右对称分布，且之间留有间隙，数显设备设有两个，均通过紧固件分别固定于两个转动盘上，测量装置设有六个，每个转动盘上均固定有三个测量装置，六个测量装置均与曲面接触，数显设备用于测量和显示曲面阶差值，基准板与两曲面间缝隙垂直。
2.根据权利要求1所述的曲面外形对缝阶差测量工具，其特征在于：两个转动盘上的测量装置和数显设备均以两个转动盘之间的间隙的中部为基准呈对称设置。
3.根据权利要求1所述的曲面外形对缝阶差测量工具，其特征在于：测量装置包括测量杆和测量杆套筒，测量杆下端固定于转动盘内并穿过转动盘套入测量杆套筒中，测量杆可在测量杆套筒内上下滑动，测量杆与测量杆套筒间采用间隙配合，每三个测量杆在每个转动盘内均按内接正三角形均匀分布，且左右两个转动盘上的测量杆间最小间距为4mm，测量杆上端露出上端的基准板端面，测量杆套
4.根据权利要求3所述的曲面外形对缝阶差测量工具，其特征在于：测量杆与测量杆套筒间还套有阻力橡胶套。
5.根据权利要求3所述的曲面外形对缝阶差测量工具，其特征在于：数显设备包括数显芯片、数显屏、电池、底盖和数显屏控制按钮，数显芯片嵌入转动盘内，用于测量曲面阶差值并显示在数显屏上，数显屏位于转动盘中心，用于显示测量的数值，电池安装于转动盘另一面内，并通过底盖与螺钉固定，电池用于为数显设备提供电源，数显屏控制按钮位于数显屏一侧，用于控制电源的开关和数值的调零, 数显芯片、数显屏、电池和数显屏控制按钮之间均为电连接。
6.根据权利要求5所述的曲面外形对缝阶差测量工具，其特征在于：数显芯片工作原理仿照数显游标卡尺芯片原理，利用容栅传感器，测量动定栅之间的电容量变化，每个芯片内设三个定栅，测量杆作为动栅，数显芯片可记录三个动栅与三个定栅产生的测量值并取均值显示在数显屏上。
7.根据权利要求5所述的曲面外形对缝阶差测量工具，其特征在于：数显屏控制按钮包括电源键和调零键，电源键用于控制电源的开或者关，调零键用于将数显屏上的数值归零。
8.根据权利要求1所述的曲面外形对缝阶差测量工具，其特征在于：紧固件为螺钉。
9.一种曲面外形对缝阶差的测量方法，该方法通过使用如权利要求1至8任一项所述的曲面外形对缝阶差测量工具实现，其特征在于：具体包括以下步骤：
10.根据权利要求9所述的曲面外形对缝阶差的测量方法，其特征在于：每次测量时每个转动盘上的三个测量杆均落在曲面上。
...【技术特征摘要】
1.一种曲面外形对缝阶差测量工具，其特征在于：包括基准板，转动盘、测量装置、数显设备和紧固件，基准板设有两块，呈上下分布，两块基准板通过紧固件固定，转动盘设有两个，两个转动盘均为圆形，两个转动盘均嵌在基准板内，并可自由水平转动，两个转动盘在基准板上呈左右对称分布，且之间留有间隙，数显设备设有两个，均通过紧固件分别固定于两个转动盘上，测量装置设有六个，每个转动盘上均固定有三个测量装置，六个测量装置均与曲面接触，数显设备用于测量和显示曲面阶差值，基准板与两曲面间缝隙垂直。
2.根据权利要求1所述的曲面外形对缝阶差测量工具，其特征在于：两个转动盘上的测量装置和数显设备均以两个转动盘之间的间隙的中部为基准呈对称设置。
3.根据权利要求1所述的曲面外形对缝阶差测量工具，其特征在于：测量装置包括测量杆和测量杆套筒，测量杆下端固定于转动盘内并穿过转动盘套入测量杆套筒中，测量杆可在测量杆套筒内上下滑动，测量杆与测量杆套筒间采用间隙配合，每三个测量杆在每个转动盘内均按内接正三角形均匀分布，且左右两个转动盘上的测量杆间最小间距为4mm，测量杆上端露出上端的基准板端面，测量杆套筒位于转动盘下端，且测量杆套筒下端露出下端的基准板端面。
4.根据权利要求3所述的曲面外形对缝阶差测量工具，其特征在于：测量杆与测量杆套筒间还套有阻力橡胶套。
5.根据权利要求3所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：万怡仕，葛亮，尹恩贝，王亮，王振博，郑子越，涂志文，束飞，
申请(专利权)人：江西洪都航空工业集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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