【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电子设备测试性，尤其涉及一种电子设备测试性设计薄弱点搜索方法。
技术介绍
1、随着装备系统性能的提高和复杂程度的增加，对系统内各电子设备的测试性要求也不断提高。快速、有效的搜索电子设备测试性设计的薄弱点，及时开展测试性设计改进，实现电子设备测试性水平的增长刻不容缓。
2、工程实践中，测试性分配、测试性预计和测试性验证试验通常是以电子设备为研究对象分阶段开展的。测试性分配分别与测试性预计和测试性验证试验形成闭环，在每一环路内部开展迭代工作，迭代结束后再进入下一闭环。例如：电子设备整体完成测试性试验后，若测试性指标未达标，则针对试验问题项和仅能人工检测的故障模式进行全面的改进，而未对改进的目标和需改进的对象进行有效的评估。因此，在实现电子设备测试性增长的过程中，不但造成了时间、资金和人力成本的浪费，而且不能保证改进效果达到预期。
技术实现思路
1、为在电子设备设计阶段有效的评估其现有测试性指标与测试性要求之间的差距，准确定位电子设备中需要进行测试性设计改进的关键层次，确定关键层次测试性增长的目标，节约测试性增长的各项成本，本专利技术提出一种电子设备测试性设计薄弱点搜索方法，该方法可以评估电子设备各层次的测试性水平，对符合要求的层次进行验证，不符合要求的层次进行定位，围绕“评估-验证-定位”三步走策略，搜索电子设备测试性设计薄弱点，指导测试性设计改进工作的有序开展，避免盲目改进造成的浪费，最终实现电子设备测试性水平的增长，有效节约成本，保证电子设备原有测试性水平
2、第一方面，提供一种电子设备测试性设计薄弱点搜索方法，所述方法包括：
3、步骤1：采用测试性分配方法进行测试性指标的分配，得到电子设备各层次的测试性指标分配值；
4、步骤2：根据电子设备故障模式的分析结果进行测试性指标的预计，得到电子设备各层次的测试性指标预计值；
5、步骤3：比较电子设备各层次的测试性指标分配值与预计值，若各层次预计值均不满足(小于)分配值，进行测试性设计改进工作；若存在满足(大于等于)分配值的层次，满足的层次转步骤4，不满足的层次转步骤6；
6、步骤4：开展测试性验证试验来验证电子设备中预计值满足(大于等于)分配值层次的测试性指标，得到测试性指标验证值；比较电子设备中预计值满足(大于等于)分配值层次的分配值与验证值；若验证值均不满足(小于)分配值要求，进行测试性设计改进工作；若存在满足(大于等于)分配值的层次，满足的层次转步骤5，不满足的层次转步骤6；
7、步骤5：固定电子设备中满足(大于等于)分配值的层次的测试性指标，若除该固定测试性指标的层次以外，还存在尚未固定测试性指标的层次，则转步骤6；否则，完成电子设备测试性设计薄弱点的搜索，根据搜索结果进行电子设备的测试性增长工作；
8、步骤6：剔除电子设备中测试性指标已固定的层次，进行测试性指标再分配，得到电子设备其余各层次的测试性指标分配值；
9、步骤7：比较电子设备其余各层次的测试性指标再分配值与预计值，若各层次预计值均不满足(小于)再分配值要求，进行测试性设计改进工作；若存在满足(大于等于)再分配值的层次，则转步骤4开展测试性验证试验验证。
10、根据步骤1-步骤7开展测试性相关工作，可在适当的时机确定适当的改进对象及目标，搜索电子设备测试性设计的薄弱点并进行设计改进。
11、其中，步骤1包括：根据电子设备面向测试性的故障模式影响及危害性分析(fmeca，failure modes,effects and criticality analysis)结果，得到电子设备各层次的故障率，然后采用按故障率分配的方法确定电子设备各层次测试性指标分配值。
12、其中，步骤2包括：提取面向测试性的fmeca中电子设备各层次的故障模式、故障模式故障率及检测方式信息，对电子设备各层次的测试性指标进行预计，得到预计值。
13、其中，步骤3包括：比较电子设备各层次的测试性指标分配值与预计值，若各层次预计值均不满足(小于)分配值，进行测试性设计改进工作；若存在满足(大于等于)分配值的层次，满足的层次转步骤4，不满足的层次转步骤6。
14、其中，步骤4包括：若已知电子设备某层次的测试性预计值满足(大于等于)测试性分配值，则开展测试性验证试验来验证实际测试性指标是否也满足测试性分配值(即与预计结果一致)；若各层次验证值均不满足(小于)分配值要求(即与预计结果不符)，进行测试性设计改进工作；若存在满足(大于等于)分配值的层次，满足的层次转步骤5，不满足的层次转步骤6。
15、其中，步骤5包括：经过测试性验证试验验证后，对满足(大于等于)测试性分配值的层次的测试性指标进行固定；若除该固定测试性指标的层次以外，还存在尚未固定测试性指标的层次，则转步骤6；否则，完成电子设备测试性设计薄弱点的搜索，根据搜索结果进行电子设备的测试性增长工作。
16、其中，步骤6包括：将测试性指标已固定的层次作为电子设备的老组件，采用有老组件时的分配法和按故障率分配法相结合的方式完成测试性指标的再分配，更新电子设备其余各层次测试性指标分配值。
17、其中，步骤7包括：将电子设备其余各层次测试性指标预计结果与再分配值进行比较，若各层次预计值均不满足(小于)再分配值要求，进行测试性设计改进工作；若存在满足(大于等于)再分配值的层次，则转步骤4开展测试性验证试验验证。
18、进一步地，所述方法还包括：进行测试性设计改进工作，所述测试性设计改进工作包括硬件设计改进和软件设计改进，若改进硬件设计，则补充面向测试性的fmeca分析中的故障模式、故障模式故障率和检测方式，相应的更新测试性分配和预计的结果；若改进软件设计，则更新fmeca中的故障模式检测方式，相应的更新测试性预计结果。
19、完成测试性设计改进后，重新进入步骤1或步骤2进行循环迭代，直至满足测试性指标的增长要求即可终止。
20、本专利技术的有益效果至少在于：
21、通过本专利技术，可以评估电子设备当前的测试性水平，尽早锁定测试性设计薄弱点，有针对性的进行测试性设计改进。对预计值满足(大于等于)分配值的组件进行测试性试验验证，固定后再分配，重复此过程，若仍存在不满足(小于)分配值的组件，则对其进行测试性设计改进，缩短改进周期。此外，还能节约整机测试性验证试验成本、整机测试性设计改进成本等，为实现电子设备测试性的增长提供了有力支撑。
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1.一种电子设备测试性设计薄弱点搜索方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤1包括：根据电子设备面向测试性的故障模式影响及危害性分析FMECA结果，得到电子设备各层次的故障率，然后采用按故障率分配的方法确定电子设备各层次测试性指标分配值。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤2包括：提取面向测试性的FMECA中电子设备各层次的故障模式、故障模式故障率及检测方式信息，对电子设备各层次的测试性指标进行预计，得到预计值。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤3包括：比较电子设备各层次的测试性指标分配值与预计值，若各层次预计值均不满足分配值，进行测试性设计改进工作；若存在满足分配值的层次，满足的层次转步骤4，不满足的层次转步骤6。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤4包括：若已知电子设备某层次的测试性预计值满足测试性分配值，则开展测试性验证试验来验证实际测试性指标是否也满足测试性分配值；若各层次验证值均不满足分配值要求，进行测试性设计改进工作；若存在满足分配值的层次，满
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤5包括：经过测试性验证试验验证后，对满足测试性分配值的层次的测试性指标进行固定；若除该固定测试性指标的层次以外，还存在尚未固定测试性指标的层次，则转步骤6；否则，完成电子设备测试性设计薄弱点的搜索，根据搜索结果进行电子设备的测试性增长工作。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤6包括：将测试性指标已固定的层次作为电子设备的老组件，采用有老组件时的分配法和按故障率分配法相结合的方式完成测试性指标的再分配，更新电子设备其余各层次测试性指标分配值。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤7包括：将电子设备其余各层次测试性指标预计结果与再分配值进行比较，若各层次预计值均不满足再分配值要求，进行测试性设计改进工作；若存在满足再分配值的层次，则转步骤4开展测试性验证试验验证。
9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：进行测试性设计改进工作，所述测试性设计改进工作包括硬件设计改进和软件设计改进，若改进硬件设计，则补充面向测试性的FMECA分析中的故障模式、故障模式故障率和检测方式，相应的更新测试性分配和预计的结果；若改进软件设计，则更新FMECA中的故障模式检测方式，相应的更新测试性预计结果。
...【技术特征摘要】
1.一种电子设备测试性设计薄弱点搜索方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤1包括：根据电子设备面向测试性的故障模式影响及危害性分析fmeca结果，得到电子设备各层次的故障率，然后采用按故障率分配的方法确定电子设备各层次测试性指标分配值。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤2包括：提取面向测试性的fmeca中电子设备各层次的故障模式、故障模式故障率及检测方式信息，对电子设备各层次的测试性指标进行预计，得到预计值。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤3包括：比较电子设备各层次的测试性指标分配值与预计值，若各层次预计值均不满足分配值，进行测试性设计改进工作；若存在满足分配值的层次，满足的层次转步骤4，不满足的层次转步骤6。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤4包括：若已知电子设备某层次的测试性预计值满足测试性分配值，则开展测试性验证试验来验证实际测试性指标是否也满足测试性分配值；若各层次验证值均不满足分配值要求，进行测试性设计改进工作；若存在满足分配值的层次，满足的层次转步骤5，不满足的层次转步骤6。
6.根据权利要求1所述的方法，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：姜梅，张月明，王冬，祁霖，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司金城南京机电液压工程研究中心，
类型：发明
国别省市：
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