【技术实现步骤摘要】
本申请属于二极管阵列，具体涉及一种受光结构、光电二极管和二极管阵列检测器。
技术介绍
1、二极管阵列检测器检测器即光电二级阵列管检测器又称光电二极管列阵检测器或光电二极管矩阵检测器，表示为pda(photo-diode array)、pdad(photo-diode arraydetector)或(diode array detector，dad)是20世纪80年代出现的一种光学多通道检测器。在晶体硅上紧密排列一系列光电二极管，每一个二极管相当于一个单色器的出口狭缝，二极管越多分辨率越高，一般是一个二极管对应接受光谱上一个纳米谱带宽的单色光。
2、目前，光电二极管阵列检测器检测器已在高效液相色谱分析中大量使用，是液相色谱最有发展、最好的检测器之一。但现在市场上的二极管阵列检测器类受光芯片对光源的要求较高，受光芯片必须配套平行光发射管使用，当发射端不是平行光光源时，产品会丧失其原有功能，产品使用受限程度较大。
技术实现思路
1、本申请旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。
2、为此，本申请提出了一种受光结构，包括：受光芯片和汇聚透镜；受光芯片与电路板电连接；汇聚透镜包括聚光部和固定部，固定部覆盖在受光芯片的上方，固定部与电路板相连接，聚光部设置在固定部远离电路板的一侧，聚光部位于光源和栅格之间，聚光部用于将光源发出的光线转化为平行光线。
3、另外，本申请提供的上述技术方案中的一种受光结构还可以具有如下附加技术特征：
4、在
5、在一种可行的实施方式中，凸透镜结构为非球面透镜结构。
6、在一种可行的实施方式中，凸透镜结构靠近光源的表面为曲面，且曲面向靠近光源的方向凸起。
7、在一种可行的实施方式中，曲面的对称线与光源的光轴重合。
8、在一种可行的实施方式中，固定部远离聚光部的表面上设置有凹槽，凹槽用于固定受光芯片，使固定部与电路板连接后覆盖在受光芯片的外侧。
9、在一种可行的实施方式中，汇聚透镜为一体式成型结构。
10、在一种可行的实施方式中，汇聚透镜为环氧树脂材质。
11、本申请的第二方面，提供了一种光电二极管，包括如上述的受光结构。
12、本申请的第三方面，提供了一种二极管阵列检测器，包括如上述的光电二极管。
13、本申请的一种受光结构，与现有技术相比，有益效果为：
14、通过在光源与栅格之间设置聚光透镜，使光源发射的普通光线在通过聚光透镜时被聚光透镜汇聚形成平行光线，平行光线经过栅格后照射到受光芯片上，使受光芯片接收到的光线为平行光线，使受光芯片不局限于光源的发光形式，减少光源对受光芯片的限制，提高了受光芯片的适应性，有利于产品性能的升级，实现功能多样化，提高实用性。
15、通过将固定部与电路板连接，以通过固定部将聚光部稳定连接在电路板上，通过电路板对聚光部进行有效支撑和固定，提高受光结构整体的可靠性，有利于实现受光结构的一体化。
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1.一种受光结构，其特征在于，所述受光结构包括：
2.根据权利要求1所述的一种受光结构，其特征在于：
3.根据权利要求2所述的一种受光结构，其特征在于：
4.根据权利要求3所述的一种受光结构，其特征在于：
5.根据权利要求4所述的一种受光结构，其特征在于：
6.根据权利要求1所述的一种受光结构，其特征在于：
7.根据权利要求1所述的一种受光结构，其特征在于：
8.根据权利要求1所述的一种受光结构，其特征在于：
9.一种光电二极管，其特征在于，包括如权利要求1～8任意一项所述的受光结构。
10.一种二极管阵列检测器，其特征在于，包括如权利要求9所述的光电二极管。
【技术特征摘要】
1.一种受光结构，其特征在于，所述受光结构包括：
2.根据权利要求1所述的一种受光结构，其特征在于：
3.根据权利要求2所述的一种受光结构，其特征在于：
4.根据权利要求3所述的一种受光结构，其特征在于：
5.根据权利要求4所述的一种受光结构，其特征在于：
6.根据权利要求1所...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱洪杰，刘承双，
申请(专利权)人：沈阳中光电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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