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【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及基板处理,具体涉及一种基板处理装置、基板处理系统和基板处理方法。
技术介绍
1、在集成电路发展过程中,随着层数的不断增加,集成度越来越高,进一步促进了基板表面图案的微细化和高深宽比增加,在基板表面的液体干燥的过程中,图案倒伏的现象更容易出现,基板的良率得不到保障。针对此类问题提出新的清洗干燥工艺,采用超临界流体(比如co2)来干燥基板,在超临界状态下将图案和基板表面的液体(比如ipa(异丙醇))置换掉排出,最后超临界流体在合适的工艺控制下,达到合适的工艺参数,以气体的形式排出,此工艺可以降低基板表面的图案倒伏现象,大大提高基板的良率。
2、但是,现有的超临界干燥装置,在基板转接过程中,基板暴露于干燥腔室外的时间较长,不仅容易对基板造成二次污染,而且容易导致基板上的液膜挥发,导致基板的良率降低。
技术实现思路
1、有鉴于此,本专利技术提供了一种基板处理装置、基板处理系统和基板处理方法,以解决现有的超临界干燥装置,在基板转接过程中,基板暴露于干燥腔室外的时间较长,不仅容易对基板造成二次污染,而且容易导致基板上的液膜挥发的问题。
2、第一方面,本专利技术提供了一种基板处理装置,包括:
3、安装板;
4、腔室主体,其沿长度方向开设形成干燥腔室;
5、前密封板,其沿长度方向靠近腔室主体的一侧设置有承载盘,承载盘适于在前密封板的带动下承载基板本体进入干燥腔室内;
6、限位导轨,沿长度方向固定设置于安装板上;<
...【技术保护点】
1.一种基板处理装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的基板处理装置,其特征在于,所述驱动组件(844)还包括:
3.根据权利要求1所述的基板处理装置,其特征在于,所述第一滑台(842)包括固定架(8421)和第一滑块(8422),所述固定架(8421)与所述前密封板(830)相连接,所述第一滑块(8422)滑动设置于所述限位导轨(841)上,所述第一滑块(8422)沿高度方向远离所述限位导轨(841)的一侧与所述固定架(8421)相连接;
4.根据权利要求1所述的基板处理装置,其特征在于,所述基板处理装置还包括后密封板(850),所述后密封板(850)设置于所述腔室主体(820)沿长度方向远离所述前密封板(830)的一侧;
5.根据权利要求4所述的基板处理装置,其特征在于,所述基板处理装置还包括分流块(851),所述分流块(851)设置于所述后密封板(850)沿长度方向靠近所述干燥腔室(8200)的一侧;所述分流块(851)上设置有吹扫气道(852),所述吹扫气道(852)适于将吹扫气体、清洗液体和/或超临界流体通入所述
6.根据权利要求5所述的基板处理装置,其特征在于,所述承载盘(831)上固定设置有挡流板(832),所述挡流板(832)沿高度方向远离所述承载盘(831)的一侧高于所述承载盘(831)上的基板本体(400)的上表面,所述挡流板(832)适于在所述承载盘(831)进入至所述干燥腔室(8200)内后介于超临界流体的进口侧与基板本体(400)之间。
7.根据权利要求6所述的基板处理装置,其特征在于,所述吹扫气道(852)包括若干气道孔(8520),若干所述气道孔(8520)在所述分流块(851)靠近所述干燥腔室(8200)的一侧周向均匀间隔设置;
8.根据权利要求4所述的基板处理装置,其特征在于,所述基板处理装置还包括密封驱动块(823),所述密封驱动块(823)设置于所述前密封板(830)和/或所述后密封板(850)沿长度方向远离所述干燥腔室(8200)的一侧,所述密封驱动块(823)适于抵顶所述前密封板(830)和/或所述后密封板(850)沿长度方向靠近所述腔室密封面(821),以使所述前密封板(830)和/或所述后密封板(850)与所述腔室密封面(821)完全紧密贴合。
9.根据权利要求4所述的基板处理装置,其特征在于,所述腔室主体(820)的长度方向两侧均设置有吹扫管道(822),所述吹扫管道(822)设置于所述腔室密封面(821)远离所述干燥腔室(8200)的端口的一侧;所述吹扫管道(822)上沿径向开设有若干吹扫孔(8220),所述吹扫孔(8220)的吹扫方向朝向沿径向远离所述腔室密封面(821)的方向。
10.根据权利要求1-9中任意一项所述的基板处理装置,其特征在于,所述基板处理装置还包括加热模块(824),所述加热模块(824)包括若干第一加热器(8241)和若干第二加热器(8242),所述第一加热器(8241)和所述第二加热器(8242)分别设置于所述干燥腔室(8200)的高度方向两侧;
11.一种基板处理系统,其特征在于,包括:
12.根据权利要求11所述的基板处理系统,其特征在于,所述中转单元(200)包括中转装置(3),所述中转装置(3)包括N层中转工位,N层所述中转工位沿高度方向设置,其中,N≥2,且N为偶数;
13.根据权利要求12所述的基板处理系统,其特征在于,所述中转装置(3)的下N/2层的每一层均设置有第一称重传感器,所述第一称重传感器适于对清洗布液之前的基板本体(400)进行称重并记为m1;所述后端处理传输装置(9)的下手臂上设置有第二称重传感器,第二称重传感器适于对清洗布液之后的基板本体(400)进行称重并记为m2;当且仅当G1≤m2-m1≤G2时,所述基板本体(400)被送入所述干燥腔室(8200)内,否则所述基板本体(400)被送回至所述清洗液膜形成装置(4)重新清洗布液,其中,G1、G2为所述基板处理系统的设定布液偏差参数。
14.一种基板处理方法,应用于如上述权利要求11-13中任意一项所述的基板处理系统,其特征在于,包括:
...【技术特征摘要】
1.一种基板处理装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的基板处理装置,其特征在于,所述驱动组件(844)还包括:
3.根据权利要求1所述的基板处理装置,其特征在于,所述第一滑台(842)包括固定架(8421)和第一滑块(8422),所述固定架(8421)与所述前密封板(830)相连接,所述第一滑块(8422)滑动设置于所述限位导轨(841)上,所述第一滑块(8422)沿高度方向远离所述限位导轨(841)的一侧与所述固定架(8421)相连接;
4.根据权利要求1所述的基板处理装置,其特征在于,所述基板处理装置还包括后密封板(850),所述后密封板(850)设置于所述腔室主体(820)沿长度方向远离所述前密封板(830)的一侧;
5.根据权利要求4所述的基板处理装置,其特征在于,所述基板处理装置还包括分流块(851),所述分流块(851)设置于所述后密封板(850)沿长度方向靠近所述干燥腔室(8200)的一侧;所述分流块(851)上设置有吹扫气道(852),所述吹扫气道(852)适于将吹扫气体、清洗液体和/或超临界流体通入所述干燥腔室(8200)内。
6.根据权利要求5所述的基板处理装置,其特征在于,所述承载盘(831)上固定设置有挡流板(832),所述挡流板(832)沿高度方向远离所述承载盘(831)的一侧高于所述承载盘(831)上的基板本体(400)的上表面,所述挡流板(832)适于在所述承载盘(831)进入至所述干燥腔室(8200)内后介于超临界流体的进口侧与基板本体(400)之间。
7.根据权利要求6所述的基板处理装置,其特征在于,所述吹扫气道(852)包括若干气道孔(8520),若干所述气道孔(8520)在所述分流块(851)靠近所述干燥腔室(8200)的一侧周向均匀间隔设置;
8.根据权利要求4所述的基板处理装置,其特征在于,所述基板处理装置还包括密封驱动块(823),所述密封驱动块(823)设置于所述前密封板(830)和/或所述后密封板(850)沿长度方向远离所述干燥腔室(8200)的一...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘福强,王嘉琪,史霄,张康,吴尚东,
申请(专利权)人:北京晶亦精微科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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