一种贝尔态投影测量装置及投影测量方法制造方法及图纸

本申请公开一种贝尔态投影测量装置及投影测量方法，包括四个入射端口、三个MZ干涉仪、四个单光子探测器、控制芯片和符合计数器，基于路径编码实现对贝尔态的投影测量，一个MZ干涉仪在控制芯片的作用下实现对输入光子的路径切换，另两个MZ干涉仪对输入的光子实现H门操作，四个单光子探测器对经过H门操作的两个光子进行探测和响应并将信号传输给符合计数器，控制芯片根据符合计数器反馈的响应结果确定两个光子所处的贝尔态。本申请结构简单紧凑、光路稳定且易于片上集成，因此降低了贝尔态投影测量的工艺难度和成本；且相较于偏振编码，本申请具有较高的消光比参数，保证了投影测量效率和精度。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于量子通信，具体而言，涉及一种贝尔态投影测量装置及投影测量方法。

技术介绍

1、贝尔态是一组量子态，用于描述两个粒子之间纠缠的状态，也是最简单的两体量子纠缠态。贝尔态包括如下四种纠缠态：

2、

3、

4、对贝尔态测量是量子信息和量子计算领域中最基本的要求。贝尔态投影测量的装置被应用于量子计算机、测量设备无关量子密钥分发等系统中，同时也是这些设备和系统的基础核心组件之一。

5、目前的贝尔态投影测量装置基本采用相位或偏振编码实现，然而相位编码需要高速调制器件、成本高且工艺难度大；片上偏振器件消光比等参数低，偏振性能差且片上偏振调制器和技术均不成熟，因此本申请提出一种基于路径编码的贝尔态投影测量装置及投影测量方法。

技术实现思路

1、基于上述内容，本申请提供一种贝尔态投影测量装置及投影测量方法，对输入的处于贝尔态的一对光子进行路径编码，通过一个mz干涉仪对输入光子的路径实现切换以及两个mz干涉仪对接收的光子进行h门操作达到对输入贝尔态的分辨，实现投影测量；具体本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种贝尔态投影测量装置，其特征在于，包括四个入射端口、第一MZ干涉仪、第二MZ干涉仪、第三MZ干涉仪、控制芯片、四个单光子探测器和符合计数器；四个入射端口分别为第一入射端口、第二入射端口、第三入射端口和第四入射端口，四个单光子探测器分别为第一单光子探测器、第二单光子探测器、第三单光子探测器和第四单光子探测器；

2.根据权利要求1所述的一种贝尔态投影测量装置，其特征在于，还包括四个电延时模块，四个电延时模块的输入端分别与四个单光子探测器的输出端一一对应连接，四个电延时模块的输出端均与符合计数器连接，电延时模块对相应单光子探测器输出的电信号进行延时，使各单光子探测器输出的电信...

【技术特征摘要】

1.一种贝尔态投影测量装置，其特征在于，包括四个入射端口、第一mz干涉仪、第二mz干涉仪、第三mz干涉仪、控制芯片、四个单光子探测器和符合计数器；四个入射端口分别为第一入射端口、第二入射端口、第三入射端口和第四入射端口，四个单光子探测器分别为第一单光子探测器、第二单光子探测器、第三单光子探测器和第四单光子探测器；

2.根据权利要求1所述的一种贝尔态投影测量装置，其特征在于，还包括四个电延时模块，四个电延时模块的输入端分别与四个单光子探测器的输出端一一对应连接，四个电延时模块的输出端均与符合计数器连接，电延时模块对相应单光子探测器输出的电信号进行延时，使各单光子探测器输出的电信号同时到达符合计数器。

3.根据权利要求1所述的一种贝尔态投影测量装置，其特征在于，还包括两个光延时模块，分别为第一光延时模块和第二光延时模块，第一光延时模块设置在第三入射端口与第二mz干涉仪输入下端的传输路径上，第二光延时模块设置在第四入射端口与第三mz干涉仪输入下端的传输路径上，两个光延时模块分别对经过其上的光子进行延时处理，使处于贝尔态的一对光子同时到达相应的单光子探测器。

4.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：安雪碧，丁士俊，
申请(专利权)人：合肥硅臻芯片技术有限公司，
类型：发明
国别省市：