一种ADC下极板采样电路制造技术

本发明专利技术公开了一种ADC下极板采样电路，包括：共模电平检测部分和ADC采样电容部分，所述共模电平检测部分包括共模电平保护电路，所述ADC采样电容部分包括ADC采样电路；所述共模电平保护电路是由三组电阻分压，两个比较器以及相对应的逻辑电路组成。本发明专利技术通过内置共模电平检测电路，使得超出设计范围的ADC输入共模电平不被传导到电容的顶板，这样即使电容顶板及其连接的比较器或者放大器使用core器件也能够承受异常状态导致的ADC输入共模电平范围。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及adc，具体为一种adc下极板采样电路。

技术介绍

1、在高精度adc中，特别是sar adc(逐次逼近型模数转换器)以及pipelined adc(流水线型模数转换器)，为了最求高精度，其采样电容通常会用底板采样的方式。底板采样在采样相位将底板连接到adc的输入信号，采样电容的顶板连接到内部共模电平，当采样结束时，电容顶板开关先断开然后再断开电容底板开关；在转换相位电容的底板连接到共模电平从而信号电压会翻转到电容顶板，从而进行后续的模数转换。在实际应用中为了追求adc的信噪比，部分应用会将adc的输入信号用超过core电源的io电压范围，为了追求速度，电容的顶板又使用core电源范围，当输入共模电平符合设计值的时候，可以通过方法让差模信号工作在正常core器件的耐压范围内，但是无法承受adc的输入共模电压较大幅度的变化，可能会导致器件损坏。

2、综上所述的问题，为此，我们提出了一种adc下极板采样电路。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种adc下极板采样电路，解决了现有本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种ADC下极板采样电路，其特征在于，包括：共模电平检测部分和ADC采样电容部分，所述共模电平检测部分包括共模电平保护电路，所述ADC采样电容部分包括ADC采样电路；

2.根据权利要求1所述的一种ADC下极板采样电路，其特征在于，所述电阻R1P、电阻R1N连接ADC的输入信号Vip、输入信号Vin其中间抽头连接到比较器i1、比较器i2的正端输入。

3.根据权利要求1所述的一种ADC下极板采样电路，其特征在于，所述电阻R2P、电阻R2N连接ADC的输入信号Vrefp、输入信号Vrefn其中间抽头连接到比较器i1负端输入。

4.根据权利要求1所述的一种...

【技术特征摘要】

1.一种adc下极板采样电路，其特征在于，包括：共模电平检测部分和adc采样电容部分，所述共模电平检测部分包括共模电平保护电路，所述adc采样电容部分包括adc采样电路；

2.根据权利要求1所述的一种adc下极板采样电路，其特征在于，所述电阻r1p、电阻r1n连接adc的输入信号vip、输入信号vin其中间抽头连接到比较器i1、比较器i2的正端输入。

3.根据权利要求1所述的一种adc下极板采样电路，其特征在于，所述电阻r2p、电阻r2n连接adc的输...

【专利技术属性】
技术研发人员：林志伦，庄志青，胡红明，张希鹏，周玉镇，
申请(专利权)人：灿芯半导体上海股份有限公司，
类型：发明
国别省市：