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本发明公开了一种ADC下极板采样电路，包括：共模电平检测部分和ADC采样电容部分，所述共模电平检测部分包括共模电平保护电路，所述ADC采样电容部分包括ADC采样电路；所述共模电平保护电路是由三组电阻分压，两个比较器以及相对应的逻辑电路组成。...
该专利属于灿芯半导体（上海）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过灿芯半导体（上海）股份有限公司授权不得商用。

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