【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及静态存储，尤其涉及一种存储芯片的检测系统及检测方法。
技术介绍
1、随着存储芯片在电视机、机顶盒、平板电脑或者手机等终端产品中的广泛应用，对存储芯片的性能及可靠性要求也越来越高，需要确保存储芯片中的数据稳定可靠。对于不同类型的存储芯片，表征存储芯片特性的指标参数也各有差异，存储芯片特性的优劣直接影响终端产品中存储数据的稳定性及安全可靠性。存储芯片在终端产品上如果出现数据丢失的异常情况时，需要快速的分析出故障原因，而现有技术无法及时准确的获知存储芯片的特性参数等信息。因此，存在待改进之处。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种存储芯片的检测系统及检测方法，以解决现有技术中存在存储芯片发生故障时，无法快速高效分析出故障原因的技术问题。
2、本专利技术提供的一种存储芯片的检测系统，包括：
3、平台测试模块，用以测试待测芯片的工作状态，当所述待测芯片处于正常工作状态时，所述平台测试模块将所述待测芯片的正常数据传递给主机，以生成所述待测芯片正常工作状态下的测试结果；以及
4、分析子板模块，与所述平台测试模块通信连接；
5、其中，当所述待测芯片处于异常工作状态时，所述分析子板模块向所述平台测试模块发送控制指令，使得所述待测芯片处于调试模式，所述分析子板模块将所述待测芯片的异常数据传递给主机，以生成所述待测芯片异常工作状态下的测试结果。
6、在本专利技术的一个实施例中，所述平台测试模块将所述待测芯片的正常数据传递给主机后，
7、在本专利技术的一个实施例中，所述平台测试模块包括：
8、平台接口单元，用以将所述待测芯片的正常数据传递给主机；
9、芯片安装座，用以安装待测芯片；以及
10、中央处理单元，用以当所述待测芯片处于正常工作状态时，向所述待测芯片发送控制指令，获取所述待测芯片上的正常数据，并将所述正常数据传递给所述主机。
11、在本专利技术的一个实施例中，所述平台测试模块还包括：
12、平台移动热点单元，用以当所述待测芯片处于异常工作状态时，接收所述分析子板模块发送的控制指令，还用以将所述待测芯片的正常数据传递给主机；
13、存储单元，用以存储所述主机写入的检测系统映像文件；以及
14、其中，所述中央处理单元还用以接收所述平台移动热点单元上的控制指令，并将所述控制指令传递至所述待测芯片，使得所述待测芯片处于调试模式。
15、在本专利技术的一个实施例中，所述分析子板模块包括：
16、子板接口单元，用以将所述待测芯片的异常数据传递给主机；
17、子板移动热点单元，用以当所述待测芯片处于异常工作状态时，向所述平台测试模块发送控制指令，还用以将所述待测芯片的异常数据传递给主机；以及
18、微控制单元，用以通过所述子板移动热点单元向所述平台测试模块发送控制指令，使得所述待测芯片处于调试模式，还用以通过所述子板移动热点单元获取所述待测芯片上的异常数据。
19、本专利技术还提出一种存储芯片的检测方法，包括：
20、分析子板模块与平台测试模块通信连接；
21、通过所述平台测试模块测试待测芯片的工作状态，并判断所述待测芯片是否故障；
22、当所述待测芯片处于正常工作状态时，所述平台测试模块将所述待测芯片的正常数据传递给主机，以生成所述待测芯片正常工作状态下的测试结果；以及
23、当所述待测芯片处于异常工作状态时，所述分析子板模块向所述平台测试模块发送控制指令，使得所述待测芯片处于调试模式；
24、通过所述分析子板模块将所述待测芯片的异常数据传递给主机，以生成所述待测芯片异常工作状态下的测试结果。
25、在本专利技术的一个实施例中，所述当所述待测芯片处于正常工作状态时，所述平台测试模块将所述待测芯片的正常数据传递给主机的步骤，包括：
26、所述平台测试模块向所述待测芯片发送控制指令，使得所述待测芯片处于正常模式；
27、所述平台测试模块获取所述待测芯片响应的正常数据；
28、所述平台测试模块利用平台移动热点单元或者平台接口单元，将所述正常数据传递给主机。
29、在本专利技术的一个实施例中，所述当所述待测芯片处于异常工作状态时，所述分析子板模块向所述平台测试模块发送控制指令，使得所述待测芯片处于调试模式的步骤，包括：
30、所述分析子板模块通过子板移动热点单元，向所述平台测试模块发送控制指令；
31、所述平台测试模块接收所述控制指令，将所述待测芯片设置成调试模式，并获取所述待测芯片响应的异常数据。
32、在本专利技术的一个实施例中，所述通过所述分析子板模块将所述待测芯片的异常数据传递给主机，以生成所述待测芯片异常工作状态下的测试结果的步骤，包括：
33、所述平台测试模块通过平台移动热点单元，将所述异常数据发送至所述分析子板模块；
34、所述分析子板模块通过子板移动热点单元或者子板接口单元，将所述异常数据传递给主机。
35、在本专利技术的一个实施例中，所述平台测试模块将所述待测芯片的正常数据传递给主机，或者通过所述分析子板模块将所述待测芯片的异常数据传递给主机的步骤后，包括：
36、生成所述待测芯片关于电压值的分布特性曲线；
37、在所述分布特性曲线中，将横坐标表征为电压值，将纵坐标表征为电压值对应闪存基本存储单元的数量，其中，分布特性曲线表征为所述待测芯片一根字线上的闪存基本存储单元的数量合并在一起的分布情况。
38、本专利技术的有益效果：本专利技术提出的一种存储芯片的检测系统及检测方法，本专利技术可以在不解焊的情况下，可获取无法实现错误检查和纠正的原因，从而避免了因高温引起的内部电子的变化导致对分析造错的影响。
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1.一种存储芯片的检测系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的存储芯片的检测系统，其特征在于，所述平台测试模块将所述待测芯片的正常数据传递给主机后，或者所述分析子板模块将所述待测芯片的异常数据传递给主机后，生成所述待测芯片关于电压值的分布特性数据。
3.根据权利要求1所述的存储芯片的检测系统，其特征在于，所述平台测试模块包括：
4.根据权利要求3所述的存储芯片的检测系统，其特征在于，所述平台测试模块还包括：
5.根据权利要求1所述的存储芯片的检测系统，其特征在于，所述分析子板模块包括：
6.一种存储芯片的检测方法，其特征在于，包括：
7.根据权利要求6所述的存储芯片的检测方法，其特征在于，所述当所述待测芯片处于正常工作状态时，所述平台测试模块将所述待测芯片的正常数据传递给主机的步骤，包括：
8.根据权利要求6所述的存储芯片的检测方法，其特征在于，所述当所述待测芯片处于异常工作状态时，所述分析子板模块向所述平台测试模块发送控制指令，使得所述待测芯片处于调试模式的步骤，包括：
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10.根据权利要求6所述的存储芯片的检测方法，其特征在于，所述平台测试模块将所述待测芯片的正常数据传递给主机，或者通过所述分析子板模块将所述待测芯片的异常数据传递给主机的步骤后，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种存储芯片的检测系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的存储芯片的检测系统，其特征在于，所述平台测试模块将所述待测芯片的正常数据传递给主机后，或者所述分析子板模块将所述待测芯片的异常数据传递给主机后，生成所述待测芯片关于电压值的分布特性数据。
3.根据权利要求1所述的存储芯片的检测系统，其特征在于，所述平台测试模块包括：
4.根据权利要求3所述的存储芯片的检测系统，其特征在于，所述平台测试模块还包括：
5.根据权利要求1所述的存储芯片的检测系统，其特征在于，所述分析子板模块包括：
6.一种存储芯片的检测方法，其特征在于，包括：
7.根据权利要求6所述的存储芯片的检测方法，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：余玉，许展榕，
申请(专利权)人：合肥康芯威存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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