【技术实现步骤摘要】
本申请属于漏电检测，尤其涉及一种漏电检测电路和漏电检测设备。
技术介绍
1、充电桩是指为电动汽车提供充电服务的充电设备。其在充电桩的使用过程中，可能存在漏电的情况。当漏电情况严重时有可能发生较大的安全事故，并造成一定的经济损失，因此，需要对充电桩的漏电情况进行检测。
2、然而，目前的漏电保护方案无法实现漏电的高精度采样，导致漏电检测存在误差较大的问题。
技术实现思路
1、为了解决上述技术问题，本申请实施例提供了一种漏电检测电路和漏电检测设备，可以解决目前的漏电保护方案无法实现漏电的高精度采样，导致漏电检测存在误差较大的问题。
2、本申请实施例第一方面提供了一种漏电检测电路，所述漏电检测电路包括：
3、环形磁通门，用于感应电线上的漏电流，并生成漏电信号；
4、激磁采样电路，与所述环形磁通门连接，用于对所述环形磁通门产生的漏电信号进行采样得到激磁采样信号，并将所述激磁采样信号转换为脉宽调制信号；
5、信号调理电路，与所述激磁采样电路连接，用于接收所述脉宽调制信号，并对所述脉宽调制信号依次进行放大处理和滤波处理，得到漏电采样信号。
6、在一个实施例中，所述漏电检测电路还包括：
7、自检驱动电路，与所述环形磁通门连接，用于接收漏电控制信号，并根据所述漏电控制信号驱动所述环形磁通门生成漏电信号。
8、在一个实施例中，所述漏电检测电路还包括：
9、主控电路，与所述自检驱动电路和所述信号调
10、在一个实施例中，所述自检驱动电路包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、可控硅芯片、第一钳位二极管以及第一开关管；
11、所述第一电阻的第一端作为漏电控制信号输入端，所述第一电阻的第二端、所述第一开关管的控制端，所述可控硅芯片的阴极共接，所述可控硅芯片的阳极、所述第二电阻的第一端共接于地，所述可控硅芯片的控制端、所述第一开关管的第一端、所述第二电阻的第二端共接，所述第一开关管的第二端、所述第一钳位二极管的第一端共接于所述环形磁通门的第四端，所述第一钳位二极管的第二端、所述第三电阻的第一端共接于所述环形磁通门的第三端，所述第三电阻的第二端接地。
12、在一个实施例中，所述激磁采样电路包括：
13、脉冲电压发生模块，用于根据所述漏电信号生成脉冲电压信号；
14、脉冲电压驱动模块，与所述脉冲电压发生模块、所述环形磁通门以及所述信号调理电路连接，用于根据所述脉冲电压信号向所述环形磁通门提供正负方向交替的方波脉冲驱动电压信号，并生成所述脉宽调制信号输出至所述信号调理电路。
15、在一个实施例中，所述脉冲电压发生模块包括：第四电阻、第五电阻、第六电阻、第一运算放大器芯片、第二钳位二极管；
16、所述第四电阻的第一端接地，所述第四电阻的第二端、所述第一运算放大器芯片的反相引脚以及所述第二钳位二极管的第一端共接于所述环形磁通门的第二端，所述第一运算放大器芯片的正相引脚、所述第五电阻的第一端、所述第六电阻的第一端共接，所述第五电阻的第二端接地，所述第一运算放大器芯片的电源引脚连接第一正电压供电端，所述第一运算放大器芯片的接地引脚连接第一负电压供电端，所述第一运算放大器芯片的输出引脚连接所述脉冲电压驱动模块，所述第六电阻的第二端、所述第二钳位二极管的第二端、所述环形磁通门的第一端共接。
17、在一个实施例中，所述脉冲电压驱动模块包括：第二开关管、第三开关管；
18、所述第二开关管的控制端以及所述第三开关管的控制端共接，所述第二开关管的第一端连接所述第一正电压供电端，所述第二开关管的第二端、所述第三开关管的第一端以及所述环形磁通门的第一端共接于所述信号调理电路，所述第三开关管的第二端连接所述第一负电压供电端。
19、在一个实施例中，所述信号调理电路包括：
20、反向放大模块，与所述激磁采样电路连接，用于接收所述脉宽调制信号，并对所述脉宽调制信号放大处理；
21、滤波模块，与所述反向放大模块连接，用于对所述反向放大模块输出的信号进行滤波处理。
22、在一个实施例中，所述反向放大模块包括：第七电阻、第八电阻、第二运算放大器芯片；
23、所述第七电阻的第一端连接所述激磁采样电路，所述第七电阻的第二端、所述第八电阻的第一端共接于所述第二运算放大器芯片的正相输入引脚，所述第八电阻的第二端接地，所述第二运算放大器芯片的反相输入引脚与所述第二运算放大器芯片的输出引脚共接于所述滤波模块。
24、在一个实施例中，所述滤波模块包括：第九电阻、第十电阻、第一电容；
25、所述第九电阻的第一端连接所述反向放大模块，所述第九电阻的第二端、所述第十电阻的第一端、所述第一电容的第一端共接作为所述滤波模块的输出端，所述第十电阻的第二端连接第二正电压供电端，所述第一电容的第二端接地。
26、本申请实施例第二方面还提供了一种漏电检测设备，包括：如上述任一项所述的漏电检测电路。
27、本申请实施例的有益效果：提供了一种漏电检测电路和漏电检测设备，通过环形磁通门感应电线上的漏电流，并生成漏电信号，由激磁采样电路与环形磁通门连接，对环形磁通门产生的漏电信号进行采样得到激磁采样信号，并将激磁采样信号转换为脉宽调制信号，接着，由信号调理电路对脉宽调制信号依次进行放大处理和滤波处理，得到漏电采样信号，从而实现对电线上存在的漏电流的高精度采样，解决了目前的漏电保护方案无法实现漏电的高精度采样，导致漏电检测存在误差较大的问题。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种漏电检测电路，其特征在于，所述漏电检测电路包括：
2.如权利要求1所述的漏电检测电路，其特征在于，所述漏电检测电路还包括：
3.如权利要求2所述的漏电检测电路，其特征在于，所述漏电检测电路还包括：
4.如权利要求2所述的漏电检测电路，其特征在于，所述自检驱动电路包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、可控硅芯片、第一钳位二极管以及第一开关管；
5.如权利要求1所述的漏电检测电路，其特征在于，所述激磁采样电路包括：
6.如权利要求5所述的漏电检测电路，其特征在于，所述脉冲电压发生模块包括：第四电阻、第五电阻、第六电阻、第一运算放大器芯片、第二钳位二极管；
7.如权利要求1至6任一项所述的漏电检测电路，其特征在于，所述信号调理电路包括：
8.如权利要求7所述的漏电检测电路，其特征在于，所述反向放大模块包括：第七电阻、第八电阻、第二运算放大器芯片；
9.如权利要求7所述的漏电检测电路，其特征在于，所述滤波模块包括：第九电阻、第十电阻、第一电容；
10.一种漏电检测设备，其特征
...【技术特征摘要】
1.一种漏电检测电路，其特征在于，所述漏电检测电路包括：
2.如权利要求1所述的漏电检测电路，其特征在于，所述漏电检测电路还包括：
3.如权利要求2所述的漏电检测电路，其特征在于，所述漏电检测电路还包括：
4.如权利要求2所述的漏电检测电路，其特征在于，所述自检驱动电路包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、可控硅芯片、第一钳位二极管以及第一开关管；
5.如权利要求1所述的漏电检测电路，其特征在于，所述激磁采样电路包括：
6.如权利要求5所述的漏电检测电路，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：李圣根，江辉，龙云微，
申请(专利权)人：信义储电深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：
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