【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路测试，具体涉及adc静态参数测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
技术介绍
1、adc作为连接现实世界和电路系统之间的重要桥梁，是片上系统的主要组成部分。在直流输电等领域用驱动芯片、高电位控制器芯片中，其安全性和可靠性极为重要。高压环境会对芯片造成严重的影响。积分非线性(integral nonlinearity,inl)可以表示adc实际转换电平与理想转换电平之间的差值，是衡量adc性能的重要指标之一。单次测试可能不够，因此需要实现内建自测试(bist)功能，以保证adc的可靠性。但是对于片上测试而言，产生满足要求的输入信号是十分困难的。根据ieee对于静态参数的测试标准规定，传统直方图法所使用的信号源线性度需要比待测adc高3位或3位以上。此时输入信号的非线性可以忽略不计，否则测试结果中将会引入严重的误差，导致测试结果不准确。同时直方图法测试需要大量的采样点以减少噪声的影响，因此会消耗较长的测试时间以及较多的片上存储单元。在长时间的采样过程中，信号发生器将很难保持稳定，可能会发生漂移现象而引起更大的误差。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术提供了adc静态参数测试方法、装置、计算机设备及存储介质，以解决adc静态参数测试中对信号源线性度要求较高，采样时间较长的问题。
2、第一方面，本专利技术提供了一种adc静态参数测试方法，包括：获取第一斜坡信号及第二斜坡信号，并且第一斜坡信号与第二斜坡信号之间存在固定大小的偏移电平；将第一斜坡信号及第二
3、本专利技术将待测adc分为高低两个虚拟子adc，对其非线性分别进行求解，并组合在一起求出整体非线性，从而大大减少了测试所需的采样点数。同时还利用双路输入信号进行识别，能够容忍一定的信号源非线性。所提测试方法具有较高的计算效率，适用于片上测试。
4、在一种具体实施方式中，得到基于微分线性值的高位积分线性值计算公式的过程包括：将第一斜坡信号及第二斜坡信号输入至高位虚拟子adc，通过调整第一斜坡信号及第二斜坡信号，使得第二斜坡信号的第一输出码为零；将第一斜坡信号及第二斜坡信号的高位输出码的相同序号的输出点记为一对，通过调整第一斜坡信号及第二斜坡信号，使同一数据之间相差一位；将第一斜坡信号及第二斜坡信号输入至低位虚拟子adc，将第一斜坡信号及第二斜坡信号的低输出码的相同序号的输出点记为一对，并将同一数据视为相同；基于积分非线性定义，得到第一斜坡信号及第二斜坡信号的积分非线性值方程，将两个积分非线性值方程作差后，每个采样点的积分非线性值方程；全部采样点的积分非线性值方程的平均值作为基于微分线性值的高位积分线性值计算公式。
5、在一种具体实施方式中，每个采样点的积分非线性值方程为：
6、
7、式中，eh(ch[i])为第i个积分非线性值；ai为第一斜坡信号的第i个高位输出码；bi为第一斜坡信号的第i个高位输出码；k为每个斜坡信号的高位输出码数量，vα为偏移电平；lsb为最低有效位。
8、在一种具体实施方式中，计算各个低位输出码宽度的过程，包括：基于输出码内的采样点数与斜率成反比、与码仓宽度成正比，求得第一斜坡信号与第二斜坡信号在同一个跳变电平的采样点数差值；根据微分非线性定义及采样点数差值，反解偏移电平及各个码仓宽度。
9、在一种具体实施方式中，基于各个低位输出码宽度计算低位积分线性值的过程，包括：对于每个斜坡信号，将各个码仓宽度减1后求和得到每个斜坡信号的低位积分线性值。
10、第二方面，本专利技术提供一种adc静态参数测试装置，包括：获取模块，用于获取第一斜坡信号及第二斜坡信号，并且第一斜坡信号与第二斜坡信号之间存在固定大小的偏移电平；第一计算模块，用于将第一斜坡信号及第二斜坡信号输入至高位虚拟子adc、低位虚拟adc中，并通过调整第一斜坡信号及第二斜坡信号，得到基于微分线性值的高位积分线性值计算公式；第二计算模块，用于基于第一斜坡信号、第二斜坡信号的斜率以及微分非线性定义计算各个低位输出码宽度，并基于各个低位输出码宽度计算低位积分线性值；第三计算模块，用于基于高位虚拟子adc输出的第一斜坡信号、第二斜坡信号的输出码及高位积分线性值计算公式，计算高位积分线性值；将高位积分线性值与低位积分线性值之和作为adc的积分线性值。
11、在一种具体实施方式中，第二计算模块包括：第一调整单元，用于将第一斜坡信号及第二斜坡信号输入至高位虚拟子adc，通过调整第一斜坡信号及第二斜坡信号，使得第二斜坡信号的第一输出码为零；将第一斜坡信号及第二斜坡信号的高位输出码的相同序号的输出点记为一对，通过调整第一斜坡信号及第二斜坡信号，使同一数据之间相差一位；第二调整单元，用于将第一斜坡信号及第二斜坡信号输入至低位虚拟子adc，将第一斜坡信号及第二斜坡信号的低输出码的相同序号的输出点记为一对，并将同一数据视为相同；方程构建单元，用于基于积分非线性定义，得到第一斜坡信号及第二斜坡信号的积分非线性值方程，将两个积分非线性值方程作差后，每个采样点的积分非线性值方程；平均值单元，用于全部采样点的积分非线性值方程的平均值作为基于微分线性值的高位积分线性值计算公式。
12、第三方面，本专利技术提供了一种计算机设备，包括：存储器和处理器，存储器和处理器之间互相通信连接，存储器中存储有计算机指令，处理器通过执行计算机指令，从而执行上述第一方面或其对应的任一实施方式的adc静态参数测试方法。
13、第四方面，本专利技术提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机指令，计算机指令用于使计算机执行上述第一方面或其对应的任一实施方式的adc静态参数测试方法。
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1.一种ADC静态参数测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，得到基于微分线性值的高位积分线性值计算公式的过程包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，每个采样点的积分非线性值方程为：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，计算各个低位输出码宽度的过程，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，基于各个低位输出码宽度计算低位积分线性值的过程，包括：
6.一种ADC静态参数测试装置，其特征在于，包括：
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，第二计算模块包括：
8.一种计算机设备，其特征在于，包括：
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行权利要求1至5中任一项所述的ADC静态参数测试方法。
【技术特征摘要】
1.一种adc静态参数测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，得到基于微分线性值的高位积分线性值计算公式的过程包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，每个采样点的积分非线性值方程为：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，计算各个低位输出码宽度的过程，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，基于各个低位输...
【专利技术属性】
技术研发人员：付江铎，许京涛，关兆亮，许航宇，程锦辉，尹毅博，黄学全，客金坤，
申请(专利权)人：国网智能电网研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：
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