一种砂岩水膜厚度确定方法、装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种砂岩水膜厚度确定方法、装置及系统，该方法对待测砂岩岩样进行核磁共振测试得到核磁共振曲线T2谱曲线，再根据核磁共振曲线T2谱曲线和预置孔隙结构确定对应的毛管束半径分布曲线；根据孔隙体积和毛管束半径分布曲线确定待测砂岩岩样的毛管束数量；通过对待测砂岩岩样进行离心处理建立束缚水饱和度，确定束缚水体积；根据束缚水体积、毛管束数量以及毛管束半径分布曲线即可确定水膜厚度。本发明专利技术实施例能够实现对砂岩水膜厚度的定量描述，确定的水膜厚度可以有效应用于气藏可动水分析与储层产气能力评价，为后续气藏可动水分析与储层产气能力评价提供技术支撑。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种砂岩水膜厚度确定方法、装置及系统。

技术介绍

1、水膜厚度决定着储层束缚水饱和度和储层气相渗流能力，准确快速获取水膜厚度对气藏可动水分析与储层产气能力评价十分关键。目前水膜厚度主要通过同步辐射实验、x射线扫描实验和纳米ct实验获取，通过观察饱和水的岩样，确定水膜厚度。

技术实现思路

1、本专利技术的专利技术人发现，现有技术中的砂岩水膜厚度确定方法，主要用于观察水膜，定性描述水膜厚度，无法对砂岩水膜厚度进行定量描述，因此测试结果难以有效应用于气藏可动水分析与储层产气能力评价。鉴于上述问题，本专利技术实施例有必要提出一种砂岩水膜厚度确定方法、装置及系统以解决或部分解决上述问题，本专利技术提出的技术方案如下：

2、第一方面，本专利技术实施例提供一种砂岩水膜厚度确定方法，包括：

3、确定待测砂岩岩样的孔隙体积；

4、确定饱和地层水后的待测砂岩岩样的核磁共振t2谱曲线；

5、根据待测砂岩岩样的预置孔隙结构和所述核磁共振t2谱曲线确定所述待测砂岩岩样的毛管本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种砂岩水膜厚度确定方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的砂岩水膜厚度确定方法，其特征在于，所述对饱和地层水后的待测砂岩岩样离心处理至待测砂岩岩样的水为束缚水状态，并确定束缚水体积，包括：

3.根据权利要求2所述的砂岩水膜厚度确定方法，其特征在于，所述根据待测砂岩岩样的所述束缚水体积、所述毛管束数量以及所述毛管束半径分布曲线确定待测砂岩岩样的水膜厚度，包括：

4.根据权利要求1所述的砂岩水膜厚度确定方法，其特征在于，所述根据所述孔隙体积和所述待测砂岩岩样的毛管束半径分布曲线，确定所述待测砂岩岩样的毛管束数量，包括；</p>

5.根据...

【技术特征摘要】

1.一种砂岩水膜厚度确定方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的砂岩水膜厚度确定方法，其特征在于，所述对饱和地层水后的待测砂岩岩样离心处理至待测砂岩岩样的水为束缚水状态，并确定束缚水体积，包括：

3.根据权利要求2所述的砂岩水膜厚度确定方法，其特征在于，所述根据待测砂岩岩样的所述束缚水体积、所述毛管束数量以及所述毛管束半径分布曲线确定待测砂岩岩样的水膜厚度，包括：

4.根据权利要求1所述的砂岩水膜厚度确定方法，其特征在于，所述根据所述孔隙体积和所述待测砂岩岩样的毛管束半径分布曲线，确定所述待测砂岩岩样的毛管束数量，包括；

5.根据权利要求1所述的砂岩水膜厚度确定方法，其特征在于，所述待测砂岩岩样的预置孔隙结构包括多个不同毛管束半径的毛管束；

6.根据权利要求3所述的砂岩水膜厚度确定方法，其特征在于，所述毛管束比例是通过...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘华勋，高树生，叶礼友，焦春艳，安为国，郭博雅，朱文卿，仇亚敬，张颖，韩东桓，
申请(专利权)人：中国石油天然气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：