【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电子元器件检测领域，尤其涉及一种双面探针台。
技术介绍
1、对微观器件（尺寸在微米至毫米量级）进行光信号或者电信号测试、验证时，需要精准的将探针（探头）对准微观器件的电极（或感光区域），然后加载电（或光）信号，以此来进行相关性能测试、验证。
2、对于复杂的被测件，如正面和背面均有需要测试的区域时，需要使用双面探针台来进行测试。
技术实现思路
1、为满足上述技术需要，本技术旨在提供一种双面探针台，该种双面探针台能够满足易用性、稳定性和可靠性的要求。
2、本技术采用的技术方案如下：
3、双面探针台，包括上探针、下探针，下探针位于上探针的下方，所述上探针安装在上层探针台面，所述上层探针台面安装于龙门机构上，所述下探针安装在下层探针台面；
4、本技术还包括镂空卡盘，所述镂空卡盘位于上层探针台面与下层探针台面之间；
5、本技术还包括显微镜，所述显微镜用于观察被测件与上探针、下探针之间的定位。
6、进一步的，所述上探针、...
【技术保护点】
1.双面探针台，其特征在于：包括上探针、下探针，下探针位于上探针的下方，所述上探针安装在上层探针台面，所述上层探针台面安装于龙门机构上，所述下探针安装在下层探针台面；
2.根据权利要求1所述的双面探针台，其特征在于：所述上探针、下探针均配置有位置调节机构。
3.根据权利要求2所述的双面探针台，其特征在于：所述位置调节机构为精密探针定位器或射频探针座。
4.根据权利要求1所述的双面探针台，其特征在于：所述镂空卡盘安装在三相位移台上。
5.根据权利要求4所述的双面探针台，其特征在于：所述三相位移台安装在基座上，所述下层探针台
【技术特征摘要】
1.双面探针台，其特征在于：包括上探针、下探针，下探针位于上探针的下方，所述上探针安装在上层探针台面，所述上层探针台面安装于龙门机构上，所述下探针安装在下层探针台面；
2.根据权利要求1所述的双面探针台，其特征在于：所述上探针、下探针均配置有位置调节机构。
3.根据权利要求2所述的双面探针台，其特征在于：所述位置调节机构为精密探针定位器或射频探针座。
4.根据权利要求1所述的双面探针台，其特征在于：所述镂空卡盘安装在三相位移台上。
5.根据权利要求4所述的双面探针台，其特征在于：所述三相位移台安装在基座上，所述下...
【专利技术属性】
技术研发人员：曹让辉，
申请(专利权)人：成都测芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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