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本申请公开一种贝尔态投影测量装置及投影测量方法，包括四个入射端口、三个MZ干涉仪、四个单光子探测器、控制芯片和符合计数器，基于路径编码实现对贝尔态的投影测量，一个MZ干涉仪在控制芯片的作用下实现对输入光子的路径切换，另两个MZ干涉仪对输入的...
该专利属于合肥硅臻芯片技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥硅臻芯片技术有限公司授权不得商用。

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