【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及偏振成像，具体为一种光学偏振成像系统及操作方法。
技术介绍
1、光波具有振幅、相位、偏振、波长等物理特性，获取目标的偏振和多光谱信息可以对测量的目标有更清晰的认识，比如：物体的表面形貌、特性、材质等，从而实现成像质量的提升。目前偏振成像和多光谱成像在医疗内窥、航天探测、军事安全等领域有着重要应用。传统的集成化偏振多光谱成像方法主要有两种：(1)分时扫描技术，通过旋转滤光片轮的方式分时对不同偏振态和波长通道进行探测，该方法耗时长。(2)分焦面技术，在像平面上分区域排列不同的偏振和波长探测阵列，从而同时获得偏振多光谱信息，该方法目前只能获取代表偏振信息的斯托克斯参量中的前三个参量，偏振信息不全。此外，传统偏振成像往往需要使用不同的光路，具有频繁更换光学元件、体积大，结构复杂的缺点，因此本专利技术提供了一种光学偏振成像系统及操作方法。
技术实现思路
1、(一)解决的技术问题
2、针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种光学偏振成像系统及操作方法，解决了上述
技术介绍
中提出的问题。
3、(二)技术方案
4、为实现以上目的，本专利技术提供如下技术方案：一种光学偏振成像系统及操作方法，该系统包括由滤光片、矢量衍射超表面结构组合而成的多光谱偏振成像模块；所述多光谱偏振成像模块置于成像系统的光瞳位置；所述矢量衍射超表面结构采用对不同偏振态光波具有差异化响应的周期单元结构组成，所述滤光片与矢量衍射超表面结构中心对准、贴合，待测样品经滤光片提取其波长信息
5、优选的，多光谱偏振成像系统工作模式是透射式或反射式，所述矢量衍射超表面由基底与基底上的纳米结构单元形成的周期阵列构成，纳米结构具有各向异性，是矩形柱、光栅、椭圆孔或椭圆柱结构，对偏振敏感。
6、优选的，根据工作模式，所述矢量衍射超表面结构材料分为反射式材料和透射式材料；所述反射式材料为金属材料，包括铝、金和银；所述透射式材料为介质或半导体材料，包括二氧化铪、二氧化钛、氮化硅、硅和锗。
7、优选的，所述矢量衍射超表面结构具有宽带工作特性，通过调节纳米结构的几何尺寸、方向转角以及在所在周期单元中的相对位置，实现振幅、相位、偏振态的调控；矢量衍射超表面结构的相位编码方式为迂回相位。
8、优选的，所述矢量衍射超表面结构的周期单元结构采用正交排列放置的铝纳米棒周期衍射结构，滤光片可窄带透过多个波长，通过镀膜设计成单个滤光片透过多个波段，或将多个不同波长透过的滤光片进行分块组合实现。
9、优选的，使用成像系统对待测样品进行成像前，需要使用已知多光谱数据和斯托克斯参量数据的标准样品对各波长通道和各斯托克斯参量的成像强度值进行预标定。
10、优选的，使用黑白相机对待测样品进行拍照得到图像数据，结合预标定的数据，使用线性回归方法进行数据处理，得到待测样品的波长和偏振态信息。
11、优选的，该方法包括如下步骤：
12、(1)将滤光片与矢量衍射超表面结构中心对准、贴合，构成多光谱偏振成像模块，置于成像系统的光瞳位置；
13、(2)待测样品经滤光片提取其波长信息，通过矢量衍射超表面结构的衍射作用将具有不同波长不同偏振态的光信息经由成像透镜分区域成像在黑白相机上；
14、(3)通过对黑白相机上的图像强度分布进行处理，获取待测样品的光谱和偏振态信息。
15、(三)有益效果
16、与现有技术相比，本专利技术提供了一种光学偏振成像系统及操作方法，具备以下有益效果：
17、该光学偏振成像系统及操作方法，通过光学超表面可以对电磁波的振幅、相位、偏振等特性进行有效调控，与滤光片组合而成的多光谱偏振成像模块具有体积小、质量轻、易集成、易组装、可大面积加工的优势，可以一次成像实现多光谱、全偏振信息探测，结合透镜分区域成像到黑白相机上，具有无需切换光路、无需移动元件、无复杂偏振极化元件，可直接利用商用黑白相机成像等优点。
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1.一种光学偏振成像系统及操作方法，其特征在于：该系统包括由滤光片、矢量衍射超表面结构组合而成的多光谱偏振成像模块；所述多光谱偏振成像模块置于成像系统的光瞳位置；所述矢量衍射超表面结构采用对不同偏振态光波具有差异化响应的周期单元结构组成，所述滤光片与矢量衍射超表面结构中心对准、贴合，待测样品经滤光片提取其波长信息，通过矢量衍射超表面结构将具有不同波长不同偏振态的光信息在周期单元结构的衍射作用下，经由成像透镜分区域成像在黑白相机上，通过对黑白相机上的图像强度分布进行数据后处理，获取待测样品的光谱和偏振态信息。
2.根据权利要求1所述的一种光学偏振成像系统及操作方法，其特征在于：多光谱偏振成像系统工作模式是透射式或反射式，所述矢量衍射超表面由基底与基底上的纳米结构单元形成的周期阵列构成，纳米结构具有各向异性，是矩形柱、光栅、椭圆孔或椭圆柱结构，对偏振敏感。
3.根据权利要求1所述的一种光学偏振成像系统及操作方法，其特征在于：根据工作模式，所述矢量衍射超表面结构材料分为反射式材料和透射式材料；所述反射式材料为金属材料，包括铝、金和银；所述透射式材料为介质或半导体
4.根据权利要求1所述的一种光学偏振成像系统及操作方法，其特征在于：所述矢量衍射超表面结构具有宽带工作特性，通过调节纳米结构的几何尺寸、方向转角以及在所在周期单元中的相对位置，实现振幅、相位、偏振态的调控；矢量衍射超表面结构的相位编码方式为迂回相位。
5.根据权利要求1所述的一种光学偏振成像系统及操作方法，其特征在于：所述矢量衍射超表面结构的周期单元结构采用正交排列放置的铝纳米棒周期衍射结构，滤光片可窄带透过多个波长，通过镀膜设计成单个滤光片透过多个波段，或将多个不同波长透过的滤光片进行分块组合实现。
6.根据权利要求1所述的一种光学偏振成像系统及操作方法，其特征在于：使用成像系统对待测样品进行成像前，需要使用已知多光谱数据和斯托克斯参量数据的标准样品对各波长通道和各斯托克斯参量的成像强度值进行预标定。
7.根据权利要求1所述的一种光学偏振成像系统及操作方法，其特征在于：使用黑白相机对待测样品进行拍照得到图像数据，结合预标定的数据，使用线性回归方法进行数据处理，得到待测样品的波长和偏振态信息。
8.根据权利要求1所述的一种光学偏振成像系统及操作方法，其特征在于：该方法包括如下步骤：
...【技术特征摘要】
1.一种光学偏振成像系统及操作方法，其特征在于：该系统包括由滤光片、矢量衍射超表面结构组合而成的多光谱偏振成像模块；所述多光谱偏振成像模块置于成像系统的光瞳位置；所述矢量衍射超表面结构采用对不同偏振态光波具有差异化响应的周期单元结构组成，所述滤光片与矢量衍射超表面结构中心对准、贴合，待测样品经滤光片提取其波长信息，通过矢量衍射超表面结构将具有不同波长不同偏振态的光信息在周期单元结构的衍射作用下，经由成像透镜分区域成像在黑白相机上，通过对黑白相机上的图像强度分布进行数据后处理，获取待测样品的光谱和偏振态信息。
2.根据权利要求1所述的一种光学偏振成像系统及操作方法，其特征在于：多光谱偏振成像系统工作模式是透射式或反射式，所述矢量衍射超表面由基底与基底上的纳米结构单元形成的周期阵列构成，纳米结构具有各向异性，是矩形柱、光栅、椭圆孔或椭圆柱结构，对偏振敏感。
3.根据权利要求1所述的一种光学偏振成像系统及操作方法，其特征在于：根据工作模式，所述矢量衍射超表面结构材料分为反射式材料和透射式材料；所述反射式材料为金属材料，包括铝、金和银；所述透射式材料为介质或半导体材料，包括二氧化铪、二氧化钛、氮化硅、硅和锗。
<...【专利技术属性】
技术研发人员：袁宏武，薛彤，周韦安，
申请(专利权)人：苏州光择视觉科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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