【技术实现步骤摘要】
本申请涉及密封圈检测，特别涉及一种密封圈的测量治具及检测设备。
技术介绍
1、密封圈在出厂前需要对其外径、内径以及厚度等尺寸进行检测。相关技术中，一般通过治具对密封圈进行固定，然后通过检测机构对密封圈进行检测。
2、现有技术中，一种治具包括底座和凹槽，凹槽设置在底座的上表面，凹槽为环形，检测过程中，将密封圈摆放至凹槽内，然后通过检测机构由上至下拍摄以对密封圈的内径和外径进行检测。
3、应理解的是，现有技术中的治具仅能够对密封圈的内径和外径件进行检测，无法对密封圈的厚度进行检测，需要另外将密封圈摆放至一个用于检测厚度的治具上才能检测，在治具之间转运时，需要抓取密封圈，密封圈较小，多次抓取密封圈易导致密封圈变形，影响产品质量，且转运过程会导致检测效率较低。
技术实现思路
1、本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种密封圈，能够。
2、本申请还提出一种具有上述密封圈的检测设备。
3、根据本申请的第一方面实施例的密封圈的测量治具，包括：主体；所述主体上形成第一通槽、第二通槽和环形槽，其中，所述第一通槽的两端和所述第二通槽的两端分别贯穿所述主体的侧面，以在所述主体的侧面形成观测口，且所述第一通槽和所述第二通槽相垂直设置；所述第一通槽和所述第二通槽分别贯穿所述环形槽的槽壁，所述环形槽用于摆放密封圈。
4、根据本申请的第一方面实施例的密封圈，至少具有如下有益效果：环形槽用于摆放密封圈，以便于检测机构从上往下对
5、根据本申请的一些实施例，所述第一通槽和所述第二通槽皆沿直线设置。
6、根据本申请的一些实施例，所述第一通槽和所述第二通槽的深度相同，所述环形槽的深度小于所述第一通槽和所述第二通槽的深度。
7、根据本申请的一些实施例，所述第一通槽、所述第二通槽、所述环形槽的深度皆大于密封圈的厚度。
8、根据本申请的一些实施例，所述环形槽的槽壁的上端形成缩口结构，以使所述环形槽的上端的尺寸大于所述环形槽的下端的尺寸。
9、根据本申请的一些实施例，所述第一通槽和所述第二通槽交汇点位于所述环形槽的圆心。
10、根据本申请的一些实施例，所述环形槽与密封圈间隙配合。
11、根据本申请的第二方面实施例的检测设备，包括第一方面实施例的密封圈的测量治具。
12、根据本申请的第二方面实施例的检测设备，至少具有如下有益效果：包括第一方面实施例的密封圈的测量治具的全部有益效果，此处不再赘述。
13、根据本申请的一些实施例，所述厚度检测机构包括至少两个，所述厚度检测机构沿圆周分布在所述主体的周侧，且至少一个所述厚度检测机构对应所述第一通槽的观测口，至少一个所述厚度检测机构对应所述第二通槽的观测口。
14、根据本申请的一些实施例，还包括尺寸检测机构，所述尺寸检测机构用于检测密封圈的外径和/或内径，所述尺寸检测机构设置于所述主体的上方，所述尺寸检测机构的检测端朝向主体。
15、本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
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1.密封圈的测量治具，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的密封圈的测量治具，其特征在于，所述第一通槽和所述第二通槽皆沿直线设置。
3.根据权利要求1所述的密封圈的测量治具，其特征在于，所述第一通槽和所述第二通槽的深度相同，所述环形槽的深度小于所述第一通槽和所述第二通槽的深度。
4.根据权利要求1所述的密封圈的测量治具，其特征在于，所述第一通槽、所述第二通槽、所述环形槽的深度皆大于密封圈的厚度。
5.根据权利要求1所述的密封圈的测量治具，其特征在于，所述环形槽的槽壁的上端形成缩口结构，以使所述环形槽的上端的尺寸大于所述环形槽的下端的尺寸。
6.根据权利要求1所述的密封圈的测量治具，其特征在于，所述第一通槽和所述第二通槽交汇点位于所述环形槽的圆心。
7.根据权利要求1所述的密封圈的测量治具，其特征在于，所述环形槽与密封圈间隙配合。
8.检测设备，其特征在于，包括如权利要求1至7中任一项所述的密封圈的测量治具。
9.根据权利要求8所述的检测设备，其特征在于，厚度检测机构包括至少两个，
10.根据权利要求8所述的检测设备，其特征在于，还包括尺寸检测机构，所述尺寸检测机构用于检测密封圈的外径和/或内径，所述尺寸检测机构设置于所述主体的上方，所述尺寸检测机构的检测端朝向主体。
...【技术特征摘要】
1.密封圈的测量治具，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的密封圈的测量治具，其特征在于，所述第一通槽和所述第二通槽皆沿直线设置。
3.根据权利要求1所述的密封圈的测量治具，其特征在于，所述第一通槽和所述第二通槽的深度相同，所述环形槽的深度小于所述第一通槽和所述第二通槽的深度。
4.根据权利要求1所述的密封圈的测量治具，其特征在于，所述第一通槽、所述第二通槽、所述环形槽的深度皆大于密封圈的厚度。
5.根据权利要求1所述的密封圈的测量治具，其特征在于，所述环形槽的槽壁的上端形成缩口结构，以使所述环形槽的上端的尺寸大于所述环形槽的下端的尺寸。
6.根据权利要求1所述的密封圈的测量治具，其特征在于，所述第...
【专利技术属性】
技术研发人员：宋晓飞，梁浩，刘礼光，刘井成，
申请(专利权)人：深圳市领滔科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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