System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种存储颗粒的测试方法、系统、电子设备及存储介质技术方案_技高网

一种存储颗粒的测试方法、系统、电子设备及存储介质技术方案

技术编号:41226167 阅读:4 留言:0更新日期:2024-05-09 23:44
本发明专利技术提供一种存储颗粒的测试方法、系统、电子设备及存储介质,测试方法包括通过开发板上操作系统的设备控制接口指令,获取存储颗粒输入输出通道的接口信息,其中,存储颗粒安装于开发板上;通过主机上的交叉编译程序,对接口信息进行编译生成中间件程序;将中间件程序加载到开发板上;在主机上运行测试程序,测试程序调用开发板上的中间件程序,以解析出测试程序在存储颗粒上对应的输入输出接口;通过开发板上操作系统的设备控制接口指令,对存储颗粒的输入输出接口进行调用,并对存储颗粒进行测试程序关联的测试,生成测试信息。本发明专利技术可快速高效的解决对存储颗粒进行重新开卡、调试的需求,提高了对存储颗粒的测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及静态存储,尤其涉及一种存储颗粒的测试方法、系统、电子设备及存储介质


技术介绍

1、存储颗粒是嵌入式系统芯片的概念在存储行业的具体应用。无论是系统芯片还是存储颗粒,都是通过在单一芯片中嵌入软件,以实现多功能、高性能以及对多种协议、多种硬件和不同应用的支持。存储颗粒广泛应用于计算机、移动设备、物联网等领域,用于存储各种数据,如操作系统、应用程序、音乐、视频、照片等。

2、在存储颗粒焊接到开发板之后,便形成具有特定功能的存储设备。如果要对开发板上的存储颗粒再次进行测试,需要先将存储颗粒从开发板上拆下,放到专用的芯片测试座上进行调试工作,存在效率低下、费时费力的缺点。因此,存在待改进之处。


技术实现思路

1、本专利技术提供一种存储颗粒的测试方法、装置、电子设备及存储介质,以解决现有技术中存在对存储颗粒的测试效率低下、费时费力的技术问题。

2、本专利技术提供的一种存储颗粒的测试方法,包括:

3、通过开发板上操作系统的设备控制接口指令,获取存储颗粒输入输出通道的接口信息,其中,所述存储颗粒安装于所述开发板上;

4、通过主机上的交叉编译程序,对所述接口信息进行编译生成中间件程序;

5、将所述中间件程序加载到所述开发板上;

6、在所述主机上运行测试程序,所述测试程序调用所述开发板上的中间件程序,以解析出所述测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口;

7、通过所述开发板上操作系统的设备控制接口指令,对所述存储颗粒的输入输出接口进行调用,并对所述存储颗粒进行所述测试程序关联的测试,生成测试信息。

8、在本专利技术的一个实施例中,所述接口信息包括设备节点、结构体和数据流,其中,所述设备节点包括所述开发板上操作系统的所有文件、驱动程序对应的设备节点,所述结构体封装所述存储颗粒的命令码和所述存储颗粒的数据,所述数据流表示为用于传输所述存储颗粒对应的读取、写入的数据。

9、在本专利技术的一个实施例中,所述存储颗粒的命令码包括区别读写区、数据大小区、幻数区和区别序号区,所述区别读写区用以识别所述存储颗粒接收的读取/写入命令,所述数据大小区用以表示设备控制接口指令中的补充参数变量传送的内存大小,所述幻数区用以与其它存储颗粒对应的设备控制接口指令进行区分,所述区别序号区用以表示读取/写入命令的命令顺序序号。

10、在本专利技术的一个实施例中,所述在所述主机上运行测试程序,所述测试程序调用所述开发板上的中间件程序,以解析出所述测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口的步骤,包括:

11、接收当前用户输入的对所述存储颗粒进行固件开卡的命令,在所述主机上生成固件开卡的测试程序;

12、在所述主机上运行固件开卡的测试程序,固件开卡的测试程序调用所述开发板上的中间件程序,以解析出固件开卡的测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口。

13、在本专利技术的一个实施例中,所述在所述主机上运行固件开卡的测试程序,固件开卡的测试程序调用所述开发板上的中间件程序,以解析出固件开卡的测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口的步骤之后,包括:

14、所述主机向所述开发板发送固件开卡的测试程序相应的测试指令;

15、所述开发板通过其操作系统的设备控制接口指令,对所述存储颗粒的输入输出接口进行调用,向所述存储颗粒发送固件开卡的测试指令,生成所述存储颗粒固件开卡的测试信息。

16、在本专利技术的一个实施例中,所述在所述主机上运行测试程序,所述测试程序调用所述开发板上的中间件程序,以解析出所述测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口的步骤,包括:

17、接收当前用户输入的对所述存储颗粒进行固件调试的命令,在所述主机上生成固件调试的测试程序;

18、在所述主机上运行固件调试的测试程序,固件调试的测试程序调用所述开发板上的中间件程序,以解析出固件调试的测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口。

19、在本专利技术的一个实施例中,所述在所述主机上运行固件调试的测试程序,固件调试的测试程序调用所述开发板上的中间件程序,以解析出固件调试的测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口的步骤之后,包括:

20、所述主机向所述开发板发送固件调试的测试程序相应的测试指令;

21、所述开发板通过其操作系统的设备控制接口指令,对所述存储颗粒的输入输出接口进行调用,向所述存储颗粒发送固件调试的测试指令,生成所述存储颗粒固件调试的测试信息。

22、本专利技术还提出一种存储颗粒的测试系统,包括:

23、获取单元,用以通过开发板上操作系统的设备控制接口指令,获取存储颗粒输入输出通道的接口信息,其中,所述存储颗粒安装于所述开发板上;

24、编译单元,用以通过主机上的交叉编译程序,对所述接口信息进行编译生成中间件程序;

25、加载单元,用以将所述中间件程序加载到所述开发板上;

26、调用单元,用以在所述主机上运行测试程序,所述测试程序调用所述开发板上的中间件程序,以解析出所述测试程序对所述存储颗粒进行测试的输入输出接口;以及

27、测试单元,用以通过所述开发板上操作系统的设备控制接口指令,对所述存储颗粒的输入输出接口进行调用,并对所述存储颗粒进行所述测试程序关联的测试,生成测试信息。

28、本专利技术还提出一种电子设备,包括处理器、存储器和通信总线;所述通信总线用于将所述处理器和存储器连接;所述处理器用于执行所述存储器中存储的计算机程序,以实现如上述任一项所述的存储颗粒的测试方法。

29、本专利技术还提出一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序用于使计算机执行如上述任一项所述的存储颗粒的测试方法。

30、本专利技术的有益效果:本专利技术提出的一种存储颗粒的测试方法、装置、电子设备及存储介质,在将存储颗粒安装到开发板的场景下,可快速高效的解决对存储颗粒进行重新开卡、调试的需求,提高了对存储颗粒的测试效率。

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【技术保护点】

1.一种存储颗粒的测试方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的存储颗粒的测试方法,其特征在于,所述接口信息包括设备节点、结构体和数据流,其中,所述设备节点包括所述开发板上操作系统的所有文件、驱动程序对应的设备节点,所述结构体封装所述存储颗粒的命令码和所述存储颗粒的数据,所述数据流表示为用于传输所述存储颗粒对应的读取、写入的数据。

3.根据权利要求2所述的存储颗粒的测试方法,其特征在于,所述存储颗粒的命令码包括区别读写区、数据大小区、幻数区和区别序号区,所述区别读写区用以识别所述存储颗粒接收的读取/写入命令,所述数据大小区用以表示设备控制接口指令中的补充参数变量传送的内存大小,所述幻数区用以与其它存储颗粒对应的设备控制接口指令进行区分,所述区别序号区用以表示读取/写入命令的命令顺序序号。

4.根据权利要求1所述的存储颗粒的测试方法,其特征在于,所述在所述主机上运行测试程序,所述测试程序调用所述开发板上的中间件程序,以解析出所述测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口的步骤,包括:

5.根据权利要求4所述的存储颗粒的测试方法,其特征在于,所述在所述主机上运行固件开卡的测试程序,固件开卡的测试程序调用所述开发板上的中间件程序,以解析出固件开卡的测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口的步骤之后,包括:

6.根据权利要求1所述的存储颗粒的测试方法,其特征在于,所述在所述主机上运行测试程序,所述测试程序调用所述开发板上的中间件程序,以解析出所述测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口的步骤,包括:

7.根据权利要求6所述的存储颗粒的测试方法,其特征在于,所述在所述主机上运行固件调试的测试程序,固件调试的测试程序调用所述开发板上的中间件程序,以解析出固件调试的测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口的步骤之后,包括:

8.一种存储颗粒的测试系统,其特征在于,包括:

9.一种电子设备,其特征在于,包括处理器、存储器和通信总线;所述通信总线用于将所述处理器和存储器连接;所述处理器用于执行所述存储器中存储的计算机程序,以实现如权利要求1-7任一项所述的存储颗粒的测试方法。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,其上存储有计算机程序,所述计算机程序用于使计算机执行如权利要求1-7任一项所述的存储颗粒的测试方法。

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【技术特征摘要】

1.一种存储颗粒的测试方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的存储颗粒的测试方法,其特征在于,所述接口信息包括设备节点、结构体和数据流,其中,所述设备节点包括所述开发板上操作系统的所有文件、驱动程序对应的设备节点,所述结构体封装所述存储颗粒的命令码和所述存储颗粒的数据,所述数据流表示为用于传输所述存储颗粒对应的读取、写入的数据。

3.根据权利要求2所述的存储颗粒的测试方法,其特征在于,所述存储颗粒的命令码包括区别读写区、数据大小区、幻数区和区别序号区,所述区别读写区用以识别所述存储颗粒接收的读取/写入命令,所述数据大小区用以表示设备控制接口指令中的补充参数变量传送的内存大小,所述幻数区用以与其它存储颗粒对应的设备控制接口指令进行区分,所述区别序号区用以表示读取/写入命令的命令顺序序号。

4.根据权利要求1所述的存储颗粒的测试方法,其特征在于,所述在所述主机上运行测试程序,所述测试程序调用所述开发板上的中间件程序,以解析出所述测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口的步骤,包括:

5.根据权利要求4所述的存储颗粒的测试方法,其特征在于,所述在所述主机上运行...

【专利技术属性】
技术研发人员:袁学涛赵啟鹏
申请(专利权)人:合肥康芯威存储技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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