一种V93000平台下的ADC参数测试方法技术

本发明专利技术公开了一种V93000平台下的ADC参数测试方法。该V93000平台下的ADC参数测试方法包括：在V93000平台上对待测ADC芯片进行测试，并采集第一种数据和第二种数据；其中，第一种数据为满足输入信号具有谐波失真，并对输入信号进行非相干采样；第二种数据为满足输入信号幅度范围超出ADC的满量程范围，并对输入信号进行非相干采样；对第一种数据进行基波谐波二次估计；对第二种数据进行削波识别与替换。由此可知，通过基波谐波二次估计法可以极大改善由非相干采样引起的频谱泄漏现象，同时通过基波谐波二次估计法可以极大改善由非相干采样引起的频谱泄漏和去除由超量程输入引起的大量杂散失真，提高测试准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及adc测试，尤其涉及一种v93000平台下的adc参数测试方法。

技术介绍

1、模数转化器作为将连续的模拟信号转换为计算机可以处理的数字信号期间，即现实世界与机器语言之间的重要接口，已经成为现代电子系统中不可或缺的重要组成部分。随着电子技术的不断发展，adc在无线通信、医疗设备、控制系统以及数字消费类产品等方面有着广泛的应用。为了满足更高层次的应用需求，adc芯片的集成度以及内部复杂度不断提高，这就需要更高效、可靠的adc测试方法对芯片进行性能测试以保证芯片的稳定性应用。

2、普通的芯片测试流程是在芯片开发的最后阶段对芯片进行ate测试程序开发及芯片验证，耗时长。对于内建自测试而言，容易出现因为非相干采样引起的频谱泄漏现象而造成测试精度较低的现象发生，大大影响了adc的测试精度，因此，有必要研究提高adc测试精度的方法。

技术实现思路

1、本专利技术提供了一种v93000平台下的adc参数测试方法，以实现对adc参数的精确测试。

2、根据本专利技术的一方面，提供了一种v9本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种V93000平台下的ADC参数测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的V93000平台下的ADC参数测试方法，其特征在于，所述对所述第一种数据进行基波谐波二次估计，包括：

3.根据权利要求2所述的V93000平台下的ADC参数测试方法，其特征在于，所述具有谐波失真的输入信号的模型的计算公式为：

4.根据权利要求2所述的V93000平台下的ADC参数测试方法，其特征在于，所述数字输出的模拟表达式为：

5.根据权利要求2所述的V93000平台下的ADC参数测试方法，其特征在于，所述基于所述数字输出的模拟表达式进行基波谐波二...

【技术特征摘要】

1.一种v93000平台下的adc参数测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的v93000平台下的adc参数测试方法，其特征在于，所述对所述第一种数据进行基波谐波二次估计，包括：

3.根据权利要求2所述的v93000平台下的adc参数测试方法，其特征在于，所述具有谐波失真的输入信号的模型的计算公式为：

4.根据权利要求2所述的v93000平台下的adc参数测试方法，其特征在于，所述数字输出的模拟表达式为：

5.根据权利要求2所述的v93000平台下的adc参数测试方法，其特征在于，所述基于所述数字输出的模拟表达式进行基波谐波二次估计，包括：...

【专利技术属性】
技术研发人员：李鹏，习伟，陈军健，张巧惠，董飞龙，向柏澄，邝野，王泽宇，刘德宏，
申请(专利权)人：南方电网数字电网研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：