一种AD采样系统技术方案

本技术公开了一种AD采样系统，包括：AD采样模块、主控模块以及显示模块；所述AD采样模块与所述主控模块连接，用于根据所述主控模块的控制对待测电路进行信号采集；所述显示模块与所述主控模块连接，用于根据所述主控模块的控制显示采集的电压值；所述主控模块还用于采用中位平均滤波算法，对所述AD采样模块采集的数据进行滤波处理。本技术实施例提供的AD采样系统解决了高精度AD采样转换速度慢的技术问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及ad采样，尤其涉及一种ad采样系统。

技术介绍

1、目前大部分ad采样集中在单片机中，作为单片机的内置模块，采样精度低，温漂大。市面上大部分采用的独立芯片的ad采样则精度稍有提高，可能达到16位，但价格较贵，但仍不满足很多工业场景的需求。对于很多电池电压信号采集模块，需要对电压的精度到18位左右，且需要较强的抗干扰能力，很多ad采样转换速度慢，信号采集速度较慢，满足不了实时性要求。

技术实现思路

1、本技术提供了一种ad采样系统，以解决高精度ad采样转换速度慢的技术问题。

2、本技术提供了一种ad采样系统，包括：ad采样模块、主控模块以及显示模块；

3、所述ad采样模块与所述主控模块连接，用于根据所述主控模块的控制对待测电路进行信号采集；

4、所述显示模块与所述主控模块连接，用于根据所述主控模块的控制显示采集的电压值；

5、所述主控模块还用于采用中位平均滤波算法，对所述ad采样模块采集的数据进行滤波处理。

6、可选的，所述ad采样系统还包括基准电压调整模块；

7、所述基准电压调整模块与所述ad采样模块连接，用于为所述ad采样电路提供稳定的基准电压。

8、可选的，所述ad采样系统还包括滤波模块；

9、所述滤波模块与所述ad采样模块连接，用于保证ad采样的精度。

10、可选的，所述基准电压调整模块包括：ref2925芯片。

11、可选的，所述ad采样模块包括ads1256芯片。

12、可选的，所述主控模块包括stm32f103c8t6芯片。

13、可选的，所述显示模块包括液晶显示屏和gt20l16s1y字库芯片。

14、所述stm32f103c8t6芯片包括第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚、第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚、第九引脚；

15、所述液晶显示屏包括：第一片选端、第一复位端、第一数据端、寄存器选择端、第一时钟端、电源端、接地端；

16、所述gt20l16s1y字库芯片包括：电源端、接地端、第二片选端、第二时钟端、第二输出端、第二输入端；

17、所述第一引脚与所述第二片选端连接，所述第二引脚与所述第二时钟端连接，所述第三引脚与所述第二输出端连接，所述第四引脚与所述第二输入端连接；

18、所述第五引脚与所述第一片选端连接，所述第六引脚与所述第一复位端连接，所述第七引脚与所述第一数据端连接，所述第八引脚与所述第一时钟端连接，所述第九引脚与所述寄存器选择端连接。

19、可选的，所述滤波模块包括多个滤波电路，多个所述滤波电路与所述ad采样模块连接；

20、可选的，所述滤波电路包括电阻和电容；

21、所述电阻一端与所述ad采样模块连接，另一端通过带屏蔽层的双绞线与待测电路连接；

22、所述电容一端与所述ad采样模块连接，另一端接地。

23、可选的，所述基准电压调整模块还包括第三电容和第四电容；

24、所述ref2925芯片包括电压输入端、电压输出端以及接地端；

25、所述第三电容的正极连接所述电压输入端，负极接地，所述第三电容的正极还与输入电压连接；

26、所述第四电容的正极连接所述电压输出端，负极接地；

27、所述电压输出端还与所述ad采样模块连接，用于为所述ad采样模块提供稳定的基准电压。

28、本技术实施例提供的ad采样系统包括：ad采样模块、主控模块以及显示模块；所述ad采样模块与所述主控模块连接，用于根据所述主控模块的控制对待测电路进行信号采集；所述显示模块与所述主控模块连接，用于根据所述主控模块的控制显示采集的电压值；所述主控模块还用于采用中位平均滤波算法，对所述ad采样模块采集的数据进行滤波处理。本技术实施例提供的ad采样系统解决了高精度ad采样转换速度慢的技术问题。

29、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本技术的范围。本技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

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【技术保护点】

1.一种AD采样系统，其特征在于，包括：AD采样模块、主控模块以及显示模块；

2.根据权利要求1所述的AD采样系统，其特征在于，所述AD采样系统还包括基准电压调整模块；

3.根据权利要求2所述的AD采样系统，其特征在于，所述基准电压调整模块包括：REF2925芯片。

4.根据权利要求1所述的AD采样系统，其特征在于，所述AD采样模块包括ADS1256芯片。

5.根据权利要求1所述的AD采样系统，其特征在于，所述显示模块包括液晶显示屏和GT20L16S1Y字库芯片。

6.根据权利要求5所述的AD采样系统，其特征在于，所述STM32F103C8T6芯片包括第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚、第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚、第九引脚；

7.根据权利要求3所述的AD采样系统，其特征在于，所述基准电压调整模块还包括第三电容和第四电容；

【技术特征摘要】

1.一种ad采样系统，其特征在于，包括：ad采样模块、主控模块以及显示模块；

2.根据权利要求1所述的ad采样系统，其特征在于，所述ad采样系统还包括基准电压调整模块；

3.根据权利要求2所述的ad采样系统，其特征在于，所述基准电压调整模块包括：ref2925芯片。

4.根据权利要求1所述的ad采样系统，其特征在于，所述ad采样模块包括ads1256芯片。

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【专利技术属性】
技术研发人员：房立存，李跃，杨照坤，
申请(专利权)人：深圳技术大学，
类型：新型
国别省市：