存储器芯片辐照检测方法技术

本申请提供一种存储器芯片辐照检测方法，存储模块中在辐照之前存入待检测数据，第一比对模块和第二比对模块分别预设相同第一验证数据和第二验证数据；启动后读取输出数据，并在电路板上分别由第一比对模块和第二比对模块进行比对，若输出数据与第一验证数据以及第二验证数据一致，则无错误，第一比对结果或第二比对结果发送到存储模块中存储；若不一致，第一自检模块和第二自检模块分别自检，获取第一错误率和第二错误率，若第一错误率高于第二错误率，将第二比对结果发送到数据压缩模块，对第二比对结果压缩，对于连续正确的数据，记录起始位置和连续正确的数据个数，对于错误数据，记录错误位置、错误类型及错误的值，最终在存储模块存储。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及存储器芯片辐照检测领域，具体而言，涉及一种存储器芯片辐照检测方法。

技术介绍

1、传统的存储器芯片抗辐照检测是指对存储器芯片在辐射环境下的稳定性和可靠性进行测试和评估的过程。辐射可能来自宇宙射线、放射性物质或其他辐射源。在辐射环境下，存储器芯片可能会受到辐射引起的位翻转、故障或损坏，导致数据丢失或存储器功能失效。

2、现有的抗辐照存储器检测技术主要存在短辐照时间内测试数据回传量大，回传到上位机操作复杂等问题，因此需要一套新的机制来实现存储器抗辐照检测方案。

技术实现思路

1、本申请实施例的目的在于提供一种存储器芯片辐照检测方法，用以实现在电路板上获得检测结果的技术效果。

2、本申请实施例提供了一种存储器芯片辐照检测方法，包括：在电路板上设置有抗辐照的存储模块、数据压缩模块，第一自检模块、第一比对模块、第二自检模块和第二比对模块，所述存储模块中在辐照之前存入待检测数据，所述第一比对模块和所述第二比对模块分别预设有第一验证数据和第二验证数据，第一验证数据与第二验证数据一致；辐照测本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储器芯片辐照检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储器芯片辐照检测方法，其特征在于，还包括：无线通讯模块，将所述存储模块内的数据封包，所述无线通讯模块重复传输数据到外部系统，外部系统将重复传输的数据封包作为包头，重复传输的数据为截取所述存储模块内的一段数据进行N次重复组成，N大于3。

3.根据权利要求1或2所述的存储器芯片辐照检测方法，其特征在于，若输出数据与第一验证数据或第二验证数据不一致，将第一比对结果和第二比对结果经所述数据压缩模块压缩后发送到所述存储模块。

4.根据权利要求1或2所述的存储器芯片辐照检测方法，其特征在...

【技术特征摘要】

1.一种存储器芯片辐照检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储器芯片辐照检测方法，其特征在于，还包括：无线通讯模块，将所述存储模块内的数据封包，所述无线通讯模块重复传输数据到外部系统，外部系统将重复传输的数据封包作为包头，重复传输的数据为截取所述存储模块内的一段数据进行n次重复组成，n大于3。

3.根据权利要求1或2所述的存储器芯片辐照检测方法，其特征在于，若输出数据与第...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨威，
申请(专利权)人：北京怀美科技有限公司，
类型：发明
国别省市：