【技术实现步骤摘要】
本申请涉及存储器芯片辐照检测领域，具体而言，涉及一种存储器芯片辐照检测方法。
技术介绍
1、传统的存储器芯片抗辐照检测是指对存储器芯片在辐射环境下的稳定性和可靠性进行测试和评估的过程。辐射可能来自宇宙射线、放射性物质或其他辐射源。在辐射环境下，存储器芯片可能会受到辐射引起的位翻转、故障或损坏，导致数据丢失或存储器功能失效。
2、现有的抗辐照存储器检测技术主要存在短辐照时间内测试数据回传量大，回传到上位机操作复杂等问题，因此需要一套新的机制来实现存储器抗辐照检测方案。
技术实现思路
1、本申请实施例的目的在于提供一种存储器芯片辐照检测方法，用以实现在电路板上获得检测结果的技术效果。
2、本申请实施例提供了一种存储器芯片辐照检测方法，包括：在电路板上设置有抗辐照的存储模块、数据压缩模块，第一自检模块、第一比对模块、第二自检模块和第二比对模块，所述存储模块中在辐照之前存入待检测数据，所述第一比对模块和所述第二比对模块分别预设有第一验证数据和第二验证数据，第一验证数据与第二验证数据一致；辐照测试之前，待测存储器芯片存入所述存储模块的待检测数据，启动辐照检测之后，读取待测存储器芯片得到的输出数据，将输出数据在电路板上分别由所述第一比对模块和所述第二比对模块与第一验证数据和第二验证数据进行比对，若输出数据与第一验证数据以及第二验证数据一致，则认定待测存储器芯片没有错误，将第一比对结果和/或第二比对结果发送到所述存储模块中存储；若输出数据与第一验证数据或第二验证数据不一致
3、在上述实现过程中，在电路板上设置有抗辐照的存储模块、数据压缩模块，第一自检模块、第一比对模块、第二自检模块和第二比对模块，存储模块中在辐照之前存入待检测数据，第一比对模块和第二比对模块分别预设有第一验证数据和第二验证数据，第一验证数据与第二验证数据一致；辐照测试之前，待测存储器芯片存入存储模块的待检测数据，启动辐照检测之后，读取待测存储器芯片得到的输出数据，将输出数据在电路板上分别由第一比对模块和第二比对模块与第一验证数据和第二验证数据进行比对，若输出数据与第一验证数据以及第二验证数据一致，则认定待测存储器芯片没有错误，待测存储器芯片没有问题，并且辐照也没有对待测存储器芯片造成损坏，将第一比对结果和第二比对结果发送到存储模块中存储，由于第一比对结果和第二比对结果一致，可以只存储第一比对结果或者第二比对结果；若输出数据与第一验证数据或第二验证数据不一致，此时可能第一比对模块出现问题，或者是第二比对模块出现问题，第一自检模块和第二自检模块分别进行自检，自检的方式为第一自检模块和第二自检模块内预设相同的初始固定值，第一自检模块和第二自检模块分别读取辐照后的固定值，获取辐照后的固定值中发生数据翻转值的数量，错误率=发生数据翻转值的数量/固定值总量，获取自检后的第一错误率和第二错误率，若第一错误率高于第二错误率，则将第二比对结果发送到数据压缩模块，数据压缩模块对第二比对结果压缩，对于第二比对结果中连续正确的数据，记录起始位置和连续正确的数据个数，对于连续的正确数据，记录起始位置和连续正确的数据个数可以大大减少所需记录的信息量。例如，如果从第50个数据位开始连续有200个数据位都是正确的，则可以记录为(50, 200)，而不是记录所有单独的正确数据位。对于错误数据，记录错误位置、错误类型及错误的值，由于错误数据通常数量较少，可以不压缩或者只进行轻量级压缩以便于错误分析，将压缩后的第二比对结果发送到存储模块存储；若第一错误率低于第二错误率，数据压缩模块对第一比对结果压缩，对于第一比对结果中连续正确的数据，记录起始位置和连续正确的数据个数，对于错误数据，记录错误位置、错误类型及错误的值，将压缩后第一比对结果发送到存储模块存储。将比对地点转移到电路板上，避免了回传到外部上位机的复杂操作，同时增加第一自检模块和第二自检模块的自检，可以判断第一比对模块和第二比对模块哪个结果更准确，避免因辐照导致的损坏出现结果不准确。
4、在一种可能的实现方式中，还包括：无线通讯模块，将所述存储模块内的数据封包，所述无线通讯模块重复传输数据到外部系统，外部系统将重复传输的数据封包作为包头，重复传输的数据为截取所述存储模块内的一段数据进行n次重复组成，n大于3。
5、在上述实现过程中，还包括无线通讯模块，将存储模块内的数据封包，并重复传输数据到外部系统，重复传输的数据即截取所述存储模块内的一段数据进行n次重复组成，n大于3，外部系统将重复传输的数据封包作为包头。通过无线通讯的方式，无需复杂的有线连接，同时为了保证无线通讯的安全性，可以重复传输数据，规定包头的确定方式，增强了数据传输的安全性。
6、在一种可能的实现方式中，若输出数据与第一验证数据或第二验证数据不一致，将第一比对结果和第二比对结果经所述数据压缩模块压缩后发送到所述存储模块。
7、在上述实现过程中，若输出数据与第一验证数据或第二验证数据不一致，将第一比对结果和第二比对结果经数据压缩模块压缩后发送到存储模块，实时检测到的任何不一致都标记为错误，记录更加准确。
8、在一种可能的实现方式中，还包括：修复模块，对第一比对结果和第二比对结果中可修复错误进行修复。
9、在上述实现过程中，修复模块包含了自我修复或纠错机制，例如纠错码内存，修复模块可以在检测到第一比对模块和第二比对模块错误后自动进行修正。纠错逻辑可以实时修复可修复的错误，以维护系统的正常功能。
10、在一种可能的实现方式中，当第一错误率或第二错误率高于预设阈值，停止当前测试，并对测试的辐照参数调整以继续测试。
11、在上述实现过程中，通过实时反馈第一错误率或第二错误率，当错误率高于预设阈值，停止当前测试，并对测试的辐照参数调整以继续测试，辐照参数可以为辐照强度、电流值、电压值等等，以保证测试结果的准确性。
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1.一种存储器芯片辐照检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的存储器芯片辐照检测方法，其特征在于，还包括：无线通讯模块，将所述存储模块内的数据封包，所述无线通讯模块重复传输数据到外部系统，外部系统将重复传输的数据封包作为包头，重复传输的数据为截取所述存储模块内的一段数据进行N次重复组成，N大于3。
3.根据权利要求1或2所述的存储器芯片辐照检测方法，其特征在于，若输出数据与第一验证数据或第二验证数据不一致，将第一比对结果和第二比对结果经所述数据压缩模块压缩后发送到所述存储模块。
4.根据权利要求1或2所述的存储器芯片辐照检测方法，其特征在于，还包括：修复模块，对第一比对结果和第二比对结果中可修复错误进行修复。
5.根据权利要求1或2所述的存储器芯片辐照检测方法，其特征在于，当第一错误率或第二错误率高于预设阈值，停止当前测试，并对测试的辐照参数调整以继续测试。
【技术特征摘要】
1.一种存储器芯片辐照检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的存储器芯片辐照检测方法，其特征在于，还包括：无线通讯模块，将所述存储模块内的数据封包，所述无线通讯模块重复传输数据到外部系统，外部系统将重复传输的数据封包作为包头，重复传输的数据为截取所述存储模块内的一段数据进行n次重复组成，n大于3。
3.根据权利要求1或2所述的存储器芯片辐照检测方法，其特征在于，若输出数据与第...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨威，
申请(专利权)人：北京怀美科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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