【技术实现步骤摘要】
本申请涉及集成电路，例如涉及一种用于生成寄存器测试用例的方法及装置、测试设备。
技术介绍
1、目前，在芯片中，寄存器主要承担着信息存储、处理和传输的功能，它同时受到软件和硬件的控制和访问，是芯片运行中软件与硬件交互的桥梁，有着举足轻重的地位。因此在芯片rtl(register transfer level，寄存器传输级)仿真中，寄存器检查是十分必须且重要的一项测试。验证工程师需要对项目中所有模块中的寄存器进行复位值检查、读写、权限、复位源测试等一系列仿真测试，保证芯片寄存器的功能正确。
2、为了检测芯片寄存器的功能，相关技术采用以下测试方法：由人工书写测试用例，根据集成电路设计规格书在验证平台开发框架环境和c环境中手动添加每个电路模块的寄存器的地址后，根据寄存器的复位值和位域、模式权限及复位源等信息添加测试case。再基于测试case进行调试并在调试通过后添加上述寄存器信息至验证平台开发框架环境和c环境中。
3、在实现本公开实施例的过程中，发现相关技术中至少存在如下问题：
4、相关技术采用的测试方法对验证人员的要求较高，然而，验证人员的水平不全相同导致寄存器验证效果良莠不齐，即人工测试方式存在寄存器验证不可靠的缺陷。
5、需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本申请的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
1、为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解，下面给出了简单的概括
2、本公开实施例提供了一种用于生成寄存器测试用例的方法、装置和测试设备，以提升寄存器验证的可靠性。
3、在一些实施例中，所述方法包括：读取集成电路设计规格书中电路模块的寄存器说明总表和寄存器描述表；根据电路模块的寄存器说明总表，生成验证平台开发框架下的寄存器初始列表文件；根据电路模块的寄存器描述表，更新寄存器初始列表文件，以获得寄存器测试列表文件；根据寄存器测试列表文件内存储的寄存器测试信息，对寄存器进行读写测试并生成测试用例。
4、在一些实施例中，根据电路模块的寄存器说明总表，生成验证平台开发框架下的寄存器初始列表文件，包括：确定电路模块的模块信息；其中，模块信息包括电路模块的模块名称和模块基地址、寄存器偏移地址；遍历寄存器说明总表，按照模块信息将寄存器说明总表中的寄存器说明信息提取到寄存器列表文件，获得寄存器初始列表文件。
5、在一些实施例中，根据电路模块的寄存器描述表，更新寄存器初始列表文件，以获得寄存器测试列表文件，包括：确定寄存器描述表中的寄存器描述信息；其中，寄存器描述信息包括寄存器名称，以及位域、掩码、读写权限和复位值中的一种或多种；在寄存器初始列表文件中的寄存器名称与寄存器描述表中的寄存器名称匹配的情况下，将寄存器名称所对应的寄存器描述信息提取到寄存器列表文件，以获得寄存器测试列表文件。
6、在一些实施例中，还包括：将寄存器名称所对应的寄存器描述信息提取到寄存器列表文件前，对寄存器描述信息进行合规性验证。
7、在一些实施例中，对寄存器描述信息进行合规性验证，包括：获得寄存器描述信息中的位域；在位域宽度符合位域条件的情况下，确定寄存器描述信息合规；或者，获得寄存器描述信息中的读写权限；在读写权限符合权限条件的情况下，确定寄存器描述信息合规；或者，获得寄存器描述信息中的位域和寄存器描述信息中的读写权限，在位域宽度符合位域条件，且读写权限符合权限条件的情况下，确定寄存器描述信息合规。
8、在一些实施例中，根据寄存器测试列表文件内存储的寄存器测试信息，对寄存器进行读写测试，包括：计算寄存器测试信息的读掩码值和写掩码值；根据读掩码值和写掩码值确定寄存器测试信息的读写值；将读写值与期望值进行比对，确定读写测试结果。
9、在一些实施例中，生成测试用例，包括：读写测试后，提取寄存器测试列表文件中的模式权限；根据模式权限，生成与模式权限对应的测试用例。
10、在一些实施例中，生成测试用例，包括：获得测试样例；将寄存器测试信息导入到测试样例的相应位置，生成测试用例。
11、在一些实施例中，所述装置，包括处理器和存储有程序指令的存储器，所述处理器被配置为在运行所述程序指令时，执行如上述的用于生成寄存器测试用例的方法。
12、在一些实施例中，测试设备，包括：设备本体；如上述的用于生成寄存器测试用例的装置，安装于所述设备本体。
13、本公开实施例提供的用于生成寄存器测试用例的方法、装置和测试设备，可以实现以下技术效果：
14、本公开实施例可根据集成电路设计规格书存储的电路模块寄存器说明总表生成验证平台开发框架下的寄存器初始列表文件，并根据电路模块寄存器描述表更新寄存器初始列表文件以获得寄存器测试列表文件，保证寄存器测列表文件内寄存器测试信息提取的准确性，从而提升读写测试生成的测试用例的准确性，在实现寄存器测试用例自动生成的同时，有利于提升寄存器验证的可靠性。
15、以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的，不用于限制本申请。
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1.一种用于生成寄存器测试用例的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据电路模块的寄存器说明总表，生成验证平台开发框架下的寄存器初始列表文件，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据电路模块的寄存器描述表，更新寄存器初始列表文件，以获得寄存器测试列表文件，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，对寄存器描述信息进行合规性验证，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据寄存器测试列表文件内存储的寄存器测试信息，对寄存器进行读写测试，包括：
7.根据权利要求1至6任一项所述的方法，其特征在于，生成测试用例，包括：
8.根据权利要求1至6任一项所述的方法，其特征在于，生成测试用例，包括：
9.一种用于生成寄存器测试用例的装置，包括处理器和存储有程序指令的存储器，其特征在于，所述处理器被配置为在运行所述程序指令时，执行如权利要求1至8任一项所述的用于生成寄存器测试用例的方法。
10.一种测试设备，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种用于生成寄存器测试用例的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据电路模块的寄存器说明总表，生成验证平台开发框架下的寄存器初始列表文件，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据电路模块的寄存器描述表，更新寄存器初始列表文件，以获得寄存器测试列表文件，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，对寄存器描述信息进行合规性验证，包括：
6.根据权利要求1所...
【专利技术属性】
技术研发人员：李朝，张满新，杜兆翔，
申请(专利权)人：紫光同芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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