【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体器件,特别是涉及一种具有三层钝化层的晶体管及其制备方法。
技术介绍
1、随着半导体器件及应用技术不断向着高效率、低功耗的方向发展,目前,第一代传统半导体材料硅(si)已经接近其材料性能的极限,第二代半导体材料砷化镓(gaas)和铟化磷(inp)在光通信领域持续发热,第三代半导体材料碳化硅(sic)和氮化镓(gan)已经逐步实现了商业化。未来的功率器件向着更高的pfom(power figure ofmerit)优值、更高的击穿电压和更低的电阻发展。第四代半导体材料氧化镓(ga2o3)较sic(3.3ev)和gan(3.4ev)拥有更宽的禁带宽度(4.2ev-4.9ev)、更高的击穿场强(8mv/cm)、更高的巴利加优值(3444)、更低的生产成本和稳定的物理化学性质,这些优势使得它成为制备下一代高效率、低能耗电力电子器件的优秀候选材料,在功率器件、光电子器件等领域有着广阔的发展前景。
2、氧化镓一共有5种不同的晶向结构,分别是α,β,γ,δ和ε。其中β-ga2o3是最为稳定的晶向,也是研究最为广泛的一种。
...【技术保护点】
1.一种具有三层钝化层的晶体管,其特征在于,所述具有三层钝化层的晶体管结构自上而下依次包括金刚石钝化层、功能层、漂移层、衬底;
2.根据权利要求1所述具有三层钝化层的晶体管,其特征在于,所述金刚石钝化层的厚度为1-2μm。
3.根据权利要求1所述具有三层钝化层的晶体管,其特征在于,所述第二钝化层的厚度为100-400nm。
4.根据权利要求1所述具有三层钝化层的晶体管,其特征在于,所述第一钝化层的厚度为10-100nm。
5.根据权利要求3所述具有三层钝化层的晶体管,其特征在于,所述凹槽的深度为80-350nm。
...【技术特征摘要】
1.一种具有三层钝化层的晶体管,其特征在于,所述具有三层钝化层的晶体管结构自上而下依次包括金刚石钝化层、功能层、漂移层、衬底;
2.根据权利要求1所述具有三层钝化层的晶体管,其特征在于,所述金刚石钝化层的厚度为1-2μm。
3.根据权利要求1所述具有三层钝化层的晶体管,其特征在于,所述第二钝化层的厚度为100-400nm。
4.根据权利要求1所述具有三层钝化层的晶体管,其特征在于,所述第一钝化层的厚度为10-100nm。
5.根据权利要求3所述具有三层钝化层的晶体管,其特征在于,所述凹槽的深度为80-350nm。
6.根据权利要求1所述具有三层钝化层的晶体管,其特征在于,...
【专利技术属性】
技术研发人员:于洪宇,汪晓慧,汪青,王沛然,李沐俊,何明浩,
申请(专利权)人:南方科技大学,
类型:发明
国别省市:
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