压接器件的可靠性测试方法、装置、设备以及存储介质制造方法及图纸

技术编号:40560233 阅读:28 留言:0更新日期:2024-03-05 19:22
本发明专利技术公开了一种压接器件的可靠性测试方法、装置、设备以及存储介质,所述方法包括:获取待测试压接器件的电压、电流以及开关频率的时变数据;获取每个芯片子模组所承受的电‑热‑力分布情况;确定薄弱芯片子模组的电‑热‑力分布情况;建立单芯片子模组对应的多物理场有限元仿真模型,在所述多物理场有限元仿真模型中实现所述薄弱芯片子模组的电‑热‑力分布等效,以使预设的功率循环实验装置对所述薄弱单芯片子模组进行功率循环实验,得到所述薄弱单芯片子模组的功率循环实验寿命;获取待测试压接器件的测试寿命,对所述待测试压接器件的可靠性进行分析。通过本发明专利技术可以降低了压接器件的可靠性测试实验难度及器件成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电力电子器件可靠性测试,尤其涉及一种压接器件的可靠性测试方法、装置、设备以及存储介质


技术介绍

1、在我国主要的电力消费中心与可再生能源的位置具有分散性的背景下,大力发展建设成本更低、送电容量更大的远距离柔性直流输电系统是需求。其中,换流阀是柔性直流输电系统的核心组件,其内部主要组成部件功率器件的高失效率严重制约着输电系统的安全稳定运行。厘清换流阀内部组成部件如功率器件的失效演化机理,获取可表征功率器件失效老化情况的端部参数是保证输电系统长期安全可靠运行的必然需求。

2、目前柔性直流输电系统流阀所使用的压接型igbt器件,其内部是由数十个芯片子模组构成一个密封的整体,在密封的整体内要想对所述压接型igbt器件进行可靠性测试,开展完整模块的加速老化试验存在内部参数获取困难、难以分析器件薄弱部分失效情况的问题。


技术实现思路

1、本专利技术提供了一种压接器件的可靠性测试方法、装置、设备以及存储介质,以解决现有技术难以分析压接器件薄弱部分失效情况的技术问题。

<p>2、为了解决上述本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种压接器件的可靠性测试方法,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的压接器件的可靠性测试方法,其特征在于,所述获取所述待测试压接器件中每个芯片子模组所承受的电-热-力分布情况,包括:

3.如权利要求2所述的压接器件的可靠性测试方法,其特征在于,所述芯片开关损耗,通过以下公式进行计算:

4.如权利要求1所述的压接器件的可靠性测试方法,其特征在于,所述确定所述待测试压接器件中寿命最短的芯片子模组作为薄弱芯片子模组,继而获取所述薄弱芯片子模组的电-热-力分布情况,包括:

5.如权利要求4所述的压接器件的可靠性测试方法,其特征在于,所述建立...

【技术特征摘要】

1.一种压接器件的可靠性测试方法,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的压接器件的可靠性测试方法,其特征在于,所述获取所述待测试压接器件中每个芯片子模组所承受的电-热-力分布情况,包括:

3.如权利要求2所述的压接器件的可靠性测试方法,其特征在于,所述芯片开关损耗,通过以下公式进行计算:

4.如权利要求1所述的压接器件的可靠性测试方法,其特征在于,所述确定所述待测试压接器件中寿命最短的芯片子模组作为薄弱芯片子模组,继而获取所述薄弱芯片子模组的电-热-力分布情况,包括:

5.如权利要求4所述的压接器件的可靠性测试方法,其特征在于,所述建立所述待测试压接器件中单芯片子模组对应的多物理场有限元仿真模型,并根据所述薄弱芯片子模组的电-热-力分布情况,在所述多物理场有限元仿真模型中实现所述薄弱芯片子模组的电-热-力分布等效,包括:

6.如权利要求1所述的压接器件的可靠性测试方法,其特征在于,所述根据所述薄弱芯片...

【专利技术属性】
技术研发人员:李盈马凯谭令其雷二涛赖伟李辉刘安彬
申请(专利权)人:广东电网有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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