【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及超材料，特别是涉及一种基于光子晶体的宽谱段多光谱超表面及测试系统。
技术介绍
1、基于光子晶体的建模仿真有许多通用工具，如有限差分时域方法、有限差分频域方法和有限元法，可以用于模拟具有二维周期性的三维结构。然而，对于由垂直于周期性的层不变的周期结构，傅里叶模态方法，也称为严格耦合波分析(rcwa)或散射矩阵方法，由于其傅里叶基表示，特别适合。基于光子晶体的多光谱超表面是严格波耦合分析的一个实现，用于计算层内的模态扩展，并结合散射矩阵(s-矩阵)算法，将各层连接在一起，以求解整个三维结构中的电磁场，可对超表面反射率和透射率进行评估。
2、光子晶体是一种人为设计的周期结构，具有光子带隙和光子定位这两个显著特征。这两个特性使人们能够根据需要自由地调整和控制电磁波的传输，为实现多光谱兼容提供了一种新的方法。
3、已有的基于光子晶体的多光谱超表面针对长波红外范围结构设计较少，尤其在长波红外宽谱段的范围，现有的宽谱段多光谱超表面还没有延申到长波红外范围，无法准确识别和测量长波红外宽谱段范围的不同波段的光。
技术实现思路
1、为了解决现有技术中光子晶体的多光谱超表面难以准确识别和测量长波红外宽谱段范围的不同波段的光的技术问题，本专利技术的一个目的在于提供一种搭载光子晶体的宽谱段多光谱超表面，所述多光谱超表面包括阵列的多个光子晶体单元结构；
2、每一个所述光子晶体单元结构包括3×3组光子晶体阵列，每一组所述光子晶体阵列具有不同周期的光子晶体；>
3、其中，每一组所述光子晶体阵列的参数如下：
4、所述光子晶体的厚度为所述光子晶体的晶格常数的一半，所述光子晶体的孔穴半径为0.4μm～2.8μm，所述光子晶体的晶格常数为1μm～3.6μm；
5、所述光子晶体阵列的相邻两行之间，对应的光子晶体之间的连线与水平线的夹角θ为30°～90°。
6、本专利技术的另一个目的在于提供一种搭载光子晶体的宽谱段多光谱超表面的测试系统，所述测试系统包括：
7、混合光采集系统，用于采集搭载光子晶体的宽谱段多光谱超表面的不同波段的透射光或者反射光；
8、其中，所述混合光采集系统包括：
9、混合光源，用于发出具有不同波段的混合光；
10、第一分束器，用于将所述混合光源发出的混合光分为第一束混合光和第二束混合光；
11、第一带通滤波器，用于将第一束混合光分离出第一波段的光；
12、第二带通滤波器，用于将第二束混合光分离出第二波段的光；
13、第二分束器，用于将第一波段的光和第二波段的光按照3：4的光功率比重新组合为复合光；
14、所述复合光以不同的角度照射所述搭载光子晶体的宽谱段多光谱超表面；
15、对照系统，用于对混合光采集系统，采集的搭载光子晶体的宽谱段多光谱超表面的不同波段的透射光或者反射光进行对照；
16、其中，所述对照系统包括；
17、第一激光器，用于发出第一波段的光；
18、第一准直器，用于将第一波段的光准直至搭载光子晶体宽谱段多光谱超表面的长波红外探测器；
19、第二激光器，用于发出第二波段的光；
20、第二准直器，用于将第二波段的光准直至搭载宽谱段多光谱超表面的长波红外探测器。
21、本专利技术的又一个目的在于提供一种多光谱长波红外探测器，其特征在于，所述多光谱长波红外探测器包括本专利技术提供的一种基于光子晶体的宽谱段多光谱超表面。
22、本专利技术提供的一种基于光子晶体的宽谱段多光谱超表面及测试系统，采用严格耦合波分析法和分子束外延gasb层、电子束曝光转移图案及刻蚀技术，制备搭载光子晶体的宽谱段多光谱超表面，可实现长波红外8-10μm激光的多光谱兼容和识别。
23、本专利技术提供的一种搭载光子晶体的宽谱段多光谱超表面及测试系统，通过测量具有不同强度和带宽的光源，将来自两个不同波段的光束组合起来，以不同的角度照射所述搭载宽谱段多光谱超表面的长波红外探测器，并重建精确的光谱分量，实现基于光子晶体的宽谱段多光谱超表面对不同波段光的准确识别和测量。
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1.一种基于光子晶体的宽谱段多光谱超表面，其特征在于，所述多光谱超表面包括阵列的多个光子晶体单元结构；
2.一种搭载光子晶体的宽谱段多光谱超表面的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：
3.一种多光谱长波红外探测器，其特征在于，所述多光谱长波红外探测器包括权利要求1所述的一种基于光子晶体的宽谱段多光谱超表面。
【技术特征摘要】
1.一种基于光子晶体的宽谱段多光谱超表面，其特征在于，所述多光谱超表面包括阵列的多个光子晶体单元结构；
2.一种搭载光子晶体的宽谱段多光谱超表面的测试系统，...
【专利技术属性】
技术研发人员：祝连庆，王尚，鹿利单，董明利，何彦霖，陈伟强，陈光，
申请(专利权)人：北京信息科技大学，
类型：发明
国别省市：
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