System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种单晶硅片生产成型后的检验装置及方法制造方法及图纸_技高网

一种单晶硅片生产成型后的检验装置及方法制造方法及图纸

技术编号:40580253 阅读:6 留言:0更新日期:2024-03-06 17:23
本发明专利技术公开了一种单晶硅片生产成型后的检验装置及方法,涉及单晶硅片检验技术领域,包括硅片传输模块、硅片检测模块和中央控制模块,本方案设计的单晶硅片生产成型后的检验装置实现了单晶硅片的全自动化检验合分类处理,相较于传统人工检验方法,大大提高了检验效率和准确性,有效降低了人力成本;通过硅片检测模块中的尺寸检测传感器和表面检测传感器,使得硅片的表面缺陷可以被全面检测,而边缘检测传感器的应用,也保证了对边缘缺陷的准确检测,大幅提高了硅片的质量控制水平;通过对中央控制模块中微处理芯片和数据接收单元的应用,使得对硅片的判定标准可以根据不同的质量要求进行灵活调整,适应不同品质要求的硅片检验。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及单晶硅片检验,具体为一种单晶硅片生产成型后的检验装置及方法


技术介绍

1、随着科学技术的发展,太阳能发电技术得到了广泛的应用,而高效、高质量的单晶硅太阳能电池片是实现高转换效率太阳能电池的关键所在。在单晶硅片的生产过程中,要对硅片进行严格的质量检验,以确保其电学性能指标达到技术标准。

2、传统的单晶硅片检验方法多采用人工观察的方式,通过裸眼检查硅片表面及边缘是否有显微裂纹、边缘碎屑等缺陷,并使用外廓尺测量硅片的大小,这样的检验方式主观性大,检验结果容易受个人经验影响,且耗时长、效率低。

3、为实现单晶硅片的自动化检验,一些设备采用了机器视觉系统,可以自动检测硅片表面的缺陷情况,但对硅片的边缘检测不够全面,而边缘缺陷往往最易导致硅片破裂;一些设备使用了自动传送装置,可实现硅片的自动入出料,但无法对硅片的电学性能进行检测。因此,急需一种能够对单晶硅片进行全自动化的检验、分类存放处理的装置,以提高检验效率和硅片质量。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种单晶硅片生产成型后的检验装置及方法,以解决上述提到的问题。

2、为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种单晶硅片生产成型后的检验装置,包括硅片传输模块、硅片检测模块和中央控制模块,所述硅片传输模块由连接服务器、硅片输入单元、硅片抓取单元、硅片传输单元和硅片存放单元组成;

3、所述硅片检测模块由数据传输单元和数据采集单元组成;

4、所述中央控制模块由微处理芯片和数据接收单元组成。

5、基于上述技术特征,本方案设计的单晶硅片生产成型后的检验装置主要由硅片传输模块、硅片检测模块和中央控制模块组成,该硅片传输模块由连接服务器、硅片输入单元、硅片抓取单元、硅片传输单元和硅片存放单元组成,硅片输入单元负责将待检测的硅片整齐排列,硅片抓取单元可以将待检测的硅片逐片抓取并放置到传输导向机构的传送带上,然后通过传输驱动机构驱动传送带将待检测的硅片送到硅片检测模块位置;在硅片检测模块中,尺寸检测传感器、表面检测传感器和边缘检测传感器能够对待检测的硅片进行全方位的自动化检验,确保检验的全面性;随后,利用中央控制模块中的微处理芯片,还能够根据硅片检测模块的检测结果和判定标准对硅片进行判断,将检测完毕的硅片分类为合格品或不合格品,最后,再次利用硅片抓取单元将判断后的硅片放置到相应的存放部内。

6、通过上述可知,本方案设计的单晶硅片生产成型后的检验装置实现了单晶硅片的全自动化检验合分类处理,相较于传统人工检验方法,大大提高了检验效率和准确性,有效降低了人力成本;通过硅片检测模块中的尺寸检测传感器和表面检测传感器,使得硅片的表面缺陷可以被全面检测,而边缘检测传感器的应用,也保证了对边缘缺陷的准确检测,大幅提高了硅片的质量控制水平;通过对中央控制模块中微处理芯片和数据接收单元的应用,使得对硅片的判定标准可以根据不同的质量要求进行灵活调整,适应不同品质要求的硅片检验。

7、优选的,上述一种单晶硅片生产成型后的检验装置中,所述硅片输入单元由传输整流机构和传输驱动机构组成。

8、基于上述技术特征,本方案中的传输整流机构负责将待检硅片从原始状态整齐地排列成规定的形状和方向,确保硅片在后续处理过程中可以被准确抓取和传送,避免了硅片错位或重叠等情况。

9、优选的,上述一种单晶硅片生产成型后的检验装置中,所述硅片抓取单元由抓取执行机构和抓取驱动机构组成。

10、基于上述技术特征,本方案中的硅片抓取单元由抓取执行机构和抓取驱动机构组成,其作用是实现对排列整齐的硅片的自动抓取和放置,将硅片从硅片输入单元的传送带上取下并送至硅片传输单元进行后续的检测和处理。

11、优选的,上述一种单晶硅片生产成型后的检验装置中,所述硅片传输单元由传输导向机构和传输驱动机构组成。

12、基于上述技术特征,本方案中的硅片传输单元由传输导向机构和传输驱动机构组成,其作用是将从硅片抓取单元抓取到的硅片按照指定的路径和速度传送至硅片检测模块,从而进行后续的全自动检验。

13、优选的,上述一种单晶硅片生产成型后的检验装置中,所述硅片存放单元由合格品存放部和不合格品存放部组成。

14、基于上述技术特征,本方案中的硅片存放单元由合格品存放部和不合格品存放部组成,其作用是将经过检验的硅片进行分类存放,以便进一步的生产流程或后续处理。

15、优选的,上述一种单晶硅片生产成型后的检验装置中,所述数据采集单元由尺寸检测传感器、表面检测传感器和边缘检测传感器组成。

16、基于上述技术特征,本方案中的数据采集单元由尺寸检测传感器、表面检测传感器和边缘检测传感器组成,其作用是对经过传输的硅片进行全面的检测和数据采集,以获取硅片的外形尺寸、表面情况以及边缘状态。

17、优选的,上述一种单晶硅片生产成型后的检验装置中,所述微处理芯片与数据接收单元之间还串联有安全预警单元和数据管理单元。

18、基于上述技术特征,本方案通过在微处理芯片与数据接收单元之间串联的安全预警单元和数据管理单元,该安全预警单元负责监测硅片检测过程中可能出现的异常情况或不良事件,在硅片生产成型后的检验过程中,可能会遇到一些意外情况,如硅片损坏、传感器故障、传输错误等,这些情况可能影响检测结果的准确性或甚至损害设备,安全预警单元会实时监测系统运行状态,一旦检测到异常,立即发出警报,通知操作人员及时采取措施,保障设备和产品的安全;该数据管理单元负责对从数据采集单元传输过来的硅片检测数据进行管理和处理,在硅片检验过程中,可能会产生大量的检测数据,这些数据需要妥善存储和整理,数据管理单元负责将数据进行分类、存储和备份,确保数据的安全性和可靠性,此外,数据管理单元还可以对数据进行分析和统计,为生产过程的优化和改进提供参考依据。

19、本专利技术提出的另一种技术方案:一种单晶硅片生产成型检验装置的检测方法,包括以下步骤:

20、s101:首先,将待检测的硅片通过硅片输入单元进行整齐排列。

21、s102:然后,利用硅片抓取单元将待检测的硅片逐片抓取并放置到传输导向机构的传送带上。

22、s103:紧接着,通过运作的传送带将待检测的硅片送到硅片检测模块位置处,利用尺寸检测传感、表面检测传感器和边缘检测传感器对硅片逐片进行检测处理。

23、s104:与此同时,通过中央控制模块中的微处理芯片,可以根据硅片检测模块的检测结果和判定标准对逐片检测的硅片进行判断。

24、s105:最后,再次利用硅片抓取单元将判断后的硅片放置到相对应的存放部内。

25、与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:

26、本方案设计的单晶硅片生产成型后的检验装置实现了单晶硅片的全自动化检验合分类处理,相较于传统人工检验方法,大大提高了检验效率和准确性,有效降低了人力成本;通过硅片检测模块中的尺寸检测传感器和表面检本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种单晶硅片生产成型后的检验装置,包括硅片传输模块(100)、硅片检测模块(200)和中央控制模块(300),其特征在于:所述硅片传输模块(100)由连接服务器(101)、硅片输入单元(102)、硅片抓取单元(103)、硅片传输单元(104)和硅片存放单元(105)组成;

2.根据权利要求1所述的一种单晶硅片生产成型后的检验装置及方法,其特征在于:所述硅片输入单元(102)由传输整流机构(102a)和传输驱动机构(102b)组成。

3.根据权利要求2所述的一种单晶硅片生产成型后的检验装置,其特征在于:所述硅片抓取单元(103)由抓取执行机构(103a)和抓取驱动机构(103b)组成。

4.根据权利要求3所述的一种单晶硅片生产成型后的检验装置,其特征在于:所述硅片传输单元(104)由传输导向机构(104a)和传输驱动机构(104b)组成。

5.根据权利要求4所述的一种单晶硅片生产成型后的检验装置,其特征在于:所述硅片存放单元(105)由合格品存放部(105a)和不合格品存放部(105b)组成。

6.根据权利要求5所述的一种单晶硅片生产成型后的检验装置,其特征在于:所述数据采集单元(202)由尺寸检测传感器(202a)、表面检测传感器(202b)和边缘检测传感器(202c)组成。

7.根据权利要求6所述的一种单晶硅片生产成型后的检验装置,其特征在于:所述微处理芯片(301)与数据接收单元(302)之间还串联有安全预警单元(301a)和数据管理单元(301b)。

8.所述一种如权利要求1-7任意一项所述的单晶硅片生产成型检验装置的检测方法,包括以下步骤:

...

【技术特征摘要】

1.一种单晶硅片生产成型后的检验装置,包括硅片传输模块(100)、硅片检测模块(200)和中央控制模块(300),其特征在于:所述硅片传输模块(100)由连接服务器(101)、硅片输入单元(102)、硅片抓取单元(103)、硅片传输单元(104)和硅片存放单元(105)组成;

2.根据权利要求1所述的一种单晶硅片生产成型后的检验装置及方法,其特征在于:所述硅片输入单元(102)由传输整流机构(102a)和传输驱动机构(102b)组成。

3.根据权利要求2所述的一种单晶硅片生产成型后的检验装置,其特征在于:所述硅片抓取单元(103)由抓取执行机构(103a)和抓取驱动机构(103b)组成。

4.根据权利要求3所述的一种单晶硅片生产成型后的检验装置,其特征在于:所述硅片传输单元(104)由...

【专利技术属性】
技术研发人员:季海斌邹福洲
申请(专利权)人:扬州六如新能源科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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