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本申请提供一种存储器芯片辐照检测方法，存储模块中在辐照之前存入待检测数据，第一比对模块和第二比对模块分别预设相同第一验证数据和第二验证数据；启动后读取输出数据，并在电路板上分别由第一比对模块和第二比对模块进行比对，若输出数据与第一验证数据以...
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