【技术实现步骤摘要】
本申请实施例涉及硬件测试领域，尤其涉及一种待机电流测试方法及电子设备。
技术介绍
1、电子设备的待机电流是指电子设备在待机状态下电池的放电电流。待机电流可以用于判断电子设备是否存在硬件漏电问题。例如，若待机电流过大，就说明电子设备存在硬件漏电问题。
2、待机电流测试通常是在电子设备组装完成之前进行的。例如，采用专业的测试电池与电子设备主板上的电池接口连接，测试电子设备处于待机状态时测试电池的放电电流。如果电池的放电电流过大，则判断电子设备存在待机电流过大，硬件漏电的问题，电子设备不能通过待机电流测试。
3、然而，由于上述测试方法的测试对象是未组装完成的电子设备，因此根据该测试结果无法判断组装完成的电子设备的待机电流是否过大，是否存在硬件漏电等问题。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种待机电流测试方法，无需使用电子设备主板上的电池接口即可完成对电子设备的待机电流测试。换句话说，可以直接对组装完成的电子设备进行待机电流测试，因此测试结果能够反映组装完成的电子设备的待机电流是否过大，是否存在硬件漏电等问题。
2、为了达到上述目的，本申请实施例采用如下技术方案。
3、第一方面，提供一种待机电流测试方法，应用于电子设备的系统级芯片。电子设备中还包括电源模块，充电电路以及测量模块。系统级芯片分别与充电电路和测量模块连接。电源模块分别与充电电路和测量模块连接。充电电路用于为电子设备供电和/或为电源模块充电。电源模块用于为电子设备供电。测量模块用
4、基于该方案，在待机电流测试开始时，先断开充电电路，避免存在充电电流流向电源模块，对测量电源模块的放电电流产生影响，提高测得的放电电流的准确性。然后将电子设置为待机状态。最后对电源模块的放电电流进行测量，并根据放电电流与预设阈值的大小关系确定电子设备是否能够通过待机电流测试。如此，能够测得较为准确地放电电流，且无需使用电子设备主板上的电池接口，直接通过组装完成的电子设备即可完成待机电流测试，测试结果能够反映组装完成的电子设备的待机电流是否过大，是否存在硬件漏电等问题。
5、在一种可选的设计中，通过测量模块采集电源模块的放电电流，包括：通过测量模块采集n次电源模块的放电电流。n为大于或等于1的整数。基于该方案，有利于减小测量误差，提高测试结果的准确性。
6、在一种可选的设计中，根据放电电流与预设阈值的大小关系确定电子设备是否通过待机电流测试，包括：对n次采集的放电电流进行第一处理，得到第一放电电流。第一处理至少包括以下一项：求平均值，剔除最大值和最小值后求平均值，求中位数。根据第一放电电流与预设阈值的大小关系确定电子设备是否通过待机电流测试。基于该方案，有利于在保证测试准确性的同时，减小数据处理量，提高测试效率。
7、在一种可选的设计中，通过测量模块采集n次电源模块的放电电流，包括：以第一预设时长为间隔，通过测量模块周期性地采集n次电源模块的放电电流。基于该方案，有利于减小测量误差，提高测试结果的准确性。
8、在一种可选的设计中，系统级芯片包括应用处理器，将电子设备设置为待机状态，包括：将电子设备的操作系统设置为休眠状态。第二预设时长之后，将电子设备的操作系统设置为工作状态。基于该方案，先将电子设备的操作系统设置为休眠状态，经过一段时间后设置为唤醒状态，再对电源模块的放电电流进行测量，可以测得更加准确地放电电流，有利于提高测试结果的准确性。另外，由于在电子设备的操作系统处于工作状态时，应用处理器工作，因此将电子设备的操作系统设置为休眠状态即可通过应用处理器对电子设备进行待机电流测试。
9、在一种可选的设计中，系统级芯片包括系统控制处理器，将电子设备设置为待机状态，包括：将电子设备的操作系统设置为休眠状态。基于该方案，由于电子设备的操作系统处于休眠状态时系统控制处理器工作，因此将电子设备的操作系统设置为休眠状态即可通过系统控制处理器对电子设备进行待机电流测试。
10、在一种可选的设计中，充电电路包括第一开关。第一开关串联于充电电路中。响应于接收到第一指令，控制充电电路断开，包括：响应于接收到第一指令，控制第一开关断开。基于该方案，可以便捷地实现充电电路的断开。
11、在一种可选的设计中，充电电路中包括第一芯片。第一芯片为电源管理芯片或充电芯片。测量模块集成于第一芯片中。基于该方案，通过电源管理芯片或充电芯片可以更好地管理电源的充电或放电。
12、在一种可选的设计中，响应于接收到第一指令，控制充电电路断开，包括：响应于接收到第一指令，控制第一芯片关闭。基于该方案，可以便捷地实现充电电路的断开。
13、在一种可选的设计中，电源模块中包括电源，电源通路以及采集电阻。电源通路的两端分别与电源和充电电路与连接。采集电阻与电源通路串联。测量模块与采集电阻并联。通过测量模块采集电源模块的放电电流，包括：通过测量模块采集流经采集电阻的电流，作为电源模块的放电电流。基于该方案，可以便捷地实现对放电电流的测量。
14、在一种可选的设计中，根据放电电流与预设阈值的大小关系确定电子设备是否通过待机电流测试，包括：在放电电流大于预设阈值时，确定电子设备未通过待机电流测试。在放电电流小于预设阈值时，确定电子设备通过待机电流测试。基于该方案，可以较为准确地判断电子设备能否通过待机电流测试。
15、在一种可选的设计中，方法还包括：在电子设备未通过待机电流测试时，再次对电子设备进行待机电流测试。在电子设备连续m次均未通过待机电流测试时，退出待机电流测试。其中，m为大于0的整数。基于该方案，通过多次测量能够减小测量误差，提高测试结果的准确性。
16、在一种可选的设计中，方法还包括：在电子设备通过待机电流测试时，控制充电电路连通。基于该方案，控制充电电路连通，以便继续进行后续测试。
17、在一种可选的设计中，测量模块为电量计。基于该方案，可以便捷地实现对放电电流的测量。
18、第二方面，提供一种电子设备，电子设备包括系统级芯片，电源模块，充电电路以及测量模块。系统级芯片分别与充电电路和测量模块连接。电源模块分别与充电电路和测量模块连接。充电电路用于为电子设备供电和/或为电源模块充电。电源模块用于为电子设备供电。测量模块用于测量电源模块的充电电流或放电电流。系统级芯片用于：响应于接收到第一指令，控制充电电路断开。第一指令用于指示电子设备开始待机电流测试。将电子设备设置为待机状态。通过测量模块采集电源模块的放电电流。根据放电电流与预设阈值的大小关系确定电子设备是否通过待机电流测试。
19、第三方面，提供一种电子设备，电子设本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种待机电流测试方法，其特征在于，应用于电子设备的系统级芯片；所述电子设备中还包括电源模块，充电电路以及测量模块；所述系统级芯片分别与所述充电电路和所述测量模块连接；所述电源模块分别与所述充电电路和所述测量模块连接；所述充电电路用于为所述电子设备供电和/或为所述电源模块充电；所述电源模块用于为所述电子设备供电；所述测量模块用于测量所述电源模块的充电电流或放电电流；所述待机电流测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述通过所述测量模块采集所述电源模块的放电电流，包括：
3.根据权利要求2所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述根据所述放电电流与预设阈值的大小关系确定所述电子设备是否通过所述待机电流测试，包括：
4.根据权利要求2所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述通过所述测量模块采集n次所述电源模块的放电电流，包括：
5.根据权利要求1-4任一项所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述系统级芯片包括应用处理器；所述将所述电子设备设置为待机状态，包括：
6.根据权利要求1-4任一项所述
7.根据权利要求1-6任一项所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述充电电路包括第一开关；所述第一开关串联于所述充电电路中；
8.根据权利要求1-6任一项所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述充电电路中包括第一芯片；所述第一芯片为电源管理芯片或充电芯片；
9.根据权利要求8所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述响应于接收到第一指令，控制所述充电电路断开，包括：
10.根据权利要求1-9任一项所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述电源模块中包括电源，电源通路以及采集电阻；所述电源通路的两端分别与所述电源和所述充电电路连接；所述采集电阻与所述电源通路串联；所述测量模块与所述采集电阻并联；
11.根据权利要求1-10任一项所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述根据所述放电电流与预设阈值的大小关系确定所述电子设备是否通过所述待机电流测试，包括：
12.根据权利要求1-11任一项所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
13.根据权利要求1-12任一项所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
14.根据权利要求1-13任一项所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述测量模块为电量计。
15.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括系统级芯片，电源模块，充电电路以及测量模块；所述系统级芯片分别与所述充电电路和所述测量模块连接；所述电源模块分别与所述充电电路和所述测量模块连接；所述充电电路用于为所述电子设备供电和/或为所述电源模块充电；所述电源模块用于为所述电子设备供电；所述测量模块用于测量所述电源模块的充电电流或放电电流；所述系统级芯片用于：
16.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括系统级芯片，一个或多个存储器；所述系统级芯片中包括一个或多个处理器；所述一个或多个存储器与所述一个或多个处理器耦合，所述一个或多个存储器存储有计算机指令；
17.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括计算机指令，当所述计算机指令运行时，执行如权利要求1-14任一项所述的待机电流测试方法。
18.一种计算机程序产品，其特征在于，所述计算机程序产品中包括指令，当所述计算机程序产品在计算机上运行时，使得所述计算机可以根据所述指令执行如权利要求1-14任一项所述的待机电流测试方法。
...【技术特征摘要】
1.一种待机电流测试方法，其特征在于，应用于电子设备的系统级芯片；所述电子设备中还包括电源模块，充电电路以及测量模块；所述系统级芯片分别与所述充电电路和所述测量模块连接；所述电源模块分别与所述充电电路和所述测量模块连接；所述充电电路用于为所述电子设备供电和/或为所述电源模块充电；所述电源模块用于为所述电子设备供电；所述测量模块用于测量所述电源模块的充电电流或放电电流；所述待机电流测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述通过所述测量模块采集所述电源模块的放电电流，包括：
3.根据权利要求2所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述根据所述放电电流与预设阈值的大小关系确定所述电子设备是否通过所述待机电流测试，包括：
4.根据权利要求2所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述通过所述测量模块采集n次所述电源模块的放电电流，包括：
5.根据权利要求1-4任一项所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述系统级芯片包括应用处理器；所述将所述电子设备设置为待机状态，包括：
6.根据权利要求1-4任一项所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述系统级芯片包括系统控制处理器；所述将所述电子设备设置为待机状态，包括：
7.根据权利要求1-6任一项所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述充电电路包括第一开关；所述第一开关串联于所述充电电路中；
8.根据权利要求1-6任一项所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述充电电路中包括第一芯片；所述第一芯片为电源管理芯片或充电芯片；
9.根据权利要求8所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述响应于接收到第一指令，控制所述充电电路断开，包括：
10.根据权利要求1-9任一项所述的待机电流测试方法，其特征在于，所述电源...
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