【技术实现步骤摘要】
本专利技术主要涉及聚类分析的，具体为一种点面聚类图形分析方法。
技术介绍
1、芯片的筛分是半导体行业中一个重要的环节,它能够将芯片中不良的区间进行识别和消除,从而提高芯片的质量和可靠性。点面聚类是一种常用的芯片筛分方法,它将芯片中的点和面进行聚类,从而将相似的点归为一类,不相似的点归为另一类，可以有效识别出芯片中的不良点和面，以提高芯片的质量。
2、但是当许多不同电路的芯片混合在一起，需要进行筛分归类时，现有的技术大多是采用人工测量录入标准数据，这种识别方法费时费力，且容易产生主观偏差和测量错误，不易于管理。
技术实现思路
1、基于此，本专利技术的目的是提供一种点面聚类图形分析方法，以解决上述
技术介绍
中提出的技术问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
3、一种点面聚类图形分析方法,包括以下步骤：
4、步骤一、摆放芯片，将混合的若干个芯片依次正面朝上的放置在移动板表面呈方形开设的若干个放置槽内，通过夹持组件对芯片进行限制；p>
5、步骤二本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种点面聚类图形分析方法,其特征在于,包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种点面聚类图形分析方法，其特征在于，所述控制中心(402)由预处理模块(6)、点面聚类模块(7)、标记模块(8)、重组模块(9)、存储库(10)、输入模块(11)和输出模块(12)组成，输入模块(11)用于将所有的芯片电路图形传输至存储库(10)内，并且将若干个高清摄像头(401)拍摄的图像数据传输至预处理模块(6)中，预处理模块(6)用于对接收的数据先清洗后，将每个图像转换成图形并进行编号然，后根据呈方形布置的若干个放置槽(201)将每个图形进行网格状排列，再对每个图形进...
【技术特征摘要】
1.一种点面聚类图形分析方法,其特征在于,包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种点面聚类图形分析方法，其特征在于，所述控制中心(402)由预处理模块(6)、点面聚类模块(7)、标记模块(8)、重组模块(9)、存储库(10)、输入模块(11)和输出模块(12)组成，输入模块(11)用于将所有的芯片电路图形传输至存储库(10)内，并且将若干个高清摄像头(401)拍摄的图像数据传输至预处理模块(6)中，预处理模块(6)用于对接收的数据先清洗后，将每个图像转换成图形并进行编号然，后根据呈方形布置的若干个放置槽(201)将每个图形进行网格状排列，再对每个图形进行四等分的分割，点面聚类模块(7)通过使用聚类算法依次对图形分割的区域与与存储库(10)内选定的芯片图形进行对比，相同为一类，不相同为一类。
3.根据权利要求2所述的一种点面聚类图形分析方法，其特征在于，所述预处理模块(6)由图像数据清洗单元(601)、图像数据转换单元(602)、编号单元(604)、分割单元(603)和调取单元(605)组成，所述图像数据清洗单元(601)用于对接收的芯片图像进行无用信息的去除、填充缺失值等步骤，所述图像数据转换单元(602)用于将清洗后芯片图像上的各个针脚以及元件转换成图形，并将若干个图形依照呈方形设置的放置槽(201)形成网格状。
4.根据权利要求3所述的一种点面聚类图形分析方法，其特征在于，所述编号单元(604)用于对每个图形进行排序，所述分割单元(603)用于对每个图形进行四等分的分割，所述调取单元(605)对每个分割的图形的左上角区域进行调取传输，并根据后续的聚类结构对其余三个区域进行依次调取传输。
5.根据权利要求2所述的一种点面聚类图形分析方法，其特征在于，所述标记模块(8)包括颜色标记单元(801)，所述颜色标记单元(801)根据点面聚类模块(7)的聚类结果将相同的区域填充颜色。
6.根据权利要求2所述的一种点面聚类图形分析方法，其特征在于，所述重组模块(9)包括拼合单元(901)和闪烁单元(902)，所述拼合单元(901)将聚类相同的分割的区域重新拼合形成原本的芯片图形，所述闪烁单元(902)通过输出模块(12)控制与拼合后的芯片图形相对应的放置槽(201)内的灯珠(2011)不断闪烁。
7.根据权利要求1所述的一种点面聚类图形分析方法，其特征在于，所述分析箱(4)的下表面两侧均固定焊接有支撑板(1)，两个所述支撑板(1)之间设有移动板(2)，所述移动板(2)的下表面焊接有底板(203)，所述底板(203)的底端两侧均安...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈建化，徐志福，
申请(专利权)人：福建亿把首信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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