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【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体领域,尤其是涉及新基板制作领域,具体为一种减少线宽间隙的新型基板制作流程。
技术介绍
1、随着半导体技术不断的提升,目前处于倒装芯片封装技术升级阶段。
2、为了提高封装内存的市场竞争力,半导体的芯片已经升级到ddr5,为低功耗,高频率,多内存的倒装芯片封装模式,用来提高内存容量和成本优势。
3、常规工艺在基板上通过曝光、显影、蚀刻和褪膜形成所需线路,在此过程中容易形成under-cut(底切度)的情况,导致线路上下不均匀等问题
4、此时,对于我们使用的基板材料,对于线宽间隙要求自然也越来越高,为了满足其要求,致力于开发新型窄线宽间隙的基板尤为重要。
技术实现思路
1、鉴于以上所述现有技术的缺点,本专利技术的目的在于提供一种减少线宽间隙的新型基板制作流程,用于解决现有技术的难点。
2、为实现上述目的及其他相关目的,本专利技术提供一种减少线宽间隙的新型基板制作流程,包括以下工序:
3、步骤s1:获取原材料,原材料的上下表面带有一层铜层;
4、步骤s2:在带有铜层的原材料板材上进行钻孔的操作并削弱铜层,用于打穿原材料,在原材料上形成需要的孔位结构,并对通孔四周的毛边进行有效去除;
5、步骤s3:在对经过所述步骤s2形成的通孔内进行镀铜,在孔壁上留下铜层;
6、步骤s4:线路制作;
7、步骤s4.1:曝光,在原材料的铜层上覆膜,膜上按照线路所需要的部分进行设计;<
...【技术保护点】
1.一种减少线宽间隙的新型基板制作流程,其特征在于,包括以下工序:
2.根据权利要求1所述的减少线宽间隙的新型基板制作流程,其特征在于,所述步骤S2在打小孔之前,在原材料的铜层外侧面上贴附有铝板层。
3.根据权利要求2所述的减少线宽间隙的新型基板制作流程,其特征在于,在所述步骤S1内还包括对原材料进行薄蚀铜,去除表面氧化物。
4.根据权利要求3所述的减少线宽间隙的新型基板制作流程,其特征在于,经过所述步骤S4制成的基板表面线路上下宽度一致。
5.根据权利要求4所述的减少线宽间隙的新型基板制作流程,其特征在于,根据所述步骤S4.5闪蚀后形成的线路很截面为矩形。
6.根据权利要求5所述的减少线宽间隙的新型基板制作流程,其特征在于,所述步骤S1中原材料采用卷料。
7.根据权利要求6所述的减少线宽间隙的新型基板制作流程,其特征在于,所述步骤S1中原材料表面铜层厚度为3um。
【技术特征摘要】
1.一种减少线宽间隙的新型基板制作流程,其特征在于,包括以下工序:
2.根据权利要求1所述的减少线宽间隙的新型基板制作流程,其特征在于,所述步骤s2在打小孔之前,在原材料的铜层外侧面上贴附有铝板层。
3.根据权利要求2所述的减少线宽间隙的新型基板制作流程,其特征在于,在所述步骤s1内还包括对原材料进行薄蚀铜,去除表面氧化物。
4.根据权利要求3所述的减少线宽间隙的新型基板制作流程,其特...
【专利技术属性】
技术研发人员:张浩,
申请(专利权)人:海太半导体无锡有限公司,
类型:发明
国别省市:
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